[發明專利]一種刀庫定位精度的測量方法及裝置在審
| 申請號: | 202110582905.4 | 申請日: | 2021-05-27 |
| 公開(公告)號: | CN113432530A | 公開(公告)日: | 2021-09-24 |
| 發明(設計)人: | 張啟華;劉友;張保全 | 申請(專利權)人: | 北京精雕科技集團有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/00 | 分類號: | G01B11/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 102308 北京*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 定位 精度 測量方法 裝置 | ||
1.一種刀庫定位精度的測量方法,其特征在于,包括:
步驟一:在刀庫上選取m個測量點,并定義目標測量位置和往返測量次數,其中目標測量位置的理論坐標為P,往返測量次數為n;
步驟二:刀庫往返運動,依次對各測量點運動至目標測量位置的實際坐標進行測量;
步驟三:依據測量結果計算出刀庫的各項定位精度,包括:反向間隙B、重復定位精度R和定位精度A。
2.根據權利要求1所述的一種刀庫定位精度的測量方法,其特征在于,所述步驟二采用非接觸式測量方法,即利用機器視覺測量系統進行拍照識別。
3.根據權利要求2所述的一種刀庫定位精度的測量方法,其特征在于,所述步驟二的具體操作方法是:
步驟二-1:刀庫第j次正向運動時(其中j=1,2,……,n),m個測量點從前往后依次經過目標測量位置,使用機器視覺測量系統依次對運動至目標測量位置的第i個測量點進行拍照識別(其中i=1,2,……,m),記錄其在目標測量位置的實際位置坐標為Pij↑,然后繼續對下一個運動至目標測量位置的測量點進行拍照識別,至m個測量點全部識別完畢;
步驟二-2:刀庫反向運動,m個測量點從后往前依次經過目標測量位置,使用機器視覺測量系統依次對運動至目標測量位置的第i個測量點進行拍照識別(其中i=m,……,2,1),記錄其在目標測量位置的實際位置坐標為Pij↓,然后繼續對下一個運動至目標測量位置的測量點進行拍照識別,至m個測量點全部識別完畢;
步驟二-3:判斷刀庫往返運動次數是否達到n次,即j是否等于n,若是,則測量完畢;若否,則返回步驟二-1。
4.根據權利要求3所述的一種刀庫定位精度的測量方法,其特征在于,步驟三中所述的反向間隙B取各測量點反向差值的最大值,即:
其中,Bi是第i個測量點的反向差值;是刀庫正向運動時,第i個測量點的平均位置偏差;是刀庫反向運動時,第i個測量點的平均位置偏差,即:
即刀庫的反向間隙B為:
。
5.根據權利要求4所述的一種刀庫定位精度的測量方法,其特征在于,步驟三中所述的定位精度A和重復定位精度R的計算方法為:
其中,Bi是第i個測量點的反向差值;是刀庫正向運動時,第i個測量點的平均位置偏差;是刀庫反向運動時,第i個測量點的平均位置偏差;Si↑為刀庫正向運動時,第i個測量點重復定位精度的估算值;Si↓是刀庫反向運動時,第i個測量點重復定位精度的估算值。
6.根據權利要求5所述的一種刀庫定位精度的測量方法,其特征在于,所述刀庫正向運動時,第i個測量點重復定位精度的估算值Si↑,以及刀庫反向運動時,第i個測量點重復定位精度的估算值Si↓的估算方法如下:
。
7.一種刀庫定位精度的測量裝置,其特征在于,包括測量平臺、刀庫安裝架、被測刀庫、測量系統以及控制系統,刀庫安裝架固定于測量平臺上,被測刀庫安裝于刀庫安裝架上,由控制系統控制其運動;測量系統對應于被測刀庫安裝于測量平臺上,由控制系統控制其執行測量動作,并將測量數據反饋給控制系統。
8.根據權利要求7所述的一種刀庫定位精度的測量裝置,其特征在于,所述刀庫安裝架數量可以是一個或多個,每個刀庫安裝架周圍均設置一個或多個測量系統,或者多個刀庫安裝架只對應設置一個或多個可移動安裝的測量系統,可在各個刀庫安裝架之間移動;所述多個測量系統可對被測刀庫不同的目標測量位置進行測量。
9.根據權利要求8所述的一種刀庫定位精度的測量裝置,其特征在于,所述多個刀庫安裝架上均安裝被測刀庫,可依次執行測量動作,也可同時執行測量動作。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于北京精雕科技集團有限公司,未經北京精雕科技集團有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110582905.4/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





