[發(fā)明專利]集成電路及其形成方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110579205.X | 申請(qǐng)日: | 2021-05-26 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113363235A | 公開(公告)日: | 2021-09-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 林建宏;張新君;謝明宏;王明義;盧胤龍 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 臺(tái)灣積體電路制造股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L23/522 | 分類號(hào): | H01L23/522;H01L23/528;H01L21/768 |
| 代理公司: | 北京德恒律治知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11409 | 代理人: | 章社杲;李偉 |
| 地址: | 中國臺(tái)*** | 國省代碼: | 臺(tái)灣;71 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 集成電路 及其 形成 方法 | ||
1.一種集成電路(IC),包括:
襯底,具有前表面和與所述前表面相對(duì)的后表面;
半導(dǎo)體器件,具有設(shè)置在襯底上的第一表面和與所述第一表面相對(duì)的第二表面,其中,所述第一表面設(shè)置在所述襯底的所述前表面上方,并且所述第二表面設(shè)置在所述襯底的所述后表面上方;
第一互連結(jié)構(gòu)和第二互連結(jié)構(gòu),分別設(shè)置在所述半導(dǎo)體器件的所述第一表面和所述第二表面上;
第一層間電介質(zhì)(ILD)層和第二ILD層,分別設(shè)置在所述襯底的所述前表面和所述后表面上;以及
貫穿電路通孔(TCV),設(shè)置在所述第一互連結(jié)構(gòu)和所述第二互連結(jié)構(gòu)、所述第一ILD層和所述第二ILD層以及所述襯底內(nèi),
其中,所述TCV與所述半導(dǎo)體器件由所述襯底的部分以及所述第一ILD層和所述第二ILD層的部分間隔開,以及
其中,設(shè)置在所述襯底的所述前表面上方的所述TCV的第一端連接到所述第一互連結(jié)構(gòu)的導(dǎo)線,并且設(shè)置在所述襯底的所述后表面上方的所述TCV的第二端連接到所述第二互連結(jié)構(gòu)的導(dǎo)線。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的IC,其中,所述TCV和所述第二互連結(jié)構(gòu)的所述導(dǎo)線是雙鑲嵌結(jié)構(gòu)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的IC,其中,所述TCV的所述第二端的直徑大于所述TCV的所述第一端的直徑。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的IC,其中,所述TCV的所述第一端的直徑與所述第一互連結(jié)構(gòu)的所述導(dǎo)線的寬度之間的比率在約1:1至約1:10的范圍內(nèi)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的IC,其中,,所述TCV的所述第二端的直徑與所述第二互連結(jié)構(gòu)的所述導(dǎo)線的寬度之間的比率在約1:1至約1:10的范圍內(nèi)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的IC,其中,所述TCV的所述第二端的直徑與所述半導(dǎo)體器件的接觸件結(jié)構(gòu)的寬度之間的比率在約1:1至約50:1的范圍內(nèi)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的IC,其中,所述TCV與所述半導(dǎo)體器件的柵極結(jié)構(gòu)之間的距離是所述TCV的所述第二端的直徑的約3倍至約50倍。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的IC,其中,所述TCV包括導(dǎo)電襯墊和設(shè)置在所述導(dǎo)電襯墊上的導(dǎo)電插塞。
9.一種集成電路(IC),包括:
襯底,具有前表面和與所述前表面相對(duì)的后表面;
半導(dǎo)體器件,具有設(shè)置在所述襯底的所述前表面上的柵極結(jié)構(gòu);
第一互連結(jié)構(gòu)和第二互連結(jié)構(gòu),分別設(shè)置在所述襯底的所述前表面和所述后表面上方;
貫穿電路通孔(TCV),設(shè)置在所述第一互連結(jié)構(gòu)和所述第二互連結(jié)構(gòu)內(nèi);以及
阻擋結(jié)構(gòu),圍繞所述TCV,設(shè)置在所述第一互連結(jié)構(gòu)和所述第二互連結(jié)構(gòu)內(nèi),
其中,設(shè)置在所述襯底的所述前表面上方的所述TCV的第一端連接到所述第一互連結(jié)構(gòu)的導(dǎo)線,并且設(shè)置在所述襯底的所述后表面上方的所述TCV的第二端連接到所述第二互連結(jié)構(gòu)的導(dǎo)線。
10.一種形成集成電路的方法,包括:
形成具有設(shè)置在襯底的前表面上的柵極結(jié)構(gòu)的半導(dǎo)體器件;
在所述襯底的所述前表面上方形成第一互連結(jié)構(gòu);
在所述襯底的后表面上方形成第二互連結(jié)構(gòu)的第一部分;
在所述第一互連結(jié)構(gòu)和所述第二互連結(jié)構(gòu)的所述第一部分中形成貫穿電路通孔(TCV)開口;
沿所述TCV開口的側(cè)壁形成導(dǎo)電襯墊;
在所述TCV開口內(nèi)形成導(dǎo)電插塞;以及
在所述導(dǎo)電插塞上形成所述第二互連結(jié)構(gòu)的第二部分。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于臺(tái)灣積體電路制造股份有限公司,未經(jīng)臺(tái)灣積體電路制造股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110579205.X/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 一種數(shù)據(jù)庫讀寫分離的方法和裝置
- 一種手機(jī)動(dòng)漫人物及背景創(chuàng)作方法
- 一種通訊綜合測(cè)試終端的測(cè)試方法
- 一種服裝用人體測(cè)量基準(zhǔn)點(diǎn)的獲取方法
- 系統(tǒng)升級(jí)方法及裝置
- 用于虛擬和接口方法調(diào)用的裝置和方法
- 線程狀態(tài)監(jiān)控方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種JAVA智能卡及其虛擬機(jī)組件優(yōu)化方法
- 檢測(cè)程序中方法耗時(shí)的方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 函數(shù)的執(zhí)行方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)





