[發(fā)明專利]快速介電溫譜測試方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110531565.2
• 申請日: 2021-05-14
• 公開（公告）號: CN113358938B
• 公開（公告）日: 2022-04-19
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 尹海宏;周宇祥;施天宇;趙晨媛;邵海寶;鄧洪海;黃靜;秦琳;張振娟
• 申請（專利權(quán)）人: 南通大學(xué)
• 主分類號: G01R27/26
• 分類號: G01R27/26
• 代理公司: 南京蘇科專利代理有限責(zé)任公司 32102
• 代理人: 蔣慧妮

在本發(fā)明中，使介電測試環(huán)境的溫度按照設(shè)定的升溫速率而隨時間線性升高，阻抗測試儀持續(xù)地以設(shè)定的頻率對待測試樣進(jìn)行介電測試，變溫測試箱中的溫度傳感器的測量數(shù)值、阻抗測試儀的介電測試數(shù)據(jù)通過連接線傳輸至計算機，由計算機進(jìn)行存儲和后期分析，測試數(shù)據(jù)保存為數(shù)據(jù)文件；然后標(biāo)定當(dāng)次測試的溫度傳感器測試溫度與待測試樣的實際溫度之間的差值；數(shù)據(jù)文件中的每一個溫度測量值扣除溫度傳感器測試溫度與待測試樣的實際溫度之間的差值后，得到待測試樣的實際溫度，最終得到待測試樣在設(shè)定頻率下的實際的介電溫譜。本發(fā)明的方法極大地縮短了測試時間。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種快速介電溫譜測試方法，是對發(fā)明專利申請CN2021102703196的進(jìn)一步改進(jìn)。

背景技術(shù)

介電溫譜相關(guān)現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)例舉如下(不限于)：

史翔，杜慧玲，張晰.氣氛環(huán)境介電溫譜測試系統(tǒng)的研制[J].西安科技大學(xué)學(xué)報，2011(04)：459-462467.

華強.低溫介電溫譜測試系統(tǒng)的研發(fā)與應(yīng)用[D].西安科技大學(xué)，2009.

張超，余大書.PLZT(7/40/60)薄膜介電馳豫特征的研究[J].天津師范大學(xué)學(xué)報(自然科學(xué)版)，2011，31(3)：41-44.

李為平，柳和生，那兵，等.聚偏氟乙烯基復(fù)合薄膜的構(gòu)筑及其介電和儲能特性[J]. 東華理工大學(xué)學(xué)報(自然科學(xué)版)，2019.

[5]Basceri C，Streiffer S K，Kingon A I，et al.The dielectric responseas a function of temperature and film thickness of fiber-textured(Ba，Sr)TiO₃thin films grown by chemical vapor deposition[J].Journal ofApplied Physics，1997，82(5)：2497-2504.

[6]Basceri，Cem，Streiffer，et al.The dielectric response as a functionof temperature and film thickness of fiber-textured.[J].Journal of AppliedPhysics，1997.

在我們的發(fā)明專利申請CN2021102703196中，提出了一種介電溫譜測試方法，該方法相對于現(xiàn)有技術(shù)，在測試速度上有了很大的提高，該技術(shù)方案核心在于：

控制待測試樣的溫度使其隨著時間線性地升高或降低；在測試時，將待測試樣放置于變溫測試箱內(nèi)，在計算機上設(shè)定介電測試環(huán)境的溫度隨時間線性升高或降低的變溫速率，設(shè)定目標(biāo)溫度值，設(shè)定介電測試的頻率；開始介電溫譜的測試，控制變溫測試箱內(nèi)的溫度按照設(shè)定的變溫速率而隨時間線性升高，介電測試環(huán)境的溫度隨時間線性升高過程中，阻抗測試儀持續(xù)地以設(shè)定的頻率對待測試樣進(jìn)行介電測試，變溫測試箱中的溫度傳感器的測量數(shù)值、阻抗測試儀的介電測試數(shù)據(jù)通過連接線傳輸至計算機，由計算機進(jìn)行存儲和后期分析，測試數(shù)據(jù)保存為數(shù)據(jù)文件；當(dāng)介電測試環(huán)境的溫度達(dá)到設(shè)定目標(biāo)溫度值時，停止測試；測試完成后得到待測試樣在設(shè)定頻率下的介電溫譜。設(shè)置介電測試環(huán)境的溫度隨時間線性變化的變溫速率為0.01～0.1℃/s。這一值是很小的變化速率，基本上可以看作是準(zhǔn)靜態(tài)過程，即，可近似地看作被測試試樣的溫度變化來得及跟上介電測試環(huán)境的溫度變化，介電測試環(huán)境的溫度就可以看作被測試試樣的溫度。在這一前提下，只要控制介電測試環(huán)境的溫度隨時間線性升高，持續(xù)地測量待測試樣的介電特性，即可測量得到待測試樣的介電溫譜。