[發明專利]一種光纖質檢篩選設備、系統及質檢篩選方法

有效

• 申請號: 202110572307.9
• 申請日: 2021-05-25
• 公開（公告）號: CN113375904B
• 公開（公告）日: 2022-09-16
• 發明（設計）人: 吳玲紅
• 申請（專利權）人: 杭州富通通信技術股份有限公司
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00
• 代理公司: 杭州五洲普華專利代理事務所(特殊普通合伙) 33260
• 代理人: 朱林軍

1.一種光纖質檢篩選設備，其特征在于，包括：

底座，具有對稱設置的滑槽；

架體，設置于底座上；

第一螺桿，設置于架體上，一端與第一電機相連；

移動塊，成對設置，并通過螺紋配合套設在第一螺桿上，每個移動塊兩端與滑槽配合；

導向柱，設置在移動塊上；

滑動體，套設在導向柱上；以及

第一篩選輥，設置在一滑動體上端，中心軸線處具有通孔；

第二篩選輥，設置在另一滑動體上端，中心軸線處具有通孔；

溝槽，呈矩陣設置在第一篩選輥和第二篩選輥上；

轉軸，成對設置在溝槽中；

檢測口，設置在每個溝槽中，并設置在成對設置的轉軸之間，并與通孔連通；以及

檢測桿，插設在通孔內，所述檢測桿上具有檢測器，所述檢測器朝向檢測口，所述檢測器與檢測口一一對應呈矩陣設置在檢測桿上；

打標器，呈矩陣設置在架體上；

第二電機，設置在移動塊上；

第二螺桿，豎直設置并與第二電機相連；

升降件，通過螺紋配合套設在第二螺桿上；

其中，光纖呈S型先后繞過第一篩選輥的下方和第二檢測輥的上方，其中光纖裂紋在轉軸的支撐和S型彎曲弧度下，最大化裂開，且正對檢測口，第一篩選輥使光纖下半部分最大化裂開，第二篩選輥使光纖上半部分最大化裂開，進而實現光纖最大化呈現裂紋探傷檢測，并通過打標機進行實時打標標記，檢測同時，可通過動態調整第一篩選輥和第二篩輥之間的間距和高度差來調節S型最高點和最低點的彎曲弧度以適應不同型號和材質以及不同裂紋質檢標準的光纖。

2.如權利要求1所述的一種光纖質檢篩選設備，其特征在于，所述架體上兩側設有可轉動定位調節的支撐桿，所述支撐桿上設有導向輥，通過導向輥可輔助調節光纖在第一篩選輥和第二篩選輥在最低點和最高點處的張緊力。

3.如權利要求1所述的一種光纖質檢篩選設備，其特征在于，所述檢測器為超聲探傷器或射線探傷器，所述第一篩選輥和第二篩選輥的兩端分別設有支撐塊，所述支撐塊上設有插桿，所述插桿固定檢測桿，所述第一篩選輥的下端和第二篩選輥的上端設有插孔，所述插孔插設接收板。

4.如權利要求1所述的一種光纖質檢篩選設備，其特征在于，所述第一電機帶動第一螺桿轉動，第一螺桿帶動成對設置的移動快同步同時朝著相反方向相對滑動，所述滑動體帶動第一篩選輥和第二篩選輥之間間距變大或變小，第一篩選輥和第二篩選輥拉緊，并與導向軸配合實現調節光纖的S型形態，同時，成對設置的第二電機同步且與第一電機同步配合轉動，第二電機帶動第二螺桿轉動，第二螺桿帶動滑動件沿著導向柱上下滑動，其中具有三種滑動狀態，同時向上滑動、同時向下滑動以及向著相反方向滑動，進而實現同步動態調節第一篩選輥和第二篩選輥之間的高度差，進而使最低點和最高點處弧度最大化以實現最顯化精準檢測。

5.如權利要求1所述的一種光纖質檢篩選設備，其特征在于，多根光纖同步檢測，第一檢測輥檢測使光纖下半部分裂紋最大化顯示，并進行檢測，第二檢測輥使光纖上半部分裂紋最大化顯示，并進行檢測，進而實現光纖完整檢測，同時對檢測出問題的光纖進行實時同步打標標記。

6.一種光纖質檢篩選系統，基于權利要求1-5任意一項所述的光纖質檢篩選設備，其特征在于，包括多個光纖質檢篩選設備依次進行串聯，其中每個光纖質檢篩選設備設置不同的檢測器進行多種類檢測，同時每個檢測器設置不同的第一篩選輥和第二篩選輥間距和高度差進行層級級聯合檢測。

7.如權利要求6所述的一種光纖質檢篩選系統，其特征在于，每個溝槽內放置不同型號、不同種類的光纖，其中光纖種類數量和串聯光纖質檢篩選設備的數量一致相對應，每個檢測設備對應檢測一個溝槽內的光纖，進而實現多種類、多型號光纖裂紋的同步同時檢測。