[發明專利]光學感測設備及其測量方法及電子設備在審
| 申請號: | 202110508807.6 | 申請日: | 2021-05-11 |
| 公開(公告)號: | CN112987023A | 公開(公告)日: | 2021-06-18 |
| 發明(設計)人: | 張耿立 | 申請(專利權)人: | 深圳阜時科技有限公司 |
| 主分類號: | G01S17/894 | 分類號: | G01S17/894;G06F17/15 |
| 代理公司: | 深圳市倡創專利代理事務所(普通合伙) 44660 | 代理人: | 羅明玉 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光學 設備 及其 測量方法 電子設備 | ||
1.一種光學感測設備,其特征在于,所述光學感測設備包括:
發射器,經配置發射光脈沖;
接收器,包括多個像素,所述像素用于接收發射的光脈沖被目標物體反射的光脈沖,并轉換接收到的光脈沖為相應的電信號;
TDC模塊,用于計算所述電信號的時間間隔,并將所述時間間隔轉換成時間戳;
統計模塊,基于所述時間戳在與所述時間戳相對應的時間單元上進行計數得到各像素的第一感測數據;
第一內存,用于存儲所述各像素的第一感測數據;
糾錯計算模塊,用于當一段預設測量周期結束且總測量周期未結束時,對部分或者全部像素的第一感測數據進行糾錯運算生成相應的第二感測數據,所述總測量周期包含多段預設測量周期,所述預設測量周期包括多個光脈沖周期;
第二內存,用于存儲所述第二感測數據;
信噪比運算模塊,用于計算所述第二感測數據的信噪比并將所述信噪比與預設閾值進行比較;當所述信噪比與所述預設閾值相匹配時,所述信噪比運算模塊還用于輸出停止指令以控制所述發射器停止發射光脈沖;以及
生成模塊,用于當所述第二感測數據的信噪比與所述預設閾值相匹配時,根據所述第二感測數據和/或所述第一感測數據生成測量數據。
2.如權利要求1所述的光學感測設備,其特征在于,當所述總測量周期結束且所述第二感測數據的信噪比與所述預設閾值不匹配時,所述生成模塊還用于根據所述第二感測數據或者所述第一感測數據生成測量數據。
3.如權利要求1所述的光學感測設備,其特征在于,所述信噪比運算模塊包括:
信噪比計算模塊,用于根據所述第二感測數據計算出對應的像素的信噪比;以及
比較模塊,用于比較所述信噪比與所述預設閾值的大小以得到所述信噪比與所述預設閾值是否相匹配。
4.如權利要求1所述的光學感測設備,其特征在于,當所述信噪比與所述預設閾值不匹配時,所述發射器繼續發射光脈沖。
5.如權利要求1所述的光學感測設備,其特征在于,所述信噪比運算模塊還用于檢測所述總測量周期是否結束,并當總測量周期結束時控制所述發射器停止發射光脈沖。
6.如權利要求1所述的光學感測設備,其特征在于,所述光學感測設備為單點飛行時間傳感器。
7.如權利要求6所述的光學感測設備,其特征在于,所述第二內存的大小與所述第一內存的大小相同,所述糾錯計算模塊對所述第一內存中全部像素的第一感測數據進行糾錯運算;當所述第二感測數據與所述預設閾值相匹配時,所述生成模塊根據所述第二感測數據生成測量數據。
8.如權利要求1所述的光學感測設備,其特征在于,所述第二內存的大小小于所述第一內存的大小,所述糾錯計算模塊對所述第一內存中部分像素的第一感測數據進行糾錯運算;當所述第二感測數據與所述預設閾值相匹配時,所述生成模塊根據所述第二感測數據和另一部分像素的第一感測數據生成測量數據。
9.如權利要求8所述的光學感測設備,其特征在于,所述光學感測設備還包括分塊模塊和第一選擇模塊,所述分塊模塊用于將全部像素根據預設規則劃分為若干大小相同的像素點陣;所述第一選擇模塊用于從每一所述像素點陣的相同位置中選取一個像素得到測試像素;其中,所述測試像素對應的第一感測數據為由所述糾錯計算模塊進行糾錯運算的部分像素的第一感測數據。
10.如權利要求8所述的光學感測設備,其特征在于,所述光學感測設備還包括第二選擇模塊,所述總測量周期還包括測試測量周期,測試測量周期在多段預設測量周期開始之前,所述信噪比運算模塊還用于當測試測量周期結束時,根據所述第一內存中的各像素的第一感測數據計算出各像素的信噪比;所述第二選擇模塊用于根據各像素的信噪比從各像素中選擇出一個或者多個像素作為測試像素;其中,所述測試像素對應的第一感測數據為由所述糾錯計算模塊進行糾錯運算的部分像素的第一感測數據。
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