[發明專利]熒光分子傳感器及制法、水中痕量鈾酰離子的檢測方法在審
| 申請號: | 202110563512.9 | 申請日: | 2021-05-24 |
| 公開(公告)號: | CN113340862A | 公開(公告)日: | 2021-09-03 |
| 發明(設計)人: | 丁歡歡;夏斌元;林娜;張海玲;熊忠華;李晨光;任文省;李仕成;許清華 | 申請(專利權)人: | 中國工程物理研究院材料研究所 |
| 主分類號: | G01N21/64 | 分類號: | G01N21/64;C09K11/06;C07C259/18 |
| 代理公司: | 成都九鼎天元知識產權代理有限公司 51214 | 代理人: | 劉小彬 |
| 地址: | 621700 四*** | 國省代碼: | 四川;51 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 熒光 分子 傳感器 制法 水中 痕量 離子 檢測 方法 | ||
1.一種熒光分子傳感器,或其鹽、溶劑化物,其特征在于,其結構如式I所示,
其制備方法包括以下步驟:將[1-(4-氰基苯基)-1,2,2-三苯基]乙烯、鹽酸羥胺、三乙基胺溶解于溶劑中,于N2保護下加熱反應,回流反應18h生成式I化合物。
2.一種基于聚集誘導發光效應的水中痕量鈾酰離子的檢測方法,其特征在于,以權利要求1所述的式I化合物為熒光探針,從水溶液中捕獲鈾酰離子,采用熒光分析法進行檢測。
3.根據權利要求2所述的一種基于聚集誘導發光效應的水中痕量鈾酰離子的檢測方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟1.繪制標準曲線:將式I化合物分別與不同濃度的鈾酰離子標準溶液混合后,得到多個混合標準溶液,分別測定多個混合標準溶液的熒光光譜,以鈾酰離子溶液濃度為橫坐標,熒光強度為縱坐標繪圖,擬合標準曲線,獲得標準曲線方程;
步驟2.樣品溶液的制備:取待測樣品,加入式I化合物混合均勻,備用;
步驟3.測定:將步驟2所得樣品溶液進行熒光光譜測定,根據步驟1得到的標準曲線方程,計算樣品中鈾酰離子濃度。
4.根據權利要求3所述的一種基于聚集誘導發光效應的水中痕量鈾酰離子的檢測方法,其特征在于,所述步驟1中,所述多個混合標準溶液的個數大于等于5個。
5.根據權利要求4所述的一種基于聚集誘導發光效應的水中痕量鈾酰離子的檢測方法,其特征在于,所述多個混合標準溶液的個數為11個。
6.根據權利要求5所述的一種基于聚集誘導發光效應的水中痕量鈾酰離子的檢測方法,其特征在于,所述步驟1中,混合標準溶液中的式I化合物濃度均為1.0×10-5mol/L;鈾酰離子的濃度范圍為0~1×10-8mol/L。
7.根據權利要求3-6任意一項所述的一種基于聚集誘導發光效應的水中痕量鈾酰離子的檢測方法,其特征在于,所述熒光強度為發射波長444nm處的熒光強度。
8.根據權利要求3所述的一種基于聚集誘導發光效應的水中痕量鈾酰離子的檢測方法,其特征在于,所述樣品溶液中,式I化合物濃度1×10-5mol/L。
9.根據權利要求3所述的一種基于聚集誘導發光效應的水中痕量鈾酰離子的檢測方法,其特征在于,熒光光譜儀儀器參數為:激發波長351nm,發射波長370-600nm;掃描速度1000nm/min,間隔1.0nm;激發帶寬10nm,發射帶寬10nm;增益PMT?650V。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國工程物理研究院材料研究所,未經中國工程物理研究院材料研究所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110563512.9/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





