[發(fā)明專利]放射線攝像裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110497595.6
• 申請日: 2021-05-07
• 公開（公告）號: CN114145760A
• 公開（公告）日: 2022-03-08
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 小野內(nèi)雅文;石津崇章
• 申請（專利權(quán)）人: 富士膠片醫(yī)療健康株式會社
• 主分類號: A61B6/00
• 分類號: A61B6/00
• 代理公司: 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021
• 代理人: 吳秋明

本發(fā)明提供放射線攝像裝置，能將放射線源的位置固定不變地進行檢測器與準(zhǔn)直器的對位。放射線攝像裝置具備：放射線源，其對被攝體照射放射線；多個檢測元件，其檢測所述放射線的光子；和準(zhǔn)直器，其配置于所述放射線源與所述檢測元件之間，具有形成所述放射線所通過的多個通過孔的多個壁，特征在于，將所述檢測元件和所述準(zhǔn)直器在與照射所述放射線的方向正交的方向上進行對位，使得隔開所述壁而相鄰的檢測元件間的輸出信號的比或差收在給定范圍內(nèi)。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及搭載了光子計數(shù)型檢測器的放射線攝像裝置，涉及用在散射線除去中的準(zhǔn)直器與光子計數(shù)型檢測器的對位。

背景技術(shù)

采用光子計數(shù)方式的檢測器即光子計數(shù)型檢測器與現(xiàn)有的電荷積分型的檢測器不同，能對向形成于半導(dǎo)體層的各檢測元件入射的放射線的光子分別進行計數(shù)并且測量各光子的能量。因此，搭載了光子計數(shù)型檢測器的光子計數(shù)CT(Computed Tomography，計算機斷層攝影)裝置與搭載了電荷積分型的檢測器的CT裝置相比，能得到更多的信息。

在以CT裝置為代表的放射線攝像裝置中，為了抑制在被攝體等產(chǎn)生的散射線向檢測元件的入射，在被攝體與檢測元件之間配置用鎢、鉬、鉭等重金屬形成的作為狹縫或格柵的準(zhǔn)直器。其中，在準(zhǔn)直器相對于檢測元件的對位的精度不充分的情況下，會在CT裝置所生成的斷層圖像產(chǎn)生被稱作偽影的偽像。

在專利文獻1中，公開了能相對于檢測元件將準(zhǔn)直器高精度進行對位的放射線攝像裝置。具體公開了：針對不同的射線源位置取得從準(zhǔn)直器的壁起第給定數(shù)個檢測元件的輸出，以兩個射線源位置的中間為軸使一方的輸出反轉(zhuǎn)，基于使反轉(zhuǎn)的輸出與另一方的輸出的差異來將檢測元件和準(zhǔn)直器進行對位。

現(xiàn)有技術(shù)文獻

專利文獻

專利文獻1：JP專利第5852540號公報

但在專利文獻1中，為了進行檢測元件與準(zhǔn)直器的對位，需要在兩個射線源位置中取得各檢測元件的輸出，對位所需要的工時增加。

發(fā)明內(nèi)容

因此，本發(fā)明目的在于，提供能將放射線源的位置固定不變地進行檢測元件與準(zhǔn)直器的對位的放射線攝像裝置。

為了達成上述目的，本發(fā)明具備：放射線源，其對被攝體照射放射線；多個檢測元件，其檢測所述放射線的光子；和準(zhǔn)直器，其配置于所述放射線源與所述檢測元件之間，具有形成所述放射線所通過的多個通過孔的多個壁，特征在于，將所述檢測元件和所述準(zhǔn)直器在與照射所述放射線的方向正交的方向上進行對位，使得隔開所述壁而相鄰的檢測元件間的輸出信號的比或差收在給定范圍內(nèi)。

發(fā)明的效果

根據(jù)本發(fā)明，能提供能將放射線源的位置固定不變地進行檢測器與準(zhǔn)直器的對位的放射線攝像裝置。

附圖說明

圖1是表示運用本發(fā)明的X射線CT裝置的整體結(jié)構(gòu)的圖。

圖2A是檢測元件模塊的一例的頂視圖，是對一個半導(dǎo)體層與一個準(zhǔn)直器建立對應(yīng)的情況進行說明的圖。

圖2B是圖2A的A-A截面圖。

圖3A是檢測元件模塊的其他示例的頂視圖，是對兩個半導(dǎo)體層與一個準(zhǔn)直器建立對應(yīng)的情況進行說明的圖。

圖3B是圖3A的B-B截面圖。

圖4A是對隔開壁而相鄰的檢測元件進行說明的圖。

圖4B是對隔開壁而相鄰的檢測元件間的輸出信號進行說明的圖。

圖5A是對相對于半導(dǎo)體層而準(zhǔn)直器的位置偏離的情況進行說明的圖。

圖5B是對圖5A的情況的檢測元件間的輸出信號進行說明的圖。