[發明專利]RTS噪聲抑制裝置及圖像傳感器

有效

• 申請號: 202110587102.8
• 申請日: 2021-05-27
• 公開（公告）號: CN113301277B
• 公開（公告）日: 2022-12-06
• 發明（設計）人: 張琦
• 申請（專利權）人: 銳芯微電子股份有限公司
• 主分類號: H04N5/357
• 分類號: H04N5/357;H04N5/374;H04N5/378
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 張鳳偉;吳敏

1.一種RTS噪聲抑制裝置，其特征在于，包括：RTS噪聲識別單元及控制單元；其中：

所述RTS噪聲識別單元，與像素結構的輸出端連接，基于所述像素結構當前輸出信號的幅度值，識別所述像素結構在讀出過程中是否發生RTS噪聲，并輸出識別結果信號；

所述控制單元，與所述RTS噪聲識別單元及所述像素結構的讀出量化電路連接，適于當所述像素結構在讀出過程中發生RTS噪聲，對所述像素結構的量化結果進行替換，以獲得所述像素結構處理后的圖像數據。

2.如權利要求1所述的RTS噪聲抑制裝置，其特征在于，所述RTS噪聲識別單元，包括：至少一個比較電路；其中：

所述比較電路，與所述像素結構的輸出端連接，適于在獲得所述像素結構的輸出信號時，基于所述輸出信號的幅度值，識別所述像素結構在讀出過程中是否發生RTS噪聲，并輸出識別結果信號。

3.如權利要求2所述的RTS噪聲抑制裝置，其特征在于，所述比較電路，適于獲取像素結構于第一復位過程中輸出的第一復位信號，以及獲取所述像素結構于第二復位過程中輸出的第二復位信號，并基于所述第一復位信號及所述第二復位信號之間的電壓差，判斷所述像素結構在讀出過程中是否發生RTS噪聲。

4.如權利要求2所述的RTS噪聲抑制裝置，其特征在于，所述比較電路，適于獲取所述像素結構輸出的第三復位信號，以及獲取所述像素結構輸出的第一曝光信號，并基于所述第三復位信號及所述第一曝光信號中的至少一個，判斷所述像素結構在讀出過程中是否發生RTS噪聲；

其中，當第一復位過程早于第一曝光過程時，所述第三復位信號為第一復位過程結束后且第一曝光過程開始前輸出的復位信號，所述第一曝光信號為所述第一曝光過程結束后且所述像素結構數據讀出結束前輸出的曝光信號；

當第一復位過程晚于第一曝光過程時，所述第三復位信號為第一復位過程結束后且所述像素結構數據讀出結束前輸出的復位信號，所述第一曝光信號為所述第一曝光過程結束后且所述第一復位過程開始前輸出的曝光信號。

5.如權利要求2所述的RTS噪聲抑制裝置，其特征在于，所述RTS噪聲識別單元中，所述比較電路的數量，與所述像素結構輸出電壓的離散狀態數量相關。

6.如權利要求3或4所述的RTS噪聲抑制裝置，其特征在于，所述比較電路包括：第一電容、比較器及第一開關；其中：

所述比較器，具有第一輸入端及第二輸入端，所述第一輸入端通過所述第一電容與所述第一開關連接；所述第二輸入端適于輸入參考電壓；

所述第一開關，連接于所述比較器的第一輸入端及輸出端之間，適于在第一開關控制信號的控制下，對所述比較器執行復位操作。

7.如權利要求3或4所述的RTS噪聲抑制裝置，其特征在于，當所述RTS噪聲識別單元包括兩個以上所述比較電路時，所述RTS噪聲識別單元還包括：

邏輯運算電路，與所述兩個以上比較電路的輸出端連接，適于在所述兩個以上比較電路中任意一個識別出RTS噪聲時，對所述兩個以上比較電路的輸出進行邏輯運算，產生所述識別結果信號。

8.如權利要求7所述的RTS噪聲抑制裝置，其特征在于，所述邏輯運算電路包括：反相器及與所述反相器連接的或非門電路；其中：

所述反相器，一端與所述RTS噪聲識別單元中一個所述比較電路的輸出端連接，另一端與所述或非門電路的輸入端連接；

所述或非門電路的另一輸入端，與所述RTS噪聲識別單元中另一所述比較電路連接；

所述或非門電路的輸出端輸出所述識別結果信號。

9.如權利要求1所述的RTS噪聲抑制裝置，其特征在于，所述RTS噪聲識別單元還包括：鎖存器，適于鎖存所述識別結果信號。

10.如權利要求1所述的RTS噪聲抑制裝置，其特征在于，所述控制單元適于當所述像素結構在讀出過程中發生RTS噪聲時，基于所述像素結構周圍預設像素結構的量化結果，替換所述像素結構的量化結果。

11.一種圖像傳感器，其特征在于，包括像素陣列及權利要求1至10任一項所述的RTS噪聲抑制裝置，其中：

所述像素陣列中同一列的像素結構共用同一所述RTS噪聲識別單元，所述控制單元與像素陣列中各列像素結構對應的所述RTS噪聲識別單元連接。