[發明專利]透光區域的分析方法以及相關設備、裝置

在審

• 申請號: 202110559919.4
• 申請日: 2021-05-21
• 公開（公告）號: CN113532800A
• 公開（公告）日: 2021-10-22
• 發明（設計）人: 李梟寧
• 申請（專利權）人: 杭州涂鴉信息技術有限公司
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00
• 代理公司: 廣東君龍律師事務所 44470
• 代理人: 丁建春

本申請公開了一種透光區域的分析方法以及相關設備、裝置，其中，透光區域的分析方法包括：基于面板和光學器件的光學參數，得到第一模型；其中，光學器件包括光線發射器件、圖像采集器件中至少一者，面板包括相背設置的第一表面和第二表面，光學器件靠近于第一表面設置；基于第一模型進行光學仿真，得到光學器件的光路；基于光路在第二表面的交點，得到光學器件在面板上的透光區域。上述方案，能夠提高分析透光區域的效率，并降低分析透光區域的成本。

技術領域

本申請涉及光學技術領域，特別是涉及一種透光區域的分析方法以及相關設備、裝置。

背景技術

近年來，隨著電子信息技術的快速發展，監控相機、手機、平板電腦等逐漸成為人們日常生活、娛樂及辦公必不可少的終端設備。諸如此類終端通常集成有諸如圖像采集器件、光線發射器件等光學器件，且為追求美觀，光學器件通常設置于面板下方，且在面板上需留有光學器件的透光區域，而若透光區域過大，影響整體美觀，反之若透光區域偏小，則會產生暗角，影響正常光路。

目前，通常先設計并制造出樣品，之后再進行實際測試，效率較低，且多次測試也在無形中增加了成本。有鑒于此，如何提高分析透光區域的效率，并降低分析透光區域的成本，成為亟待解決的問題。

發明內容

本申請主要解決的技術問題是提供一種透光區域的分析方法以及相關設備、裝置，能夠提高分析透光區域的效率，并降低分析透光區域的成本。

為了解決上述問題，本申請第一方面提供了一種透光區域的分析方法，包括：基于面板和光學器件的光學參數，得到第一模型；其中，光學器件包括光線發射器件、圖像采集器件中至少一者，面板包括相背設置的第一表面和第二表面，光學器件靠近于第一表面設置；基于第一模型進行光學仿真，得到光學器件的光路；基于光路在第二表面的交點，得到光學器件在面板上的透光區域。

為了解決上述問題，本申請第二方面提供了一種電子設備，包括相互耦接的處理器和存儲器，存儲器存儲有程序指令，處理器用于執行程序指令以實現上述第一方面中的透光區域的分析方法。

為了解決上述問題，本申請第三方面提供了一種存儲裝置，存儲有能夠被處理器運行的程序指令，程序指令用于實現上述第一方面中的透光區域的分析方法。

上述方案，基于面板和光學器件的光學參數，得到第一模型，且光學器件包括光線發射器件、圖像采集器件中的至少一者，面板包括相背設置的第一表面和第二表面，光學器件靠近于第一表面設置，在此基礎上，基于第一模型進行光學仿真，得到光學器件的光路，從而基于光路在第二表面的交點，得到光學器件在面板上的透光區域。故此，通過光學參數構建仿真模型即確定光學器件在面板上的透光區域，而無需設計、制造并測試樣品，進而能夠提高分析透光區域的效率，并降低分析透光區域的成本。

附圖說明

圖1是本申請透光區域的分析方法一實施例的流程示意圖；

圖2是第一模型一實施例的示意圖；

圖3是第一模型另一實施例的示意圖；

圖4是透光區域一實施例的示意圖；

圖5是第一模型又一實施例的示意圖

圖6是本申請透光區域的分析方法另一實施例的流程示意圖；

圖7是第二模型一實施例的示意圖；

圖8是第二模型另一實施例的示意圖；

圖9是第一光強分布情況一實施例的示意圖；

圖10是第二光強分布情況一實施例的示意圖；

圖11是本申請電子設備一實施例的框架示意圖；

圖12是本申請存儲裝置一實施例的框架示意圖。

具體實施方式