[發(fā)明專利]天線測試方法、裝置、終端設備、天線測試系統(tǒng)及介質

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110494992.8
• 申請日: 2021-05-07
• 公開（公告）號: CN113109634B
• 公開（公告）日: 2023-07-21
• 發(fā)明（設計）人: 于海濤
• 申請（專利權）人: 北京和德宇航技術有限公司
• 主分類號: G01R29/10
• 分類號: G01R29/10;G01R31/54;G01R31/00
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 孟金喆

1.一種天線測試方法，其特征在于，包括：

獲取參數(shù)校準信息；

根據(jù)所述參數(shù)校準信息控制自動測試臺對被測終端的天線進行測試，確定所述天線的性能參數(shù)；

根據(jù)所述性能參數(shù)，確定所述天線的測試結果；

其中，所述性能參數(shù)包括天線耦合度，相應的，所述根據(jù)所述參數(shù)校準信息控制自動測試臺對被測終端的天線進行測試，確定所述天線的性能參數(shù)，包括：

根據(jù)參數(shù)校準信息控制自動測試臺的發(fā)射狀態(tài)；

控制被測終端的接收狀態(tài)；

確定所述被測終端在接收狀態(tài)下的均方根；

在所述均方根的取值在設定范圍內時，確定天線耦合度；

在控制所述自動測試臺或所述被測終端的發(fā)射狀態(tài)時，根據(jù)發(fā)射功率控制衰減量，所述自動測試臺為基于增益表校準后的設備。

2.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取參數(shù)校準信息，包括：

獲取參數(shù)配置信息，所述參數(shù)配置信息表征所述被測終端的射頻指標；

校準所述參數(shù)配置信息；

將校準后的參數(shù)配置信息確定為參數(shù)校準信息。

3.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，還包括：

在所述均方根的取值不在設定范圍內，調整所述自動測試臺的發(fā)射狀態(tài)，并繼續(xù)確定均方根，直至確定出天線耦合度或調整次數(shù)達到設定值。

4.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，所述性能參數(shù)包括天線耦合度，相應的，所述根據(jù)所述參數(shù)校準信息控制自動測試臺對被測終端的天線進行測試，確定所述天線的性能參數(shù)，包括：

根據(jù)參數(shù)校準信息控制被測終端的發(fā)射狀態(tài)；

控制自動測試臺的接收狀態(tài)；

確定所述自動測試臺在接收狀態(tài)下的均方根；

在所述均方根的取值在設定范圍內時，確定天線耦合度。

5.一種天線測試裝置，其特征在于，包括：

獲取模塊，用于獲取參數(shù)校準信息；

第一確定模塊，用于根據(jù)所述參數(shù)校準信息控制自動測試臺對被測終端的天線進行測試，確定所述天線的性能參數(shù)；

第二確定模塊，用于根據(jù)所述性能參數(shù)，確定所述天線的測試結果；

其中，所述性能參數(shù)包括天線耦合度，相應的，第一確定模塊根據(jù)所述參數(shù)校準信息控制自動測試臺對被測終端的天線進行測試，確定所述天線的性能參數(shù)，包括：

根據(jù)參數(shù)校準信息控制自動測試臺的發(fā)射狀態(tài)；

控制被測終端的接收狀態(tài)；

確定所述被測終端在接收狀態(tài)下的均方根；

在所述均方根的取值在設定范圍內時，確定天線耦合度；

其中，所述天線測試裝置，還包括第二調整模塊，用于：

在控制所述自動測試臺或所述被測終端的發(fā)射狀態(tài)時，根據(jù)發(fā)射功率控制衰減量，所述自動測試臺為基于增益表校準后的設備。

6.一種終端設備，其特征在于，包括：

一個或多個處理器；

存儲裝置，用于存儲一個或多個程序；

當所述一個或多個程序被所述一個或多個處理器執(zhí)行，使得所述一個或多個處理器實現(xiàn)如權利要求1-4中任一所述的天線測試方法。

7.一種天線測試系統(tǒng)，其特征在于，包括如權利要求6所述的終端設備、自動測試臺、被測終端和天線耦合板；

所述終端設備分別與所述自動測試臺和所述被測終端有線連接，所述被測終端放置在天線耦合板上；

所述自動測試臺和所述被測終端在所述終端設備的控制下，完成所述被測終端天線的測試；其中，所述被測終端包括低軌衛(wèi)星終端。

8.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，該程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如權利要求1-4中任一所述的天線測試方法。