[發明專利]一種絕緣檢測系統及絕緣檢測方法

有效

• 申請號: 202110560358.X
• 申請日: 2021-05-21
• 公開（公告）號: CN113295927B
• 公開（公告）日: 2023-06-20
• 發明（設計）人: 劉鑫;董旭峰;高戟
• 申請（專利權）人: 度普（蘇州）新能源科技有限公司
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02
• 代理公司: 北京信遠達知識產權代理有限公司 11304
• 代理人: 王會會

1.一種絕緣檢測系統，其特征在于，用于測量高壓系統的絕緣電阻，所述高壓系統包括至少一個高壓設備，所述高壓設備包括正端和負端，所述正端和所述負端之間包括絕緣電阻參考點，所述絕緣電阻參考點與所述正端和所述負端之間均包括第一電阻，所述絕緣檢測系統包括：第一電壓測量部和第二電壓測量部；其中，

所述第一電壓測量部包括第一測量電阻，所述第一電壓測量部還包括第一狀態和第二狀態，當所述第一電壓測量部處于第一狀態時，所述第一電壓測量部用于獲取第一采樣電壓，所述第一采樣電壓與所述高壓設備的正端與絕緣電阻參考點之間的電壓差正相關；當所述第一電壓測量部處于第二狀態時，所述第一測量電阻與一個所述高壓設備的第一電阻并聯，所述第一電壓測量部用于獲取第二采樣電壓，所述第二采樣電壓和與所述第一測量電阻并聯后的第一電阻兩端的電壓差正相關；

所述第二電壓測量部包括第二測量電阻，所述第二電壓測量部還包括第三狀態和第四狀態，當所述第二電壓測量部處于第三狀態時，所述第二電壓測量部用于獲取第三采樣電壓，所述第三采樣電壓與所述高壓設備的負端與所述絕緣電阻參考點之間的電壓差正相關；當所述第二電壓測量部處于第四狀態時，所述第二測量電阻與一個所述高壓設備的第一電阻并聯，所述第二電壓測量部用于獲取第四采樣電壓，所述第四采樣電壓和與所述第二測量電阻并聯后的第一電阻兩端的電壓差正相關；

所述第一電壓測量部還包括：與所述第一測量電阻串聯的第一開關，當所述第一開關斷開時，所述第一電壓測量部處于所述第一狀態，當所述第一開關閉合時，所述第一電壓測量部處于所述第二狀態；

所述第二電壓測量部還包括：與所述第二測量電阻串聯的第二開關，當所述第二開關斷開時，所述第二電壓測量部處于所述第三狀態，當所述第二開關閉合時，所述第二電壓測量部處于所述第四狀態。

2.根據權利要求1所述的絕緣檢測系統，其特征在于，所述第一開關串接與所述第一測量電阻遠離所述絕緣電阻參考點一端；

所述第二開關串接與所述第二測量電阻遠離所述絕緣電阻參考點一端。

3.根據權利要求2所述的絕緣檢測系統，其特征在于，所述第一電壓測量部還包括：第一采樣電阻、第一分壓電阻和采樣隔離單元，所述第一采樣電阻和所述第一分壓電阻串接后構成第一采樣支路，所述第一采樣支路的一端與所述第一開關遠離所述第一測量電阻的一端電連接，另一端與所述第一測量電阻遠離所述第一開關的一端電連接；

所述采樣隔離單元與所述第一采樣電阻并聯。

4.根據權利要求3所述的絕緣檢測系統，其特征在于，所述第一采樣電阻串接于所述第一分壓電阻遠離所述絕緣電阻參考點一端。

5.根據權利要求2所述的絕緣檢測系統，其特征在于，所述第二電壓測量部還包括：第二采樣電阻和第二分壓電阻；其中，

所述第二采樣電阻和所述第二分壓電阻串接后構成第二采樣支路，所述第二采樣支路的一端與所述第二開關遠離所述第二測量電阻的一端電連接，另一端與所述第二測量電阻遠離所述第二開關的一端電連接。

6.根據權利要求5所述的絕緣檢測系統，其特征在于，所述第二采樣電阻串接于所述第二分壓電阻遠離所述絕緣電阻參考點一端。

7.一種絕緣檢測方法，其特征在于，基于權利要求1-6任一項所述的絕緣檢測系統實現，所述絕緣檢測方法用于測量高壓系統的絕緣電阻，所述高壓系統包括至少一個高壓設備，所述高壓設備包括正端和負端，所述正端和所述負端之間包括絕緣電阻參考點，所述絕緣電阻參考點與所述正端和所述負端之間均包括第一電阻，所述絕緣檢測方法包括：

獲取第一采樣電壓以及第三采樣電壓；

當所述第一采樣電壓大于所述第三采樣電壓時，獲取第二采樣電壓，并根據彌爾曼定理，利用所述第一采樣電壓和所述第三采樣電壓計算所述高壓系統的絕緣電阻；

當所述第一采樣電壓小于所述第三采樣電壓時，獲取第四采樣電壓，并根據彌爾曼定理，利用所述第二采樣電壓和所述第四采樣電壓計算所述高壓系統的絕緣電阻。