[發明專利]一種用于暗場單粒子散射譜重建的校準方法

在審

• 申請號: 202110499257.6
• 申請日: 2021-05-10
• 公開（公告）號: CN115326682A
• 公開（公告）日: 2022-11-11
• 發明（設計）人: 劉國華;杜謙;張文嘉
• 申請（專利權）人: 南開大學
• 主分類號: G01N15/10
• 分類號: G01N15/10;G01N21/49
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種用于暗場單粒子散射譜重建的校準方法，其特征在于：所述校準機理基于數字信號系統和光散射原理；所述三類校準方法，第一種是數值近似方法，采用傳統的福格特函數；第二種是采用精確數值解，通過求解構造的對角稀疏矩陣與光譜矩陣點乘的矩陣方程；第三種是采用推導的近似解析解。

2.根據權利要求1所述的校準機理，其特征在于：采用數字信號處理的思想和光散射原理，而不是傳統的物理化學思想來表征暗場傳感系統。采用曲頂采樣過程等效處理暗場單粒子散射譜的提取過程，得到數學表達I_sca(λ)＝G(λ)*I(λ)，G(λ)代表入射準單色光，I(λ)為高斯型曲頂采樣序列。

3.根據權利要求1所述的三類校準方法，其特征在于：方法一將在天體物理學、等離子物理學、中子散射、激光光譜學等學科中常用的函數福格特函數遷移至此處，利用其本質相同的特點，近似校準；方法二，將入射光譜和粒子散射譜離散化，構建I_sca＝G×I或其中，G為入射光矩陣，為大型對角稀疏矩陣，I為檢測得到的粒子散射譜，為行矩陣，求解矩陣方程即可得到校準值；方法三，近似將洛倫茲線型的粒子散射譜近似為高斯線型，推導得到的解析解，可簡易直接地得到校準值。