[發(fā)明專(zhuān)利]測(cè)試圖像處理方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110559723.5
• 申請(qǐng)日: 2021-05-21
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN113362238A
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-09-07
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 朱健文
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 昆山丘鈦光電科技有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G06T5/00
• 分類(lèi)號(hào): G06T5/00;G06T5/30;G06T7/12;G06T7/13;G06T7/90;G06T3/40
• 代理公司: 北京眾達(dá)德權(quán)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11570
• 代理人: 張桂蓉

本發(fā)明公開(kāi)了一種測(cè)試圖像處理方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)，屬于攝像頭模組測(cè)試領(lǐng)域。根據(jù)預(yù)設(shè)縮小系數(shù)對(duì)攝像頭模組捕捉的測(cè)試圖像進(jìn)行縮小處理，得到目標(biāo)縮小圖像；針對(duì)目標(biāo)縮小圖像進(jìn)行預(yù)處理，得到預(yù)處理后圖像；根據(jù)預(yù)設(shè)腐蝕系數(shù)，對(duì)預(yù)處理后圖像中目標(biāo)顏色區(qū)域進(jìn)行腐蝕處理，得到腐蝕圖像；根據(jù)預(yù)設(shè)腐蝕系數(shù)和預(yù)設(shè)縮小系數(shù)，從腐蝕圖像中確定出針對(duì)所述測(cè)試圖像的抓框參數(shù)，并利用抓框參數(shù)從測(cè)試圖像中定位出多個(gè)ROI區(qū)域。通過(guò)本發(fā)明解決了從測(cè)試圖像上抓取ROI的過(guò)程計(jì)算速度較慢且準(zhǔn)確度不高的技術(shù)問(wèn)題。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于攝像頭模組測(cè)試領(lǐng)域，尤其涉及一種測(cè)試圖像處理方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)

攝像頭模組在出廠(chǎng)前需進(jìn)行解析力測(cè)試，一般會(huì)采用SFR(spatial frequencyresponse，空間頻率響應(yīng))算法來(lái)進(jìn)行解析力測(cè)試。

在相關(guān)技術(shù)中，SFR是一個(gè)多值度量測(cè)量對(duì)比度損失作為空間頻率的函數(shù)。采用SFR算法進(jìn)行攝像頭模組的解析力測(cè)試的時(shí)候，需要從攝像頭模組捕捉的測(cè)試圖像上抓取ROI(Region of interest，感興趣區(qū)域)，分別用于計(jì)算橫向SFR和縱向SFR。但是，基于相關(guān)技術(shù)從測(cè)試圖像上抓取ROI的過(guò)程計(jì)算速度較慢且準(zhǔn)確度不高，導(dǎo)致會(huì)影響解析力測(cè)試的效率和準(zhǔn)確性。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明實(shí)施例通過(guò)提供一種測(cè)試圖像處理方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)，解決了從測(cè)試圖像上抓取ROI的過(guò)程計(jì)算速度較慢且準(zhǔn)確度不高的技術(shù)問(wèn)題。

第一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供一種測(cè)試圖像處理方法，包括：根據(jù)預(yù)設(shè)縮小系數(shù)對(duì)攝像頭模組捕捉的測(cè)試圖像進(jìn)行縮小處理，得到目標(biāo)縮小圖像，所述測(cè)試圖像中包含不同顏色區(qū)域；針對(duì)目標(biāo)縮小圖像進(jìn)行預(yù)處理，得到預(yù)處理后圖像；根據(jù)預(yù)設(shè)腐蝕系數(shù)，對(duì)所述預(yù)處理后圖像中目標(biāo)顏色區(qū)域進(jìn)行腐蝕處理，得到腐蝕圖像；根據(jù)所述預(yù)設(shè)腐蝕系數(shù)和所述預(yù)設(shè)縮小系數(shù)，從所述腐蝕圖像中確定出針對(duì)所述測(cè)試圖像的抓框參數(shù)，并利用所述抓框參數(shù)從所述測(cè)試圖像中定位出多個(gè)ROI區(qū)域。

可選地，所述針對(duì)目標(biāo)縮小圖像進(jìn)行預(yù)處理，得到預(yù)處理后圖像，包括：

對(duì)所述目標(biāo)縮小圖像進(jìn)行降噪處理，得到第一降噪圖像；

從所述第一降噪圖像的圖像中心至圖像邊緣劃分為多個(gè)圖像區(qū)域，并針對(duì)每個(gè)所述圖像區(qū)域采用對(duì)應(yīng)的二值化閾值進(jìn)行二值化處理，得到所述第一降噪圖像對(duì)應(yīng)的二值化圖像；

對(duì)所述二值化圖像進(jìn)行優(yōu)化處理，得到所述預(yù)處理后圖像。

可選地，所述對(duì)所述二值化圖像進(jìn)行優(yōu)化處理，得到所述預(yù)處理后圖像，包括：

去除所述二值化圖像的白點(diǎn)噪聲，得到第二降噪圖像；

對(duì)所述第二降噪圖像進(jìn)行取反操作，得到所述預(yù)處理后圖像。

可選地，所述測(cè)試圖像包括原始黑塊區(qū)域和原始白塊區(qū)域，所述腐蝕圖像的目標(biāo)顏色區(qū)域包含多個(gè)間隔的腐蝕白塊區(qū)域，所述根據(jù)所述預(yù)設(shè)腐蝕系數(shù)和所述預(yù)設(shè)縮小系數(shù)，從所述腐蝕圖像中確定出針對(duì)所述測(cè)試圖像的抓框參數(shù)，包括：

分別檢測(cè)所述腐蝕圖像中每個(gè)腐蝕白塊區(qū)域的最小外接輪廓；

針對(duì)所述腐蝕圖像中每個(gè)腐蝕白塊區(qū)域，根據(jù)所述預(yù)設(shè)縮小系數(shù)、所述腐蝕系數(shù)以及該腐蝕白塊區(qū)域的最小外接輪廓，確定出所述測(cè)試圖像中與該腐蝕白塊區(qū)域位置對(duì)應(yīng)的原始黑塊區(qū)域的抓框參數(shù)。

可選地，所述根據(jù)所述預(yù)設(shè)縮小系數(shù)、所述腐蝕系數(shù)以及該腐蝕白塊區(qū)域的最小外接輪廓，確定出所述測(cè)試圖像中與該腐蝕白塊區(qū)域位置對(duì)應(yīng)的原始黑塊區(qū)域的抓框參數(shù)，包括：

根據(jù)預(yù)設(shè)腐蝕系數(shù)、預(yù)設(shè)縮小系數(shù)以及所述腐蝕白塊區(qū)域的最小外接輪廓的輪廓尺寸，確定所述測(cè)試圖像中與該腐蝕白塊區(qū)域位置對(duì)應(yīng)的原始黑塊區(qū)域的區(qū)域尺寸；

確定所述腐蝕白塊區(qū)域的最小外接輪廓的輪廓中心；