[發明專利]毫米波雷達射頻鏈路測試方法、裝置、雷達板及介質

有效

• 申請號: 202110536209.X
• 申請日: 2021-05-17
• 公開（公告）號: CN113064128B
• 公開（公告）日: 2023-09-01
• 發明（設計）人: 陳錦賢
• 申請（專利權）人: 廣州極飛科技股份有限公司
• 主分類號: G01S7/40
• 分類號: G01S7/40
• 代理公司: 北京遠智匯知識產權代理有限公司 11659
• 代理人: 范坤坤

本發明實施例公開了一種毫米波雷達射頻鏈路測試方法、裝置、雷達板和介質，包括：在檢測到測試啟動指令時，控制待測毫米波雷達板上的射頻鏈路執行與測試任務匹配的閉環收發測試，并獲取與閉環收發測試匹配的至少一項測試數據；其中，射頻鏈路包括發送鏈路和接收鏈路；通過使用接收鏈路中的接收天線陣列接收發送鏈路中的發送天線陣列所發送的信號，形成閉環收發測試；根據所述測試數據，生成對所述射頻鏈路的測試結果，實現了對毫米波雷達射頻鏈路的自動性能測試，提升了測試效率，且測試覆蓋了全部射頻鏈路，同時避免了專用測試環境的搭建，減少了額外的成本投入。

技術領域

本發明實施例涉及雷達測試技術領域，尤其涉及一種毫米波雷達射頻鏈路測試方法、裝置、雷達板及介質。

背景技術

射頻鏈路是影響毫米波雷達性能的主要因素，對毫米波雷達的射頻鏈路進行測試，對實現毫米波雷達性能的判斷具有重要意義。

目前，毫米波雷達的射頻鏈路測試方法，如圖1所示，通常需要搭建專門的微波暗室進行信號屏蔽，同時需要采用昂貴的射頻信號測試設備以獲取測試數據；此外，對于獲取的測試數據，需要有經驗的人員對測試數據進行人工分析，以判斷射頻鏈路的發射鏈路的好壞，測試效率低下；同時測試覆蓋的射頻鏈路只包括主控(Micro?Control?Unit，MCU)、鎖相環(Phase?Locked?Loop，PLL)、壓控振蕩器(Voltage-controlled?Oscillator?VCO)、射頻開關和射頻發射天線(ANT)，無法實現對全部射頻鏈路的測試覆蓋。

發明內容

本發明實施例提供一種毫米波雷達射頻鏈路測試方法、裝置、雷達板及介質，可以實現對毫米波雷達射頻鏈路性能的自動測試。

第一方面，本發明實施例提供了一種毫米波雷達射頻鏈路測試方法，由毫米波雷達板上的控制器執行，包括：

在檢測到測試啟動指令時，控制待測毫米波雷達板上的射頻鏈路執行與測試任務匹配的閉環收發測試，并獲取與閉環收發測試匹配的至少一項測試數據；

其中，射頻鏈路包括發送鏈路和接收鏈路；通過使用接收鏈路中的接收天線陣列接收發送鏈路中的發送天線陣列所發送的信號，形成閉環收發測試；

根據所述測試數據，生成對所述射頻鏈路的測試結果。

第二方面，本發明實施例還提供了一種毫米波雷達射頻鏈路測試裝置，應用于毫米波雷達板上的控制器，包括：

測試數據獲取模塊，用于在檢測到測試啟動指令時，控制待測毫米波雷達板上的射頻鏈路執行與測試任務匹配的閉環收發測試，并獲取與閉環收發測試匹配的至少一項測試數據；

其中，射頻鏈路包括發送鏈路和接收鏈路；通過使用接收鏈路中的接收天線陣列接收發送鏈路中的發送天線陣列所發送的信號，形成閉環收發測試；

測試結果生成模塊，用于根據所述測試數據，生成對所述射頻鏈路的測試結果。

第三方面，本發明實施例還提供了一種毫米波雷達板，所述毫米波雷達板包括：

一個或多個處理器；

存儲器，用于存儲一個或多個程序，

當所述一個或多個程序被所述一個或多個處理器執行，使得所述一個或多個處理器實現本發明任意實施例所述的毫米波雷達射頻鏈路測試方法。

第四方面，本發明實施例還提供了一種包含計算機可執行指令的存儲介質，其特征在于，所述計算機可執行指令在由計算機處理器執行時用于執行本發明任意實施例所述的毫米波雷達射頻鏈路測試方法。