[發明專利]卷褶視野磁共振圖像的重建方法、計算機設備及存儲介質

有效

• 申請號: 202110522711.5
• 申請日: 2021-05-13
• 公開（公告）號: CN113298901B
• 公開（公告）日: 2022-12-06
• 發明（設計）人: 梁棟;賈森;丘志浪;張磊;王海峰;劉新;鄭海榮
• 申請（專利權）人: 中國科學院深圳先進技術研究院
• 主分類號: G06T11/00
• 分類號: G06T11/00
• 代理公司: 深圳市銘粵知識產權代理有限公司 44304
• 代理人: 孫偉峰;但念念

1.一種卷褶視野磁共振圖像的重建方法，其特征在于，所述重建方法包括：

獲取目標對象在第一脈沖序列激發下的卷褶視野欠采樣數據；

獲取目標對象在第二脈沖序列激發下的全視野自校準采樣數據；

基于所述全視野自校準采樣數據計算全視野線圈敏感度圖；

根據所述卷褶視野欠采樣數據、全視野線圈敏感度圖進行圖像重建，獲得全視野磁共振圖像；

所述根據所述卷褶視野欠采樣數據、全視野線圈敏感度圖進行圖像重建，獲得磁共振圖像，包括：

將所述全視野線圈敏感度圖分解成第一卷褶視野線圈敏感度圖、第二卷褶視野線圈敏感度圖；

根據所述卷褶視野欠采樣數據、第一卷褶視野線圈敏感度圖、第二卷褶視野線圈敏感度圖建立優化模型；

求解所述優化模型的最小值，獲得兩個卷褶視野磁共振圖像；

將所述兩個卷褶視野磁共振圖像進行拼接獲得全視野磁共振圖像；

其中，所述優化模型被表示為下面的式子，

其中，M表示卷褶視野K空間的欠采樣模板，F_xy表示沿著頻率編碼方向和相位編碼方向的二維傅里葉變換，N_c表示線圈通道數量，C_i1表示第一卷褶視野線圈敏感度圖的第i通道的線圈敏感度圖，C_i2表示第二卷褶視野線圈敏感度圖的第i通道的線圈敏感度圖，y_i表示卷褶視野欠采樣數據的第i通道的欠采樣數據，λ表示稀疏約束權重，W表示小波變換，x_j表示待求解的兩個卷褶視野磁共振圖像。

2.根據權利要求1所述的重建方法，其特征在于，若所述卷褶視野欠采樣數據為采用笛卡爾采樣軌跡模式獲得的欠采樣數據，所述第一脈沖序列和所述第二脈沖序列相同。

3.根據權利要求1所述的重建方法，其特征在于，若所述卷褶視野欠采樣數據為采用波浪可控混疊編碼采樣軌跡模式獲得的欠采樣數據，所述第一脈沖序列是由所述第二脈沖序列增加正弦梯度場獲得，在根據所述卷褶視野欠采樣數據、全視野線圈敏感度圖進行圖像重建，獲得全視野磁共振圖像之前，所述重建方法還包括：

根據目標對象的全視野二維全采樣數據獲得全視野點擴散函數；

相應的，根據所述卷褶視野欠采樣數據、全視野線圈敏感度圖進行圖像重建，獲得全視野磁共振圖像具體為：

根據所述卷褶視野欠采樣數據、全視野線圈敏感度圖、全視野點擴散函數進行圖像重建，獲得全視野磁共振圖像。

4.根據權利要求3所述的重建方法，其特征在于，所述根據目標對象的全視野二維全采樣數據獲得全視野點擴散函數，包括：

獲取目標對象在第三脈沖序列激發下的第一全視野二維全采樣數據；

獲取目標對象在第四脈沖序列激發下的第二全視野二維全采樣數據，所述第四脈沖序列是由所述第三脈沖序列增加正弦梯度場獲得；

將所述第二全視野二維全采樣數據除以所述第一全視野二維全采樣數據得到全視野點擴散函數。

5.根據權利要求4所述的重建方法，其特征在于，所述將所述第二全視野二維全采樣數據除以所述第一全視野二維全采樣數據得到全視野點擴散函數，包括：

將所述第二全視野二維全采樣數據除以所述第一全視野二維全采樣數據得到初始點擴散函數；

將所述初始點擴散函數在K空間沿著頻率編碼方向進行線性擬合獲得全視野點擴散函數。

6.根據權利要求3所述的重建方法，其特征在于，所述根據所述卷褶視野欠采樣數據、全視野線圈敏感度圖、全視野點擴散函數進行圖像重建，獲得全視野磁共振圖像，包括：

將所述全視野線圈敏感度圖分解成第一卷褶視野線圈敏感度圖、第二卷褶視野線圈敏感度圖；

將所述全視野點擴散函數分解成第一卷褶視野點擴散函數、第二卷褶視野點擴散函數；

根據所述卷褶視野欠采樣數據、第一卷褶視野線圈敏感度圖、第二卷褶視野線圈敏感度圖、第一卷褶視野點擴散函數、第二卷褶視野點擴散函數建立優化模型；

求解所述優化模型的最小值，獲得兩個卷褶視野磁共振圖像；

將所述兩個卷褶視野磁共振圖像進行拼接獲得全視野磁共振圖像。