[發明專利]一種小型高溫超導器件測試系統

在審

• 申請號: 202110508195.0
• 申請日: 2021-05-10
• 公開（公告）號: CN113109689A
• 公開（公告）日: 2021-07-13
• 發明（設計）人: 王華兵;臧子哲;孫漢聰;吳培亨
• 申請（專利權）人: 南京大學
• 主分類號: G01R31/265
• 分類號: G01R31/265;G01R1/04
• 代理公司: 南京申云知識產權代理事務所(普通合伙) 32274
• 代理人: 邱興天

1.一種小型高溫超導器件測試系統，其特征在于：包括固定在底板(8)上的制冷機(4)、壓縮機(3)、控制器和樣品架；制冷機(4)與壓縮機(6)相連用于實現測試系統的制冷；制冷機(4)與樣品架(1)相連，所提供的冷源直接為樣品架(1)制冷；在樣品架(1)上放置硅透鏡用來進行太赫茲波的引入聚焦以及輻射引出；控制器控制壓縮機的運行。

2.根據權利要求1所述的小型高溫超導器件測試系統，其特征在于：所述的樣品架(1)分為配合使用的上下兩部分，上半部分(11)為圓柱中空結構，且具有向下的插腳，下半部分(12)為圓環結構，具有配合插腳使用的缺口，插腳插入缺口后使得樣品架(1)整體近乎全封閉。

3.根據權利要求1所述的小型高溫超導器件測試系統，其特征在于：所述的樣品架(1)采用無氧銅材質制作。

4.根據權利要求1所述的小型高溫超導器件測試系統，其特征在于：在所述的樣品架(1)的上半部分(11)的中空結構的中間放置硅透鏡(4)。

5.根據權利要求1所述的小型高溫超導器件測試系統，其特征在于：所述的樣品架(1)通過螺絲與底下一片銅片(2)與制冷機(4)的冷指(3)進行固定。

6.根據權利要求1所述的小型高溫超導器件測試系統，其特征在于：所述的樣品架(1)頂部安裝透明的窗片(7)。

7.根據權利要求1所述的小型高溫超導器件測試系統，其特征在于：所述的制冷機(4)左半部分通過兩個打孔零件與底板(8)固定，右半部分通過金屬卡箍進行固定，同時在右邊預裝兩個風扇進行散熱。