[發(fā)明專利]一種基于虛擬儀器的電子元器件測試系統(tǒng)及測試方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110516930.2
• 申請日: 2021-05-12
• 公開（公告）號: CN113092827A
• 公開（公告）日: 2021-07-09
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 肖波;劉時(shí)宇;韓濤;詹習(xí)生
• 申請（專利權(quán)）人: 湖北師范大學(xué)
• 主分類號: G01R1/02
• 分類號: G01R1/02;G01R19/25;G01R27/02;G01R27/26;G05B19/042;G06F8/34;G06F8/38;G06F11/30
• 代理公司: 北京金智普華知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11401
• 代理人: 藍(lán)曉玉

1.一種基于虛擬儀器的電子元器件測試方法，其特征在于，所述基于虛擬儀器的電子元器件測試方法包括以下步驟：

步驟一，基于虛擬儀器平臺(tái)，采用NE555定時(shí)器芯片組成電阻、電容、電感測量電路；

步驟二，進(jìn)行通道選擇，獲得待測元件的測量值；

步驟三，主控芯片與虛擬儀器平臺(tái)進(jìn)行通信，將測量值傳入上位機(jī)；

步驟四，通過軟件自動(dòng)進(jìn)行處理、判斷、存儲(chǔ)并顯示測試結(jié)果。

2.如權(quán)利要求1所述的基于虛擬儀器的電子元器件測試方法，其特征在于，所述步驟一中電阻、電感、電容的測量，包括：

(1)電阻測量：其中T₁為電容充電時(shí)間，T₂為電容放電時(shí)間，R₁＝1k，R₂＝1k，R_x為待測電阻；計(jì)算公式與RC振蕩的硬件電路有關(guān)，頻率f由單片機(jī)的定時(shí)器獲取，公式(3)由公式(2)演變，通過程序編寫公式(3)即可計(jì)算出待測電阻R_x；

T＝T₁+T₂＝ln2*(R_X+R₁+R₂)*C₁₂+ln2*(R₂+R_X)*C₁₂ (1)

(2)電容測量：與電阻測量方法基本一致，其中R₁＝1k，R₂＝1k，C_x為待測電容；計(jì)算公式(4)與RC振蕩的硬件電路有關(guān)，頻率f由單片機(jī)的定時(shí)器獲取，公式(6)由公式(5)演變，通過程序編寫公式(5)計(jì)算出待測電容C_x；

T＝T₁+T₂＝ln2*(R₁+R₂)*C_x+ln2*R₂*C_x (4)

(3)電感測量：電感測量采用的是電容三點(diǎn)式振蕩，與上述的電阻、電容測量原理不同；其中C₁，C₂均已知，L_x為待測電容；計(jì)算公式(7)與電容三點(diǎn)式振蕩的硬件電路有關(guān)，頻率f由單片機(jī)的定時(shí)器獲取，公式(9)由公式(8)演變，通過程序編寫公式(6)即可計(jì)算出待測電容L_x；

3.一種基于虛擬儀器的電子元器件測試系統(tǒng)，其特征在于，所述基于虛擬儀器的電子元器件測試系統(tǒng)包括：

測試控制系統(tǒng)，用于調(diào)配系統(tǒng)資源，完成對被測元件的測試，處理并顯示測試結(jié)果；

數(shù)據(jù)采集單元，對被測元件的測試數(shù)據(jù)進(jìn)行采集和轉(zhuǎn)換；

數(shù)據(jù)通信單元，將采集到的數(shù)據(jù)傳輸?shù)綔y試控制系統(tǒng)；

信號產(chǎn)生單元，為待測元件或硬件系統(tǒng)電路提供必要的輸入信號；

設(shè)備接口，用于為待測元件或硬件系統(tǒng)電路的輸入及輸出提供端口。