[發(fā)明專利]一種基于雙通道特征比對模型的PCB板缺陷檢測方法及裝置

在審

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• 申請日: 2021-05-26
• 公開（公告）號: CN113379685A
• 公開（公告）日: 2021-09-10
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳東海;羅炳軍
• 申請（專利權(quán)）人: 廣東炬森智能裝備有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06K9/62;G06N3/04
• 代理公司: 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 44202
• 代理人: 郭浩輝;顏希文

1.一種基于雙通道特征比對模型的PCB板缺陷檢測方法，其特征在于，包括：

對多個缺陷PCB板圖像及每一所述缺陷PCB板圖像對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)PCB板圖像進(jìn)行預(yù)處理，將預(yù)處理后的一所述缺陷PCB板圖像和對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)PCB板圖像作為一組數(shù)據(jù)收集于訓(xùn)練數(shù)據(jù)集或測試數(shù)據(jù)集；

構(gòu)建基于深度可分離卷積的雙通道特征比對模型，并采用隨機(jī)梯度下降算法和學(xué)習(xí)率逐步遞減的訓(xùn)練方式，利用所述訓(xùn)練數(shù)據(jù)集中的缺陷PCB板圖像和對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)PCB板圖像訓(xùn)練所述雙通道特征比對模型；

通過訓(xùn)練好的所述雙通道特征比對模型，將所述測試數(shù)據(jù)集中的缺陷PCB板圖像與對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)PCB板圖像進(jìn)行特征比對，并根據(jù)特征比對結(jié)果判斷所述缺陷PCB板圖像是否為虛假缺陷PCB板圖像。

2.如權(quán)利要求1所述的基于雙通道特征比對模型的PCB板缺陷檢測方法，其特征在于，在所述將預(yù)處理后的一所述缺陷PCB板圖像和對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)PCB板圖像作為一組數(shù)據(jù)收集于訓(xùn)練數(shù)據(jù)集之前，還包括：

對所述缺陷PCB板圖像進(jìn)行真假缺陷標(biāo)記。

3.如權(quán)利要求1所述的基于雙通道特征比對模型的PCB板缺陷檢測方法，其特征在于，所述雙通道特征比對模型包括2個單通道網(wǎng)絡(luò)、特征比對層、全連接層、輸出層；其中，每一所述單通道網(wǎng)絡(luò)均包括輸入層、6個深度可分離卷積層、3個池化層，一所述單通道網(wǎng)絡(luò)的輸入層用于輸入所述缺陷PCB板圖像，另一所述單通道網(wǎng)絡(luò)的輸入層用于輸入所述標(biāo)準(zhǔn)PCB板圖像。

4.如權(quán)利要求3所述的基于雙通道特征比對模型的PCB板缺陷檢測方法，其特征在于，所述雙通道特征比對模型還包括Drop out層。

5.如權(quán)利要求1所述的基于雙通道特征比對模型的PCB板缺陷檢測方法，其特征在于，所述預(yù)處理包括圖像大小壓縮、圖像尺寸裁剪、圖像標(biāo)準(zhǔn)化處理中的一種或多種。

6.一種基于雙通道特征比對模型的PCB板缺陷檢測裝置，其特征在于，包括：

數(shù)據(jù)處理模塊，用于對多個缺陷PCB板圖像及每一所述缺陷PCB板圖像對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)PCB板圖像進(jìn)行預(yù)處理，將預(yù)處理后的一所述缺陷PCB板圖像和對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)PCB板圖像作為一組數(shù)據(jù)收集于訓(xùn)練數(shù)據(jù)集或測試數(shù)據(jù)集；

模型訓(xùn)練模塊，用于構(gòu)建基于深度可分離卷積的雙通道特征比對模型，并采用隨機(jī)梯度下降算法和學(xué)習(xí)率逐步遞減的訓(xùn)練方式，利用所述訓(xùn)練數(shù)據(jù)集中的缺陷PCB板圖像和對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)PCB板圖像訓(xùn)練所述雙通道特征比對模型；

缺陷檢測模塊，用于通過訓(xùn)練好的所述雙通道特征比對模型，將所述測試數(shù)據(jù)集中的缺陷PCB板圖像與對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)PCB板圖像進(jìn)行特征比對，并根據(jù)特征比對結(jié)果判斷所述缺陷PCB板圖像是否為虛假缺陷PCB板圖像。

7.如權(quán)利要求6所述的基于雙通道特征比對模型的PCB板缺陷檢測裝置，其特征在于，所述數(shù)據(jù)處理模塊，還用于在所述將預(yù)處理后的一所述缺陷PCB板圖像和對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)PCB板圖像作為一組數(shù)據(jù)收集于訓(xùn)練數(shù)據(jù)集之前，對所述缺陷PCB板圖像進(jìn)行真假缺陷標(biāo)記。

8.如權(quán)利要求6所述的基于雙通道特征比對模型的PCB板缺陷檢測裝置，其特征在于，所述雙通道特征比對模型包括2個單通道網(wǎng)絡(luò)、特征比對層、全連接層、輸出層；其中，每一所述單通道網(wǎng)絡(luò)均包括輸入層、6個深度可分離卷積層、3個池化層，一所述單通道網(wǎng)絡(luò)的輸入層用于輸入所述缺陷PCB板圖像，另一所述單通道網(wǎng)絡(luò)的輸入層用于輸入所述標(biāo)準(zhǔn)PCB板圖像。

9.如權(quán)利要求8所述的基于雙通道特征比對模型的PCB板缺陷檢測裝置，其特征在于，所述雙通道特征比對模型還包括Drop out層。

10.如權(quán)利要求6所述的基于雙通道特征比對模型的PCB板缺陷檢測裝置，其特征在于，所述預(yù)處理包括圖像大小壓縮、圖像尺寸裁剪、圖像標(biāo)準(zhǔn)化處理中的一種或多種。