[發明專利]測量裝置

有效

• 申請號: 202110502067.5
• 申請日: 2021-05-08
• 公開（公告）號: CN113340175B
• 公開（公告）日: 2023-03-31
• 發明（設計）人: 許金龍;李軍建;孫炳通;郭立剛;王永峰
• 申請（專利權）人: 中核工程咨詢有限公司
• 主分類號: G01B5/02
• 分類號: G01B5/02;G01B5/06
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 李文麗

1.一種測量裝置，其特征在于，包括：

測量組件，包括第一桿體和第一支撐組件，所述第一桿體的一端可拆卸連接于所述第一支撐組件，所述第一桿體的另一端設有用于接觸被測物體的第一接觸部；

位移檢測機構，包括基準部件和活動部件，所述活動部件連接于所述第一支撐組件，所述第一支撐組件及所述活動部件滑動連接于所述基準部件且可沿所述第一桿體的軸向移動，用于獲取所述測量組件的位移量；

第二支撐組件，一端設有用于接觸被測物體的第二接觸端，另一端連接于所述基準部件；

其中，所述第二接觸端包括薄片，所述薄片的一端轉動連接于所述第二支撐組件，另一端用于隔離所述第一接觸部和被測物體，所述第一接觸部適于抵接于所述薄片以獲取第一測量點，轉動所述薄片使所述第一接觸部由抵接狀態切換為測量狀態，在所述測量狀態，所述第一接觸部適于插入被測物體以獲取第二測量點，基于所述第一測量點、第二測量點和所述薄片的厚度獲取所述位移量。

2.根據權利要求1所述的測量裝置，其特征在于，所述第一支撐組件包括多個第二桿體，多個所述第二桿體之間可拆卸連接，至少一個所述第二桿體與所述第一桿體可拆卸連接。

3.根據權利要求2所述的測量裝置，其特征在于，所述活動部件設有第一線體，所述基準部件設有第二線體，所述第一線體和所述第二線體中的一者包括多個刻度線，另一者包括基準線，多個所述刻度線沿所述第二桿體的軸向線性分布。

4.根據權利要求3所述的測量裝置，其特征在于，所述活動部件螺紋連接于所述第一支撐組件，所述第一線體圍繞所述活動部件一周。

5.根據權利要求3所述的測量裝置，其特征在于，所述第一接觸部包括探針。

6.根據權利要求5所述的測量裝置，其特征在于，所述第二支撐組件包括多個第三桿體，多個所述第三桿體之間可拆卸連接，至少一個所述第三桿體設有所述第二接觸端，至少一個所述第三桿體連接于所述基準部件。

7.根據權利要求5所述的測量裝置，其特征在于，所述基準部件螺紋連接于所述第二支撐組件，所述第二線體圍繞所述基準部件一周。

8.根據權利要求5-7任一項所述的測量裝置，其特征在于，還包括連接件，所述連接件設有第一通孔和第二通孔，所述第一通孔與所述第一支撐組件滑動配合，所述第二通孔與所述第二支撐組件滑動配合。