[發明專利]一種檢測玻璃內部易爆物的方法和設備

在審

• 申請號: 202110497115.6
• 申請日: 2021-05-07
• 公開（公告）號: CN113109303A
• 公開（公告）日: 2021-07-13
• 發明（設計）人: 俞國林;樊暉;葉寶忠
• 申請（專利權）人: 鄭州市欣創玻璃技術有限公司
• 主分類號: G01N21/63
• 分類號: G01N21/63
• 代理公司: 東莞知達信知識產權代理事務所(普通合伙) 44716
• 代理人: 崔明思

本專利涉及檢測設備技術領域，特別是一種利用檢測玻璃內部易爆物的方法和設備。方法包括步驟一：使用激光照射被檢玻璃；步驟二：接收被檢玻璃的出射光；步驟三：判斷出射光中是否包括玻璃內部易爆物的光致發光；裝置包括激光光源，用于向被檢玻璃照射激光；探測器，用于分析被檢玻璃的出射光，得到出射光的波長；處理器，用于判斷出射光的波長是否包括玻璃內部易爆物的光致發光對應的波長。采用本專利的技術方案，當被檢玻璃含有易爆物時，出射光中會包括其光致發光，從而分辨出含有易爆物的玻璃板，與傳統的人工目測的方法相比，采用本專利的檢測效率高且不易發生漏檢。

技術領域

本專利涉及檢測設備技術領域，特別是一種利用檢測玻璃內部易爆物的方法和設備。

背景技術

玻璃在生產的過程中，玻璃原料熔融后，其中的雜質，比如金屬,積炭等熔點高于玻璃熔融溫度的物質夾帶入玻璃原料中，從而導致生產后的玻璃內部含有粒子、氣泡、夾石等雜質。玻璃內部異物的存在會導致玻璃在使用過程中出現一系列的問題，當把內部有異物的玻璃加工成鋼化玻璃時，由于異物在高溫和常溫狀態下的收縮率等與玻璃不同，因此，玻璃在鋼化后，異物的存在會破壞鋼化玻璃的力學穩定性，目前許多研究指出其中硫化鎳的存在，容易造成鋼化玻璃的自爆，為使用安全埋下了隱患。另外，玻璃內部異物的存在也會影響玻璃的外觀。因此，在玻璃生產后對玻璃及時進行檢測，排除含有異物的玻璃至關重要，但目前玻璃生產廠家一般都是采用人工目測的方法進行檢測，這種檢測效率低，勞動強度大。

熒光，漢語詞語。又作“螢光”，是指一種光致發光的冷發光現象。當某種常溫物質經某種波長的入射光(通常是紫外線或X射線)照射，吸收光能后進入激發態，并且立即退激發并發出比入射光的波長長的出射光(通常波長在可見光波段)。這是由于光照射到某些原子時，光的能量使原子核周圍的一些電子由原來的軌道躍遷到了能量更高的軌道，即從基態躍遷到第一激發單線態或第二激發單線態等。第一激發單線態或第二激發單線態等是不穩定的，所以會恢復基態，當電子由第一激發單線態恢復到基態時，能量會以光的形式釋放，所以產生熒光。相比拉曼散射效應，光致發光的出射光與入射光之間的波長之差更大，因此在物質檢測和鑒定等領域逐步得到了應用。

發明內容

本專利的目的是提供了一種利用光致發光光譜檢測玻璃內部硫化鎳易爆物的設備，可以全自動檢測玻璃中是否含有硫化鎳，解決了目前采用人工目測的方法對玻璃進行檢查導致檢測效率低、勞動強度大的問題，本專利的技術方案如下：

一種檢測玻璃內部易爆物的方法，包括：

步驟一：使用激光照射被檢玻璃；

步驟二：接收被檢玻璃的出射光；

步驟三：判斷出射光中是否包括玻璃內部易爆物的光致發光。

進一步：

還包括步驟四：連續傳送被檢玻璃。

更進一步：

方法還包括：重復步驟一至四。

步驟三還包括：當接收到玻璃內部易爆物的光致發光時，報警。

判斷出射光中是否包括玻璃內部易爆物的光致發光，還包括：

檢測出射光的波長，并與預設波長進行對比。

接收被檢玻璃的出射光，還包括：

過濾出射光中激光的波長的光。

一種檢測玻璃內部易爆物的裝置，包括被檢玻璃，還包括：

激光光源，用于向被檢玻璃照射激光；

探測器，用于分析被檢玻璃的出射光，得到出射光的波長；

處理器，用于判斷出射光的波長是否包括玻璃內部易爆物的光致發光對應的波長。