[發(fā)明專利]磁控筆自動測試系統(tǒng)及其測試方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110521904.9 | 申請日： | 2018-05-18 |
| 公開（公告）號： | CN113189432A | 公開（公告）日： | 2021-07-30 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 李暉;王志華 | 申請（專利權(quán)）人： | 神訊電腦（昆山）有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/00 | 分類號： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 215300 江蘇省蘇*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 磁控筆 自動 測試 系統(tǒng) 及其 方法 | ||
1.一種磁控筆自動測試系統(tǒng)，用于檢測磁控筆性能，其特征在于，包括：
電磁波頻率閾值數(shù)據(jù)庫，其預(yù)存各類磁控筆的電磁波頻率的閾值；
輸入單元，其收集待測磁控筆的產(chǎn)品序列號；
檢測單元，其與所述輸入單元相連接，該檢測單元自動獲取所述磁控筆的電磁波頻率值；
對比判斷單元，其與所述檢測單元及電磁波頻率閾值數(shù)據(jù)庫相連接，該對比判斷單元將所述檢測單元檢測到的電磁波頻率值與電磁波頻率閾值數(shù)據(jù)庫中的電磁波頻率閾值進行對比，并生產(chǎn)一對比結(jié)果及一測試記錄；
顯示單元，其與所述對比判斷單元相連接，該顯示單元顯示所述對比結(jié)果；
存儲單元，其與所述對比判斷單元相連接，該存儲單元將所述對比結(jié)果進行存儲。
2.如權(quán)利要求1中所述的磁控筆自動測試系統(tǒng)，其特征在于，所述電磁波頻率閾值數(shù)據(jù)庫預(yù)存各類磁控筆的電磁波頻率的閾值范圍為266KHz到274KHz之間。
3.如權(quán)利要求1中所述的磁控筆自動測試系統(tǒng)，其特征在于，所述輸入單元通過一條碼掃描器獲取所述磁控筆的產(chǎn)品序列號。
4.如權(quán)利要求1中所述的磁控筆自動測試系統(tǒng)，其特征在于，所述磁控筆自動測試系統(tǒng)還包括一關(guān)閉單元，其與所述存儲單元相連接，當(dāng)顯示單元顯示一段時間后該關(guān)閉單元關(guān)閉所述磁控筆自動測試系統(tǒng)。
5.一種磁控筆自動測試方法，應(yīng)用于上述磁控筆自動測試系統(tǒng)中，其特征在于，包括以下步驟：
(1)在電磁波頻率閾值數(shù)據(jù)庫預(yù)存各類磁控筆的電磁波頻率的閾值；
(2)輸入單元收集待測磁控筆的產(chǎn)品序列號；
(3)檢測單元自動獲取待測磁控筆的電磁波頻率值；
(4)對比判斷單元將獲取的電磁波頻率值與電磁波頻率閾值數(shù)據(jù)庫中的電磁波頻率的閾值進行對比判斷其是否在閾值范圍內(nèi)，并生產(chǎn)一對比結(jié)果及一測試記錄；
(5)若在閾值范圍內(nèi)，則顯示單元顯示對比結(jié)果通過；
(6)若不在閾值范圍內(nèi)，則顯示單元顯示對比結(jié)果不通過；
(7)存儲單元將所述測試記錄進行存儲。
6.如權(quán)利要求5中所述的磁控筆自動測試方法，其特征在于，所述步驟(2)還包括：輸入單元獲取測試人員的工號，用于跟蹤記錄該磁控筆的測試信息。
7.如權(quán)利要求5中所述的磁控筆自動測試方法，其特征在于，所述步驟(3)中的信號狀態(tài)值是通過偵測磁控筆60次的電磁波頻率值的平均值來確定。
8.如權(quán)利要求5中所述的磁控筆自動測試方法，其特征在于，所述測試記錄包括該磁控筆的電磁波頻率值以及對比結(jié)果。
9.如權(quán)利要求5中所述的磁控筆自動測試方法，其特征在于，所述測試記錄是以磁控筆的產(chǎn)品序列號命名的txt文檔。
10.如權(quán)利要求5中所述的磁控筆自動測試方法，其特征在于，所述步驟(7)后還包括步驟(8)，當(dāng)顯示單元顯示一段時間后關(guān)閉單元關(guān)閉所述磁控筆自動測試系統(tǒng)。
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