[發(fā)明專利]三維存儲(chǔ)器及其制備方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110490067.8 | 申請(qǐng)日: | 2021-05-06 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113206106B | 公開(公告)日: | 2023-08-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊遠(yuǎn)程;劉磊;周文犀 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 長(zhǎng)江存儲(chǔ)科技有限責(zé)任公司 |
| 主分類號(hào): | H10B43/35 | 分類號(hào): | H10B43/35;H10B43/27 |
| 代理公司: | 北京英思普睿知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 16018 | 代理人: | 劉瑩;聶國(guó)斌 |
| 地址: | 430000 湖北省武*** | 國(guó)省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 三維 存儲(chǔ)器 及其 制備 方法 | ||
本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N三維存儲(chǔ)器及其制備方法。該方法包括:在襯底上形成包括交替疊置的電介質(zhì)層和第一犧牲層的疊層結(jié)構(gòu);形成貫穿疊層結(jié)構(gòu)的溝道孔并在溝道孔的側(cè)壁上依次形成功能層和溝道層,以形成溝道結(jié)構(gòu);形成貫穿至少一個(gè)第一犧牲層的頂部選擇柵切口;經(jīng)由頂部選擇柵切口,依次去除至少一個(gè)第一犧牲層和功能層的與至少一個(gè)第一犧牲層對(duì)應(yīng)的部分,以形成選擇柵極間隙;在選擇柵極間隙內(nèi)形成第二犧牲層;以及將疊層結(jié)構(gòu)內(nèi)的第一犧牲層和第二犧牲層置換為包括柵極阻擋層和導(dǎo)電層的柵極層。該三維存儲(chǔ)器及其制備方法能夠提高頂部選擇晶體管的閾值電壓的穩(wěn)定性,并提高頂部選擇晶體管的可靠性。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請(qǐng)涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,更具體地,涉及三維儲(chǔ)存器及其制備方法。
背景技術(shù)
隨著NAND閃存技術(shù)的發(fā)展,3D?NAND架構(gòu)可在不犧牲數(shù)據(jù)完整性的情況下擴(kuò)展到更高的存儲(chǔ)密度,從而實(shí)現(xiàn)更大的存儲(chǔ)容量。
在3D?NAND存儲(chǔ)器中,通常由溝道結(jié)構(gòu)形成存儲(chǔ)陣列,并且溝道結(jié)構(gòu)可包括在垂直方向上的多個(gè)存儲(chǔ)單元,從而在三維方向上形成陣列布置的存儲(chǔ)單元(cell)。每個(gè)溝道結(jié)構(gòu)的兩端可分別與位線(BL)和公共源極線(CSL)連接,使溝道結(jié)構(gòu)能夠形成電路回路。此外,溝道結(jié)構(gòu)的頂部可包括至少一個(gè)頂部選擇晶體管,并通過(guò)該頂部選擇晶體管控制溝道結(jié)構(gòu)中電路的接通或者切斷。
為實(shí)現(xiàn)3D?NAND存儲(chǔ)器編程、讀取或者擦除等操作,頂部選擇晶體管通常由對(duì)應(yīng)的柵極層控制?,F(xiàn)有技術(shù)中,當(dāng)對(duì)應(yīng)的柵極層對(duì)頂部選擇晶體管施加電壓時(shí),頂部選擇晶體管會(huì)存在被編程或者擦除的風(fēng)險(xiǎn)。換言之,頂部選擇晶體管的閾值電壓Vt會(huì)產(chǎn)生漂移,從而使頂部選擇晶體管的功能異?;蚴?,進(jìn)而影響三維存儲(chǔ)器的電氣性能。
發(fā)明內(nèi)容
本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N三維存儲(chǔ)器的制備方法。該制備方法包括:在襯底上形成包括交替疊置的電介質(zhì)層和第一犧牲層的疊層結(jié)構(gòu);形成貫穿疊層結(jié)構(gòu)的溝道孔并在溝道孔的側(cè)壁上依次形成功能層和溝道層,以形成溝道結(jié)構(gòu);形成貫穿至少一個(gè)第一犧牲層的頂部選擇柵切口;經(jīng)由頂部選擇柵切口,依次去除至少一個(gè)第一犧牲層和功能層的與至少一個(gè)第一犧牲層對(duì)應(yīng)的部分,以形成選擇柵極間隙;在選擇柵極間隙內(nèi)形成第二犧牲層;以及將疊層結(jié)構(gòu)內(nèi)的第一犧牲層和第二犧牲層置換為包括柵極阻擋層和導(dǎo)電層的柵極層。
在一些實(shí)施方式中,將疊層結(jié)構(gòu)內(nèi)的第一犧牲層和第二犧牲層置換為包括柵極阻擋層和導(dǎo)電層的柵極層的步驟可包括:形成貫穿疊層結(jié)構(gòu)并延伸至襯底的柵極縫隙;經(jīng)由柵極縫隙去除疊層結(jié)構(gòu)內(nèi)的第一犧牲層和第二犧牲層,以形成犧牲間隙;以及在犧牲間隙的內(nèi)壁上形成柵極阻擋層;以及在形成有柵極阻擋層的犧牲間隙內(nèi)形成導(dǎo)電層,以形成柵極層。
在一些實(shí)施方式中,在犧牲間隙內(nèi)依次形成柵極阻擋層和導(dǎo)電層,以形成柵極層的步驟可包括:在柵極阻擋層和導(dǎo)電層之間形成粘合層。
在一些實(shí)施方式中,柵極阻擋層的材料包括氧化鋁,粘合層的材料可包括氮化鈦,導(dǎo)電層的材料可包括鎢。
在一些實(shí)施方式中,將疊層結(jié)構(gòu)內(nèi)的第一犧牲層和第二犧牲層置換為包括柵極阻擋層和導(dǎo)電層的柵極層的步驟之后,該方法還可包括:在柵極縫隙的側(cè)壁上形成隔離層;以及在形成有隔離層的柵極縫隙內(nèi)填充導(dǎo)電材料,以形成柵極縫隙結(jié)構(gòu)。
在一些實(shí)施方式中,在選擇柵極間隙內(nèi)形成第二犧牲層的步驟可包括:形成填充選擇柵極間隙且覆蓋頂部選擇柵切口內(nèi)壁的第二犧牲層;以及去除第二犧牲層的位于頂部選擇柵切口內(nèi)壁的部分。
在一些實(shí)施方式中,該方法還可包括:在頂部選擇柵切口內(nèi)填充電介質(zhì)材料,以形成頂部選擇柵切口結(jié)構(gòu)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于長(zhǎng)江存儲(chǔ)科技有限責(zé)任公司,未經(jīng)長(zhǎng)江存儲(chǔ)科技有限責(zé)任公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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