[發明專利]一種提高儀器測量精度的方法和系統

在審

• 申請號: 202110553459.4
• 申請日: 2021-05-20
• 公開（公告）號: CN113124908A
• 公開（公告）日: 2021-07-16
• 發明（設計）人: 陳林海
• 申請（專利權）人: 中科芯未來微電子科技成都有限公司
• 主分類號: G01D3/028
• 分類號: G01D3/028;G01D18/00
• 代理公司: 北京天奇智新知識產權代理有限公司 11340
• 代理人: 許馳

1.一種提高儀器測量精度的方法，其中，所述方法包括：

獲得第一傳感器的第一傳輸類型；

獲得所述第一傳感器的第一使用環境的第一圖像信息；

由所述第一圖像信息獲得所述第一使用環境對于所述第一傳感器使用的第一影響系數；

獲得第一干擾檢測裝置；

由所述第一干擾檢測裝置獲得所述第一使用環境的第一干擾信息；

將所述第一傳輸類型和所述第一干擾信息輸入至第一評估模型，獲得所述第一使用環境對于所述第一傳感器的第二影響系數；

獲得所述第一傳感器的第一輸出信號；

由所述第一影響系數和所述第二影響系數獲得對于所述第一輸出信號的第一調整值；

獲得第一調整指令，所述第一調整指令用于依據所述第一調整值對所述第一傳感器進行調整，獲得第二輸出信號。

2.如權利要求1所述的方法，其中，所述方法包括：

由所述第一圖像信息獲得所述第一傳感器的第一安裝位置；

獲得所述第一安裝位置處的第一線路；

獲得所述第一線路的第一老化程度和第一傳輸長度；

由所述第一老化程度和所述第一傳輸長度獲得所述第一線路的第一線路損耗值；

由所述第一線路損耗值確定所述第一影響系數。

3.如權利要求2所述的方法，其中，所述方法包括：

獲得所述第一線路的第一材質信息；

由所述第一材質信息獲得第一預設工作條件閾值；

獲得所述第一線路的第一工作條件；

判斷所述第一工作條件是否滿足所述第一預設工作條件閾值；

若所述第一工作條件不滿足所述第一預設工作條件閾值，獲得所述第一工作條件下所述第一線路的第二電路損耗值；

依據所述第一電路損耗值和所述第二線路損耗值確定所述第一影響系數。

4.如權利要求1所述的方法，其中，所述方法包括：

獲得第一仿真分析軟件；

將第一電路輸入至所述第一仿真分析軟件進行仿真分析，獲得第一修正系數；

依據所述第一修正系數對所述第二輸出信號進行修正處理，獲得第三輸出信號。

5.如權利要求1所述的方法，其中，所述方法包括：

由所述第一干擾信息獲得第一干擾類型和第一干擾來源；

獲得所述第一線路的第一線路敏感度；

依據所述第一干擾類型和所述第一線路敏感度獲得對于所述第一干擾來源的第一干預力度；

依據所述第一干預力度制定第一干預措施。

6.如權利要求1所述的方法，其中，所述方法包括：

獲得所述第一傳感器的第一輸入信號；

由所述第一傳輸類型獲得第一數據處理算法；

依據所述第一數據處理算法建立第一算法處理模型；

將所述第一輸入信號輸入至所述第一算法處理模型進行處理，獲得第二輸入信號；

將所述第二輸入信號輸入至所述第一傳感器。

7.如權利要求1所述的方法，其中，所述方法包括：

將所述第一傳輸類型和所述第一干擾信息作為輸入數據輸入至第一評估模型，所述第一評估模型通過多組訓練數據訓練獲得，其中，所述多組訓練數據均包含所述第一傳輸類型、所述第一干擾信息和所述第二影響系數的標識信息；

獲得所述第一評估模型的第一輸出結果，所述第一輸出結果包括所述第二影響系數。