[發(fā)明專利]一種應(yīng)用于嵌入式系統(tǒng)的EEPROM數(shù)據(jù)掉電不丟失方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110577563.7 | 申請日: | 2021-05-26 |
| 公開(公告)號: | CN113342571A | 公開(公告)日: | 2021-09-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 楊敏;王起家;丁建永 | 申請(專利權(quán))人: | 南京中科神光科技有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/14 | 分類號: | G06F11/14 |
| 代理公司: | 南京蘇高專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 王安琪 |
| 地址: | 210038 江蘇省南京*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 應(yīng)用于 嵌入式 系統(tǒng) eeprom 數(shù)據(jù) 掉電 丟失 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種應(yīng)用于嵌入式系統(tǒng)的EEPROM數(shù)據(jù)掉電不丟失方法,包括如下步驟:(1)將數(shù)據(jù)進行三備份處理,對被寫入EEPROM地址對應(yīng)數(shù)據(jù)作差異比對后存儲,減少EEPROM頻繁擦寫;(2)重新讀取第一份數(shù)據(jù)后,對數(shù)據(jù)做CRC?16校驗,并與原存儲于EEPROM內(nèi)CRC?16校驗值做比較;(3)若比較結(jié)果一致,則使用該份數(shù)據(jù),不繼續(xù)進行第二、第三份數(shù)據(jù)校驗;若比較結(jié)果不一致,則讀取第二甚至第三份數(shù)據(jù)校驗,并將前述EEPROM內(nèi)丟失數(shù)據(jù)重寫;(4)若初次使用或三備份數(shù)據(jù)都丟失時,使用默認(rèn)安全數(shù)據(jù),保證系統(tǒng)正常運行。本發(fā)明保證了EEPROM數(shù)據(jù)安全性,大大降低材料成本及維護周期。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及嵌入式電子控制技術(shù)領(lǐng)域,尤其是一種應(yīng)用于嵌入式系統(tǒng)的EEPROM數(shù)據(jù)掉電不丟失方法。
背景技術(shù)
帶電可擦可編程只讀存儲器EEPROM,它是一種掉電后數(shù)據(jù)不丟失的存儲芯片。在以往系統(tǒng)集成度要求不太高時,CPU一般外掛EEPROM芯片以存儲重要數(shù)據(jù)。由于EEPROM芯片自帶片選、寫使能等功能引腳,以及硬件設(shè)計時考慮欠壓保護等措施,外掛EEPROM一般不會出現(xiàn)反復(fù)掉電后存儲數(shù)據(jù)丟失問題。
隨著芯片技術(shù)快速發(fā)展,在嵌入式系統(tǒng)設(shè)計中,MCU的廣泛使用基本替代原來單一分立式設(shè)計,其優(yōu)勢非常明顯,大部分控制模塊被縮減為一塊獨立芯片,大大縮小了控制模塊設(shè)計尺寸。但在某些MCU使用過程中,我們發(fā)現(xiàn)EEPROM數(shù)據(jù)在斷電時存在小概率丟失問題。
經(jīng)過分析判斷,斷電時EEPROM數(shù)據(jù)小概率丟失原因大致如下:關(guān)電時,MCU供電電壓低過一定的值,其內(nèi)部程序執(zhí)行指針容易跑飛,若跑到一個無害代碼區(qū)(不操作外設(shè),不操作寫存儲區(qū)等)問題不大;若剛好執(zhí)行EEPORM寫入操作,就會出現(xiàn)所說的EEPROM數(shù)據(jù)丟失現(xiàn)象。查閱資料普遍建議使用硬件低壓檢測電路或MCU自帶BOD(低壓復(fù)位)功能去抑制跑飛現(xiàn)象,但并非所有MCU都自帶該功能。
數(shù)據(jù)丟失或異常對于設(shè)備而言有可能是致命的,輕者影響使用體驗,重者可能造成設(shè)備或人員安全事故,所以在實際產(chǎn)品中我們一定要盡力避免此類情況發(fā)生。
由于EEPROM存儲1個字節(jié)數(shù)據(jù)一般大約需要幾個ms,相對CPU指令運行速度而言屬于低速器件。在某款嵌入式硬件中,反復(fù)試驗發(fā)現(xiàn),掉電時造成丟失數(shù)據(jù)字節(jié)數(shù)為1~2個字節(jié),也印證了EEPROM的低速屬性(異常數(shù)據(jù)不會被改變太多),這為我們解決問題提供了可靠保證。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題在于,提供一種應(yīng)用于嵌入式系統(tǒng)的EEPROM數(shù)據(jù)掉電不丟失方法,保證EEPROM數(shù)據(jù)安全性,大大降低材料成本及維護周期;同時盡可能避免不必要的EEPROM擦寫,延長了EEPROM使用壽命。
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明提供一種應(yīng)用于嵌入式系統(tǒng)的EEPROM數(shù)據(jù)掉電不丟失方法,包括如下步驟:
(1)將數(shù)據(jù)進行三備份處理,對被寫入EEPROM地址對應(yīng)數(shù)據(jù)作差異比對后存儲,減少EEPROM頻繁擦寫;
(2)重新讀取第一份數(shù)據(jù)后,對數(shù)據(jù)做CRC-16校驗,并與原存儲于EEPROM內(nèi)CRC-16校驗值做比較;
(3)若比較結(jié)果一致,則使用該份數(shù)據(jù),不繼續(xù)進行第二、第三份數(shù)據(jù)校驗;若比較結(jié)果不一致,則讀取第二甚至第三份數(shù)據(jù)校驗,并將前述EEPROM內(nèi)丟失數(shù)據(jù)重寫;
(4)若初次使用或三備份數(shù)據(jù)都丟失時,使用默認(rèn)安全數(shù)據(jù),保證系統(tǒng)正常運行。
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