[發(fā)明專利]一種無參考點(diǎn)的多目標(biāo)偏移檢測方法

有效

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• 申請日: 2021-05-18
• 公開（公告）號: CN113295617B
• 公開（公告）日: 2022-11-25
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 羅忠輝
• 申請（專利權(quán)）人: 廣州慧炬智能科技有限公司
• 主分類號: G01N21/01
• 分類號: G01N21/01;G01N21/88
• 代理公司: 廣州譽(yù)華專利代理事務(wù)所(普通合伙) 44712
• 代理人: 羅丹

一種無參考點(diǎn)的多目標(biāo)偏移檢測方法，以如下步驟進(jìn)行檢測：S1?以合格產(chǎn)品為樣品，拍攝樣品獲得模板圖像，從模板圖像中分別獲取合樣品中各個檢測目標(biāo)的位置參數(shù)作為各個檢測目標(biāo)符合檢測要求的標(biāo)準(zhǔn)位置參數(shù)；S2?拍攝待檢產(chǎn)品獲得產(chǎn)品圖像，從產(chǎn)品圖像中分別獲取待檢產(chǎn)品中各個檢測目標(biāo)的位置參數(shù)作為實際位置參數(shù)，對實際位置參數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)位置參數(shù)進(jìn)行對比，將對比結(jié)果超過閾值的待檢產(chǎn)品判定為不符合檢測要求的缺陷品，將對比結(jié)果未超過閾值的待檢產(chǎn)品判定為符合檢測要求的合格品。本發(fā)明的能在產(chǎn)品和治具上無法找到視覺可以精確識別的參考點(diǎn)時實施不依賴于參考點(diǎn)的偏移檢測，滿足檢測需求。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及計算機(jī)視覺技術(shù)領(lǐng)域，具體的是一種無參考點(diǎn)的多目標(biāo)偏移檢測方法。

背景技術(shù)

在計算機(jī)視覺的應(yīng)用中，產(chǎn)品的缺陷檢測占據(jù)非常重要的位置，可以有效的提高產(chǎn)品質(zhì)量、降低成本，從而提高用戶滿意度。

具體而言，對于工業(yè)生產(chǎn)中產(chǎn)品零部件的缺失和偏移檢測，如耳機(jī)充電倉，需要通過計算機(jī)視覺對充電接口上的多個白色標(biāo)簽紙缺失（漏貼）和偏移（貼歪）進(jìn)行缺陷檢測，需要檢測每一個標(biāo)簽是否存在缺失和偏移。目前常規(guī)的視覺檢測方法都需要兩個位置精確且可通過視覺穩(wěn)定檢測到的參考點(diǎn)，以此為參考基準(zhǔn)識別所有其他的檢測點(diǎn)。

特殊的，當(dāng)產(chǎn)品和治具上無法找到視覺可以精確識別的參考點(diǎn)時，需要一種不依賴于參考點(diǎn)的偏移檢測方法，滿足檢測需求。

發(fā)明內(nèi)容

為了彌補(bǔ)現(xiàn)有技術(shù)的上述不足，本發(fā)明提供了一種無參考點(diǎn)的多目標(biāo)偏移檢測方法，針對產(chǎn)品和治具上無法找到視覺可以精確識別的參考點(diǎn)的情形，對多個檢測目標(biāo)提供不依賴于參考點(diǎn)的偏移檢測。

為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用了如下的技術(shù)方案。

一種無參考點(diǎn)的多目標(biāo)偏移檢測方法，以如下步驟進(jìn)行檢測：

S1-以合格產(chǎn)品為樣品，拍攝樣品獲得模板圖像，從模板圖像中分別獲取合樣品中各個檢測目標(biāo)的位置參數(shù)作為各個檢測目標(biāo)符合檢測要求的標(biāo)準(zhǔn)位置參數(shù)；

S2-拍攝待檢產(chǎn)品獲得產(chǎn)品圖像，從產(chǎn)品圖像中分別獲取待檢產(chǎn)品中各個檢測目標(biāo)的位置參數(shù)作為實際位置參數(shù)，對實際位置參數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)位置參數(shù)進(jìn)行對比，將對比結(jié)果超過閾值的待檢產(chǎn)品判定為不符合檢測要求的缺陷品，將對比結(jié)果未超過閾值的待檢產(chǎn)品判定為符合檢測要求的合格品。

本方法應(yīng)用于多個目標(biāo)且無準(zhǔn)確參考點(diǎn)時的偏移檢測場景，主要的特點(diǎn)是不需要選擇參考點(diǎn)，仍然可以對產(chǎn)品上的零部件進(jìn)行偏移檢測。其局限在于檢測目標(biāo)需要有多個，如僅有3個以內(nèi)的檢測目標(biāo)則無法使用本方法，另外是要求檢測目標(biāo)中，合格目標(biāo)要多于不合格目標(biāo)，否則無法達(dá)到預(yù)期的效果。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果在于：

對于具有3個以上檢測目標(biāo)的產(chǎn)品，當(dāng)檢測目標(biāo)的合格率高于50%時，能在產(chǎn)品和治具上無法找到視覺可以精確識別的參考點(diǎn)時實施不依賴于參考點(diǎn)的偏移檢測，滿足檢測需求。

下面，結(jié)合說明書附圖和具體實施方式對本發(fā)明做進(jìn)一步的說明。

附圖說明

圖1是本發(fā)明的一個檢測示例的示意圖。

具體實施方式

一種無參考點(diǎn)的多目標(biāo)偏移檢測方法，以如下步驟進(jìn)行檢測：

S1-以合格產(chǎn)品為樣品，拍攝樣品獲得模板圖像，從模板圖像中分別獲取合樣品中各個檢測目標(biāo)的位置參數(shù)作為各個檢測目標(biāo)符合檢測要求的標(biāo)準(zhǔn)位置參數(shù)；

S2-拍攝待檢產(chǎn)品獲得產(chǎn)品圖像，從產(chǎn)品圖像中分別獲取待檢產(chǎn)品中各個檢測目標(biāo)的位置參數(shù)作為實際位置參數(shù)，對實際位置參數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)位置參數(shù)進(jìn)行對比，將對比結(jié)果超過閾值的待檢產(chǎn)品判定為不符合檢測要求的缺陷品，將對比結(jié)果未超過閾值的待檢產(chǎn)品判定為符合檢測要求的合格品。