[發明專利]一種彈力測試機及其點檢方法

在審

• 申請號: 202110507663.2
• 申請日: 2021-05-10
• 公開（公告）號: CN113049163A
• 公開（公告）日: 2021-06-29
• 發明（設計）人: 黃堪設;封宇
• 申請（專利權）人: 東莞市川富電子有限公司
• 主分類號: G01L5/00
• 分類號: G01L5/00
• 代理公司: 東莞市啟信展華知識產權代理事務所(普通合伙) 44579
• 代理人: 葉國榮

本發明涉及一種彈力測試機及其點檢方法，包括機臺以及設置在機臺上的測試臺、存儲倉、測試裝置、移動機構，測試臺放置進行彈力測試的物料，彈力測試通過移動機構的驅動在存儲倉與測試臺之間移動；測試裝置包括多個按矩陣分布的感應組件，感應組件包括測力傳感器和探頭，探頭設置在測力傳感器的感應端，存儲倉放置有多個用于對各測力傳感器進行點檢的砝碼，探頭具有進行彈力測試時與物料接觸的第一接觸部、進行點檢時與砝碼接觸并將砝碼提出存儲倉的第二接觸部。本發明通過探頭上不能被磁化的第一接觸部和能被磁化或具有磁性的第二接觸部將點檢和測試分開接觸，一次就點檢完成機臺上的所有測力傳感器，免去繁雜的手工掛砝碼和人工確認數據。

技術領域

本發明涉及彈簧針生產技術領域，特別涉及一種彈力測試機及其點檢方法。

背景技術

彈簧針是一種由針軸、彈簧和針管三個基本部件形成的彈簧式探針，廣泛應用于半導體設備中，起電連接作用。在彈簧針組裝完成后需要進行彈力測試，以保證彈簧針的一致性，測試過程是將多個彈簧針放置在托盤上，彈簧測試機對托盤上的彈簧針進行彈力測試，現有的彈簧測試機一般只設計一個或一排彈力測試探頭，單次只能測試一個或幾個彈簧針，測試效率有待提高。

發明內容

為了解決現有技術的不足，本發明提供一種彈力測試機，其可以一次就點檢完成機臺上所有力測力傳感器，免去繁雜的手工掛砝碼和人工確認數據，其可以單次對多個彈簧針同時進行彈力測試。

為了解決現有技術的不足，本發明還提供一種彈力測試機的點檢方法。

為實現上述目的，本發明提供的技術方案為：一種彈力測試機，包括機臺以及設置在機臺上的測試臺、存儲倉、測試裝置、移動機構，所述測試臺放置進行彈力測試的物料，所述彈力測試通過移動機構的驅動在存儲倉與測試臺之間移動；所述測試裝置包括多個按矩陣分布的感應組件，所述感應組件包括測力傳感器和探頭，所述探頭設置在測力傳感器的感應端，所述存儲倉放置有多個用于對各測力傳感器進行點檢的砝碼，所述探頭具有進行彈力測試時與物料接觸的第一接觸部、進行點檢時與砝碼接觸并將砝碼提出存儲倉的第二接觸部。

在上述技術方案中，所述存儲倉包括倉體、活動片、驅動件，所述活動片通過驅動件可移動的設置在倉體上，所述倉體沿厚度方向設置有多個放置砝碼的置物腔，所述活動片設置有對置物腔內的砝碼進行鎖定及解鎖的鎖定部，在鎖定狀態，所述鎖定部位于砝碼從置物腔脫離的方向上以阻擋砝碼從置物腔內脫離；在解鎖狀態，所述鎖定部不在砝碼從置物腔脫離的方向上，所述活動片通過驅動件進行鎖定狀態和解鎖狀態之間的切換。

在上述技術方案中，所述砝碼具有直徑小于砝碼本體直徑的頸部，所述砝碼頸部的頂端面嵌設有磁性件，相應的所述第二接觸部為能被磁化或具有磁性的接觸件，所述第一接觸部為不能被磁化的接觸件；所述鎖定部為內徑介于砝碼頸部直徑與砝碼本體直徑之間的孔位。

在上述技術方案中，所述第一接觸部為不能被磁化的接觸件，所述第二接觸部為吸盤，所述砝碼本體的頂端面具有供吸盤吸附的平面，所述鎖定部為內徑介于吸盤直徑與砝碼本體直徑之間的孔位。

在上述技術方案中，所述測試裝置包括殼體，所述殼體內設置有至少兩層感應組件，所述殼體包括至少一個定位板，所述定位板設置有至少兩個相互之間具有高度差的定位槽，所述測力傳感器的固定端設置有安裝在定位槽內的定位塊。

在上述技術方案中，所述定位槽與定位塊之間具有預定位結構、豎直調節結構和水平調節結構，所述定位塊通過預定位結構可活動的設置在定位槽內，通過豎直調節結構、水平調節結構分別調節定位塊在定位槽內豎直方向上和水平方向上的位置。