[發(fā)明專利]一種具有p-i-n型多量子阱結(jié)構(gòu)的紫外發(fā)光二極管有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110509332.2 | 申請日: | 2021-05-11 |
| 公開(公告)號: | CN113257962B | 公開(公告)日: | 2022-06-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張雄;房瑞庭;胡國華;崔一平 | 申請(專利權(quán))人: | 東南大學(xué) |
| 主分類號: | H01L33/00 | 分類號: | H01L33/00;H01L33/06;H01L33/32 |
| 代理公司: | 南京瑞弘專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 32249 | 代理人: | 吳旭 |
| 地址: | 211189 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 具有 多量 結(jié)構(gòu) 紫外 發(fā)光二極管 | ||
1.一種具有p-i-n型多量子阱結(jié)構(gòu)的紫外發(fā)光二極管,其特征在于,包括:由下到上依次設(shè)置的襯底(101)、AlN緩沖層(102)、n型AlGaN層(103)、p-i-n型多量子阱有源區(qū)(104)、電子阻擋層(105)、p型AlGaN層(106)、p型GaN歐姆接觸層(107),以及在n型AlGaN層(103)上設(shè)置的n型電極(108)和在p型GaN歐姆接觸層(107)上設(shè)置的p型電極(109);
p-i-n型多量子阱有源區(qū)(104)中的各量子壘由下至上依次為具有不同摻雜濃度的n型摻雜量子壘、無摻雜i型量子壘以及具有不同摻雜濃度的p型摻雜量子壘,即由下至上量子壘按摻雜類型以n1-n2-…-nx-i-p1-p2-…-py結(jié)構(gòu)排列,其中x和y分別為n型摻雜量子壘和p型摻雜的量子壘數(shù)目;n型摻雜量子壘中的電子濃度沿生長方向由下至上依次減小,而p型摻雜量子壘中的空穴濃度沿生長方向由下至上依次增大,且電子濃度滿足c(n1)c(n2)c(…)c(nx)、空穴濃度滿足c(p1)c(p2)c(…)c(py)的關(guān)系式;各量子壘之間為無摻雜量子阱。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的具有p-i-n型多量子阱結(jié)構(gòu)的紫外發(fā)光二極管,其特征在于,p-i-n型多量子阱有源區(qū)(104)中量子壘數(shù)目大于等于6;量子壘的Al組分始終高于量子阱的Al組分,量子壘的厚度為5~10nm;其中,n型摻雜量子壘中的電子濃度范圍為1×1017~1×1019cm-3,但始終小于n型AlGaN層(103)中的電子濃度;而p型摻雜量子壘中的空穴濃度范圍為1×1017~1×1019cm-3,但始終小于最上端的p型摻雜量子壘中的空穴濃度;最上端的p型摻雜量子壘的厚度為5~20nm,其中的空穴濃度范圍為4×1017~2×1019cm-3,但始終低于電子阻擋層(105)中的空穴濃度;無摻雜量子阱的厚度為2~4nm。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的具有p-i-n型多量子阱結(jié)構(gòu)的紫外發(fā)光二極管,其特征在于,n型AlGaN層(103)中的電子濃度范圍為5×1017~2×1019cm-3,厚度為200~5000nm。
4.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一所述的具有p-i-n型多量子阱結(jié)構(gòu)的紫外發(fā)光二極管,其特征在于,電子阻擋層(105)的Al組分高于p-i-n型多量子阱有源區(qū)(104)中量子壘的Al組分,并采用p型摻雜,空穴濃度范圍為5×1017~3×1019cm-3,但始終高于p-i-n型多量子阱有源區(qū)(104)的最上端的p型摻雜量子壘中的空穴濃度,且厚度為10~50nm。
5.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一所述的具有p-i-n型多量子阱結(jié)構(gòu)的紫外發(fā)光二極管,其特征在于,AlN緩沖層(102)是利用金屬有機(jī)化合物化學(xué)氣相沉積或分子束外延方法在藍(lán)寶石、碳化硅、硅襯底上生長的,厚度為10~3000nm。
6.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一所述的具有p-i-n型多量子阱結(jié)構(gòu)的紫外發(fā)光二極管,其特征在于,p型AlGaN層(106)中的空穴濃度范圍為5×1017~3×1019cm-3,厚度為50~500nm;p型GaN歐姆接觸層(107)采用Mg進(jìn)行重?fù)诫s,空穴濃度范圍為1×1018~4×1019cm-3,厚度為5~200nm。
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