[發明專利]天線模組、溫度變化的檢測方法及裝置和相關應用

在審

• 申請號: 202110552464.3
• 申請日: 2021-05-20
• 公開（公告）號: CN113376701A
• 公開（公告）日: 2021-09-10
• 發明（設計）人: 白頌榮;王潔;陳曦
• 申請（專利權）人: 深圳曦華科技有限公司
• 主分類號: G01V3/08
• 分類號: G01V3/08;G01K7/34;H01Q1/52
• 代理公司: 北京思格頌知識產權代理有限公司 11635
• 代理人: 潘珺

1.一種天線模組，其特征在于，包括：第一電極和第二電極；所述第一電極為天線本體或與天線本體連接并與天線本體保持等電壓；

所述第一電極與所述第二電極可耦合形成互電容；

當有物體接近所述天線模組，所述第一電極能夠屏蔽所述第二電極與所述物體之間的電場。

2.如權利要求1所述的天線模組，其特征在于，所述第二電極為金屬片或者金屬線。

3.如權利要求1所述的天線模組，其特征在于，所述第一電極與所述第二電極平行或基本平行設置，且所述第一電極在所述第二電極表面上的投影覆蓋所述第二電極。

4.如權利要求1所述天線模組，其特征在于，所述第一電極與所述第二電極相耦合形成的互電容中，所述第一電極為激勵電極，所述第二電極為感應電極；或者所述第一電極為感應電極，所述第二電極為激勵電極。

5.如權利要求4所述的天線模組，其特征在于，所述第一電極或所述第二電極作為激勵電極時，其激勵信號的電壓保持恒定。

6.一種制備如權利要求1-5任一項所述天線模組的方法，其特征在于，包括：

設置第一電極；

設置第二電極，所述第一電極與所述第二電極可相耦合形成互電容；且當有物體接近所述天線模組時，所述第一電極能夠屏蔽所述第二電極與所述物體之間的電場。

7.如權利要求6所述的方法，其特征在于，設置第二電極，包括：

在第一電極的一側制備金屬片或者金屬線以形成第二電極；或

復用所述第一電極一側的電路板上的金屬片或金屬線作為第二電極。

8.一種溫度變化的檢測方法，應用于如權利要求1-5任一項所述的天線模組，其特征在于，包括：

保持所述第一電極的電壓恒定，對所述第一電極與所述第二電極耦合所形成互電容的大小進行檢測，并監測所述互電容的大小是否發生變化；

若監測到所述互電容的大小發生變化，則根據互電容的大小變化量，確定所述天線模組的溫度變化量。

9.如權利要求8所述的方法，其特征在于，根據所述互電容的大小變化量，確定所述天線模組的溫度變化量，包括：

根據所述互電容大小的變化量及所述互電容的溫度系數，計算出所述天線模組的溫度變化量。

10.一種溫度變化的檢測裝置，用于對如權利要求1-5任一項所述的天線模組的溫度變化進行檢測，其特征在于，包括：

互電容檢測單元，用于對所述第一電極和第二電極耦合形成的互電容的大小進行檢測，并監測所述互電容的大小是否發生變化；

溫度變化確定單元，用于根據所述互電容的大小變化，確定所述天線模組的溫度變化量。

11.一種溫度檢測系統，其特征在于，包括：如權利要求1-5任一項所述的天線模組和如權利要求10所述的溫度變化的檢測裝置。

12.一種確定因物體靠近引發的電容變化量的方法，用于如權利要求1-5任一項所述的天線模組，其特征在于，包括：

保持所述第一電極電壓的恒定，檢測所述第一電極與第二電極耦合形成的互電容的大小；

檢測所述第一電極與地形成的自電容的大??；

若監測到所述互電容和所述自電容的大小均發生變化，則根據所述互電容的大小變化量，確定所述天線模組的溫度變化量；

根據所述溫度變化量和所述自電容的溫度系數，確定所述天線本體由溫度引起的自電容的大小變化量；

將所述第一電極與地形成的自電容的大小變化量減去所述天線本體由溫度引起的自電容的大小變化量，得到所述天線本體因物體靠近而導致的自電容變化量。