[發(fā)明專利]一種靜電衰減測試儀衰減時間校準(zhǔn)裝置及其工作方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110556616.7
• 申請日: 2021-05-21
• 公開（公告）號: CN113109752A
• 公開（公告）日: 2021-07-13
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 王冠鈞;劉娣
• 申請（專利權(quán)）人: 無錫市計量測試院
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 蘇州市方略專利代理事務(wù)所(普通合伙) 32267
• 代理人: 李玉婷

本發(fā)明公開了一種靜電衰減測試儀衰減時間校準(zhǔn)裝置以及工作方法，包括被校靜電衰減測試儀和衰減時間校準(zhǔn)裝置，所述輸入高端接口和輸入低端接口分別與被校靜電衰減測試儀的輸入端連接；其中，所述衰減時間校準(zhǔn)裝置包括電源輸入端、電源轉(zhuǎn)換單元一、電源轉(zhuǎn)換單元二、可編程顯示單元、可編程控制單元、高壓開關(guān)一和高壓開關(guān)二。本發(fā)明的靜電衰減測試儀衰減時間校準(zhǔn)裝置，通過校準(zhǔn)裝置預(yù)置的衰減時間和被校儀器測量的衰減時間進行比較，可以實現(xiàn)對靜電衰減測試儀衰減時間參數(shù)的校準(zhǔn)；校準(zhǔn)裝置具有脈沖信號輸出端口，可以通過外接通用計數(shù)器對其時間參數(shù)進行溯源；該裝置具有操作簡單，檢測效率高的優(yōu)點。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于檢測儀器技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種靜電衰減測試儀衰減時間校準(zhǔn)裝置。本發(fā)明還涉及一種靜電衰減測試儀衰減時間校準(zhǔn)裝置的工作方法。

背景技術(shù)

離子化靜電消除器作為一種通用的防靜電設(shè)備，在國內(nèi)得到了大量的應(yīng)用。據(jù)估計，目前我國大約有幾十萬臺套離子化靜電消除器應(yīng)用于電子、石油、制造等領(lǐng)域。對于離子化靜電消除器消除靜電的能力測試，國際和國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)都有相應(yīng)的規(guī)定和說明，如《SJ/T10694-2006電子產(chǎn)品制造與應(yīng)用系統(tǒng)防靜電檢測通用規(guī)范》和《ESDSTM3.1-2006 靜電放電敏感產(chǎn)品的防護——電離化》等。這些標(biāo)準(zhǔn)中對靜電消除器的測試都需要用到一種專用的測試設(shè)備——靜電衰減測試儀。目前，國家沒有公開的校準(zhǔn)規(guī)范發(fā)布，其中IEC 61340-5-1:2016《Protection of electronic devices from electrostatic phenomena --General requirements》給出了靜電衰減測試儀衰減時間參數(shù)的校準(zhǔn)方法，但是目前還沒有專門的校準(zhǔn)裝置可以校準(zhǔn)，所以急需研發(fā)一種靜電衰減時間校準(zhǔn)裝置，能夠?qū)λp時間參數(shù)進行校準(zhǔn)，滿足其溯源需求。

靜電衰減測試儀的衰減時間是指帶電體的電壓下降到其起始電壓的給定百分比（即停止電壓）所需要的時間，根據(jù)IEC 61340-5-1:2016《Protection of electronicdevices from electrostatic phenomena --General requirements》中的要求，是測量帶電體的電壓從1000V下降到100V所需要的時間。靜電衰減測試儀在對離子化靜電消除器的衰減時間測量過程中，板間積累的電荷量很小，板間的電阻非常高（一般為10¹⁵Ω），而普通的電子信號記錄設(shè)備輸入電阻只有10⁸Ω左右，所以無法通過放電波形采集的方法直接進行測量。

發(fā)明內(nèi)容

發(fā)明目的：為了克服以上不足，本發(fā)明的目的是提供一種靜電衰減測試儀衰減時間校準(zhǔn)裝置，解決了無法通過放電波形采集的方法來進行靜電衰減測試儀衰減時間的測量的問題。本專利申請的目標(biāo)是設(shè)計一款專用的靜電衰減時間校準(zhǔn)裝置，實現(xiàn)對靜電衰減時間參數(shù)進行校準(zhǔn)。作為校準(zhǔn)用標(biāo)準(zhǔn)器，該裝置要能夠溯源，并滿足靜電衰減時間校準(zhǔn)的精度要求。