[發(fā)明專利]具有柵漏復合階梯場板結(jié)構(gòu)的增強型HEMT射頻器件及其制備方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110517159.0 | 申請日: | 2021-05-12 |
| 公開(公告)號: | CN113178480B | 公開(公告)日: | 2022-10-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 孫慧卿;夏凡;李淵;夏曉宇;譚秀洋;張淼;馬建鋮;黃志輝;王鵬霖;丁霄 | 申請(專利權(quán))人: | 華南師范大學 |
| 主分類號: | H01L29/40 | 分類號: | H01L29/40;H01L29/778;H01L21/335 |
| 代理公司: | 北京清控智云知識產(chǎn)權(quán)代理事務所(特殊普通合伙) 11919 | 代理人: | 仵樂娟 |
| 地址: | 510630 廣東省廣州市天*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 具有 復合 階梯 板結(jié) 增強 hemt 射頻 器件 及其 制備 方法 | ||
本發(fā)明涉及具有柵漏復合階梯場板結(jié)構(gòu)的增強型HEMT射頻器件及其制備方法,其通過在勢壘層表面設(shè)置一p型GaN區(qū)域,將柵極設(shè)置于該p型GaN區(qū)域上,進而在p型GaN區(qū)域朝向漏極的側(cè)墻上布置柵極階梯場板,在漏極朝向p型GaN區(qū)域的側(cè)墻上布置漏極階梯場板,階梯場板包含至少兩個子場板,子場板的寬度由上至下逐漸減小,其通過柵漏復合階梯場板的設(shè)置,改變了柵極靠近漏極一側(cè)以及漏極靠近柵極一側(cè)的電場分布并且提高柵漏之間的平均電場強度,提升了器件的耐壓性能和可靠性;柵極下方設(shè)置一p?GaN區(qū)域,結(jié)合柵漏復合階梯場板結(jié)構(gòu),使得的增強型HEMT射頻器件具有更小的柵漏電容,表現(xiàn)出更高的截止頻率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及增強型HEMT射頻器件領(lǐng)域,尤其涉及一種具有柵漏復合階梯場板結(jié)構(gòu)的增強型HEMT射頻器件及其制備方法。
背景技術(shù)
GaN屬于寬禁帶半導體材料,由于其飽和電子漂移速度大、擊穿電場強度高,還可與AlGaN形成異質(zhì)結(jié),并在該結(jié)構(gòu)界面處形成高飽和速率的二維電子氣。因此,GaN材料的器件能夠適應極高頻率場景下的應用。
然而目前使用凹槽柵法制作增強型HEMT器件居多,通過減薄或者完全去除柵區(qū)AlGaN層來降低該區(qū)二維電子氣濃度,同時保留接入?yún)^(qū)的二維電子氣。完全去除柵區(qū)AlGaN層可以增大器件的閾值電壓,但同時也會導致器件的電子遷移率低、導通電阻大。盡管通過減薄可以緩解這一問題,然而由于薄層AlGaN的存在,柵區(qū)存在一定濃度的二維電子氣造成閾值電壓較小。另一方面目前射頻器件的的擊穿電壓等性能無法滿足目前超高頻領(lǐng)域的需求,通過場板的設(shè)置可以改變電極附近的電場分布進而來改善器件整體的電學性能,如何通過場板的設(shè)置進一步提升器件的性能,是亟待解決的問題之一。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的首要目的是提供一種具有柵漏復合階梯場板結(jié)構(gòu)的增強型HEMT射頻器件極其制備方法,該器件通過在AlGaN勢壘層表面設(shè)置一p型GaN區(qū)域,將柵極設(shè)置于該p型GaN區(qū)域上,進而在p型GaN區(qū)域朝向漏極一側(cè)的側(cè)墻上布置柵極階梯場板,在漏極朝向p型GaN區(qū)域一側(cè)的側(cè)墻上布置漏極階梯場板,階梯場板包含至少兩個子場板,子場板的寬度由上至下逐漸減小,其通過改變電極附近的電場分布改善了射頻器件整體的電學性能,改變了柵極靠近漏極一側(cè)以及漏極靠近柵極一側(cè)的電場分布并且提高柵漏之間的平均電場強度,從而使得射頻器件的耐壓性能更強,提升了器件的可靠性;另一方面,柵極下方設(shè)置一p-GaN區(qū)域,借助p-GaN/n-AlGaN的內(nèi)建電場來提高異質(zhì)結(jié)界面處2DEG的勢阱,使其處于費米能級之上,在零柵壓下即可耗盡2DEG,實現(xiàn)常關(guān)特性。結(jié)合柵漏復合階梯場板結(jié)構(gòu),使得的增強型HEMT射頻器件具有更小的柵漏電容,表現(xiàn)出更高的截止頻率,該設(shè)置使得射頻器件更能適應超高頻領(lǐng)域的各種應用。本發(fā)明至少采用如下技術(shù)方案:
具有柵漏復合階梯場板結(jié)構(gòu)的增強型HEMT射頻器件,其包括:襯底,依次層疊于襯底上的緩沖層、溝道層和勢壘層,源極和漏極位于所述勢壘層表面兩側(cè),p型GaN區(qū)域和柵極依次層疊于源極和漏極之間的勢壘層表面;還包括,
包含至少兩個柵極子場板的柵極階梯場板,位于所述勢壘層表面,鄰接所述p型GaN區(qū)域朝向漏極的側(cè)壁布置;
包含至少兩個漏極子場板的漏極階梯場板,位于所述勢壘層表面,鄰接所述漏極朝向所述p型GaN區(qū)域的側(cè)壁布置;
其中,沿源極指向漏極的方向上,遠離所述勢壘層表面?zhèn)鹊乃鲎訄霭宓膶挾却笥诳拷鰟輭緦颖砻娴乃鲎訄霭宓膶挾取?/p>
所述柵極階梯場板包含依次層疊的第一柵極子場板、第二柵極子場板和第三柵極子場板,第一柵極子場板位于所述勢壘層表面,第三柵極子場板遠離所述勢壘層,第二柵極子場板位于第一柵極子場板和第三柵極子場板之間。
第一、第二和第三柵極子場板的總厚度等于p型GaN區(qū)域的厚度。
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H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘的半導體器件;具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對一個不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場變化可控的





