[發明專利]一種密碼卡開蓋檢測方法、裝置及密碼卡

有效

• 申請號: 202110489507.8
• 申請日: 2021-05-06
• 公開（公告）號: CN112906849B
• 公開（公告）日: 2021-08-13
• 發明（設計）人: 朱云;李元驊;可為
• 申請（專利權）人: 北京數盾信息科技有限公司
• 主分類號: G06K19/077
• 分類號: G06K19/077;G06K19/073;G06F21/77;G06F21/86;G06F11/22
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本發明提供一種密碼卡開蓋檢測方法、裝置及密碼卡，其中，密碼卡開蓋檢測裝置包括：開關電路，設置于密碼卡的殼體內部，并與所述殼體的蓋體接觸連接，在所述殼體的蓋體處于被打開的狀態時，輸出第一信號；處理器，與所述開關電路電連接，根據所述第一信號，進入保護狀態。本發明的方案可實現密碼卡開蓋的有效檢測，并實現密碼卡的有效保護，提高密碼卡的安全性。

技術領域

本發明涉及密碼卡技術領域，特別是指一種密碼卡開蓋檢測方法、裝置及密碼卡。

背景技術

現有技術中，密碼卡的外殼是封閉式的殼體，目的是防止外界的侵入式和非侵入式攻擊。開蓋就是其中一項侵入式攻擊。開蓋檢測也成為了保護密碼卡設備的一種手段。

此開蓋檢測方案可以用在商用密碼卡上用來防止侵入式的攻擊，現有技術中沒有有效的檢測方案，導致密碼卡的安全性降低。

發明內容

本發明要解決的技術問題是如何提供一種密碼卡開蓋檢測裝置、方法及密碼卡，可實現密碼卡開蓋的有效檢測，并實現密碼卡的有效保護，提高密碼卡的安全性。

為解決上述技術問題，本發明的技術方案如下：

一種密碼卡開蓋檢測裝置，包括：

開關電路，設置于密碼卡的殼體內部，并與所述殼體的蓋體接觸連接，在所述殼體的蓋體處于被打開的狀態時，輸出第一信號；

處理器，與所述開關電路電連接，根據所述第一信號，進入保護狀態。

可選的，密碼卡開蓋檢測裝置，還包括：與系統電源連接的供電單元，分別與所述開關電路以及所述處理器電連接；

所述處理器處于工作狀態時，所述系統電源為所述處理器供電；

所述處理器處于下電狀態且未進入保護狀態時，所述供電單元為所述開關電路供電；

所述處理器由工作狀態或者下電狀態進入保護狀態時，所述供電單元為所述處理器供電。

可選的，所述開關電路包括：具有第一引腳、第二引腳以及第三引腳的主板；以及與所述主板連接的按鍵，所述按鍵與所述蓋體接觸連接；

所述蓋體處于被打開的狀態時，所述按鍵處于彈開狀態，所述第一引腳與所述第二引腳電連接，并輸出第一信號。

可選的，所述第二引腳與第一電阻的一端電連接，所述第一電阻的另一端與所述供電單元電連接；

所述第三引腳與第二電阻的一端電連接，所述第二電阻的另一端接地。

可選的，所述蓋體處于與殼體合蓋狀態時，所述按鍵處于按壓狀態，所述第一引腳與所述第三引腳電連接，輸出第二信號；

所述處理器根據所述第二信號處于工作狀態。

可選的，所述處理器由工作狀態進入保護狀態時，記錄所述第一信號，并停止密碼服務，產生第一預警信息；

所述處理器由下電狀態進入保護狀態時，記錄所述第一信號，在所述處理器再次上電并處于工作狀態時，根據所述第一信號停止密碼服務，產生第二預警信息。

可選的，密碼卡開蓋檢測裝置還包括：分別與所述開關電路以及所述處理器電連接的信號隔離電路，將所述開關電路輸入的第二信號隔離后輸入所述處理器。

可選的，所述信號隔離電路包括：晶體管電路，所述晶體管電路的漏極通過第三電阻與所述供電單元連接，源極通過第四電阻接地，所述第一信號輸入所述晶體管電路的柵極，所述第二信號由晶體管電路的漏極輸出。

本發明的實施例還提供一種密碼卡開蓋檢測方法，包括：

通過密碼卡殼體內部設置的開關電路檢測到所述殼體的蓋體處于被打開的狀態時，輸出第一信號；