[發明專利]一種大直徑鋁合金鑄錠晶粒度檢驗裝置及自動檢驗方法

在審

• 申請號: 202110499375.7
• 申請日: 2021-04-28
• 公開（公告）號: CN113138145A
• 公開（公告）日: 2021-07-20
• 發明（設計）人: 王宇;李恩波;屈玉石;王周冰;韓世濤;陸宏韜
• 申請（專利權）人: 遼寧忠旺集團有限公司
• 主分類號: G01N15/02
• 分類號: G01N15/02;G01N1/32;G01N1/34
• 代理公司: 北京同恒源知識產權代理有限公司 11275
• 代理人: 楊柳岸

1.一種大直徑鋁合金鑄錠晶粒度檢驗裝置，其特征在于：包括通風櫥、噴淋裝置、視覺單元、計算處理系統；所述通風櫥內設有用于放置鋁合金鑄錠的工作臺；所述噴淋裝置設于工作臺上方，并與通風櫥固定連接；所述視覺單元設于工作臺上方；所述視覺單元與計算處理系統連接。

2.根據權利要求1所述的一種大直徑鋁合金鑄錠晶粒度檢驗裝置，其特征在于：所述通風櫥內還設有環形廢液過濾池，所述工作臺設于環形廢液過濾池內；所述環形廢液過濾池外側設有用于夾持鋁合金鑄錠的機械手，所述機械手與計算處理系統連接。

3.根據權利要求1所述的一種大直徑鋁合金鑄錠晶粒度檢驗裝置，其特征在于：所述噴淋裝置包括水噴淋裝置、腐蝕液噴淋裝置；所述水噴淋裝置、腐蝕液噴淋裝置分別設于視覺單元兩側。

4.根據權利要求1所述的一種大直徑鋁合金鑄錠晶粒度檢驗裝置，其特征在于：所述通風櫥上設有通風閥、觀察窗、控制器，所述通風閥均勻分布在通風櫥側壁上，所述控制器設于觀察窗一側，所述噴淋裝置、通風閥與控制器連接，并受控制器控制。

5.根據權利要求1所述的一種大直徑鋁合金鑄錠晶粒度檢驗裝置，其特征在于：所述視覺單元包括掃描儀、探照燈；所述掃描儀設于工作臺上方，并固定設置在通風櫥頂部；所述探照燈設于通風櫥側壁上。

6.一種晶粒度自動檢驗方法，其特征在于，包括如下步驟：

S1、建立晶粒度標準圖庫：錄入晶粒度1級到8級圖譜，形成晶粒度標準圖庫；

S2、裝夾鑄錠：通過機械手將鋁合金圓鑄錠放置于工作臺上，并擦拭干凈鑄錠截面；

S3、鑄錠截面腐蝕處理：依次對鑄錠截面進行腐蝕液噴淋、水噴淋，腐蝕鑄錠截面并沖洗干凈；

S4、晶粒圖像獲取：通過視覺單元獲取腐蝕后的鋁合金圓鑄錠截面圖片，并傳輸至計算處理系統；

S5、晶粒度等級計算：在計算處理系統中對鑄錠截面圖片進行處理，并通過計算晶粒平均面積F進行晶粒度評級，獲得晶粒度等級。

7.根據權利要求6所述的一種晶粒度自動檢驗方法，其特征在于：步驟S5中，計算處理系統對鑄錠截面圖片整體進行掃描對比，對比找出鑄錠截面圖片中最大晶粒位置，并以該位置為中心獲取晶粒圖片，所述晶粒圖片大小與晶粒度標準圖庫中圖譜大小相同。

8.根據權利要求7所述的一種晶粒度自動檢驗方法，其特征在于：所述晶粒平均面積計算方法為：在晶粒圖片中選取面積為S的設定區域，獲取該區域內的完整晶粒數為p，被該區域邊界線所切割的晶粒數為g；當g為偶數時，晶粒總數n＝p+0.5g；當g為奇數時，晶粒總數n＝p+0.5(g+1)；晶粒平均面積F＝S/n。

9.根據權利要求7所述的一種晶粒度自動檢驗方法，其特征在于：步驟S5中，選取與獲得的晶粒度等級對應的晶粒度標準圖庫中的圖譜，將晶粒圖片與圖譜進行對比，判斷是否相匹配。