[發明專利]一種基于內定標多波位測試的天線方向圖測試方法

有效

• 申請號: 202110552416.4
• 申請日: 2021-05-20
• 公開（公告）號: CN113281576B
• 公開（公告）日: 2022-11-18
• 發明（設計）人: 邢英;糜健;趙旭昊
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第十四研究所
• 主分類號: G01R29/10
• 分類號: G01R29/10;G01R29/08
• 代理公司: 北京律譜知識產權代理有限公司 11457
• 代理人: 李硯明

1.一種基于內定標多波位測試的天線方向圖測試方法，其特征在于，所述天線方向圖測試方法包括以下步驟：

步驟1，天線陣面通過平面暗室近場測試獲取有源陣面各通道對應的天線子陣的帶內方向圖矢量數據；

步驟2，通過平面暗室近場測試獲取的法向波位對應的有源陣面所有通道的工作頻帶內幅度和相位近場數據采樣；

步驟3，對待測波位進行分組，通過內定標多波位測試獲取的法向波位的帶內內定標幅相數據矩陣；

步驟4，通過內定標多波位測試系統獲取的待測波位的帶內內定標幅相數據矩陣；

步驟5，通過帶內方向圖矢量數據、法向波位對應帶內幅度和相位近場數據采樣、法向波位的帶內內定標幅相數據矩陣以及待測波位的帶內內定標幅相數據矩陣計算待測波位的內定標方向圖；

在步驟5中，所述待測波位的內定標方向圖計算模型為：

其中，λ表示入為天線工作波長；a_mn為各通道的近場幅相值，a_mn＝A_MN+D1_MN-D0_MN，A_MN表示法向波位對應帶內幅度和相位近場數據采樣，D0_MN表示法向波位的帶內內定標幅相數據矩陣，D1_MN表示待測波位的帶內內定標幅相數據矩陣；f(u,v)表示帶內方向圖矢量數據；x_m＝m×d_x，表示第(m,n)有源通道的橫坐標，其中d_x為在x方向的通道間距；y_n＝n×d_y，表示第(m,n)有源通道的橫坐標，其中d_y為在y方向的通道間距；為陣列波束指向角位置。

2.根據權利要求1所述天線方向圖測試方法，其特征在于，在步驟3和步驟4中，所述內定標多波位測試過程中，若通道數小于波位數，則對第一個波位中所有通道進行遍歷采樣，再依次將其他波位中所有通道進行遍歷采樣；若波位數小于通道數，則對第一個通道中所有波位進行遍歷采樣，再依次將其他通道中所有波位進行遍歷采樣。