[發明專利]溫度探測裝置

有效

• 申請號: 202110487938.0
• 申請日: 2021-04-30
• 公開（公告）號: CN113203493B
• 公開（公告）日: 2022-07-19
• 發明（設計）人: 王勇凱;李知多;孫佳琳
• 申請（專利權）人: 西安郵電大學
• 主分類號: G01K7/16
• 分類號: G01K7/16
• 代理公司: 重慶萃智邦成專利代理事務所(普通合伙) 50231
• 代理人: 許攀

本申請涉及溫度探測裝置，具體而言，涉及溫度檢測領域。本申請提供的溫度探測裝置，裝置包括：吸熱層、半導體柱、隔熱層、絕緣層、石墨烯層、第一電極和第二電極；當溫度探測裝置探測外界溫度時，該吸熱層吸收外界熱量，并將該熱量傳遞到該半導體柱上，使得該“T”形結構的半導體柱的短端一側溫度升高，由于該半導體柱靠近該石墨烯層一端的長端溫度不變，則該半導體柱的兩端之間具有一定溫差，進而該半導體柱上的載流子匯聚到該石墨烯層上，從而改變該石墨烯層的導電特性，通過檢測該第一電極和第二電極之間的電導率的變化情況，并根據該第一電極和第二電極之間的電導率的變化情況與待測溫度的對應關系，得到待測溫度。

技術領域

本申請涉及溫度檢測領域，具體而言，涉及一種溫度探測裝置。

背景技術

溫度是表示物體冷熱程度的物理量，微觀上來講是物體分子熱運動的劇烈程度。溫度只能通過物體隨溫度變化的某些特性來間接測量，隨著科學的發展，對溫度測量的準確性要求越來越高。

現有技術中，一般采用電子溫度計實現較為準確的溫度測量，電子溫度計采用溫度傳感器，根據電阻和電流的關系完成對溫度的測量。

但是，在不同溫度下，電子溫度計的阻值會溫度的改變而改變，使得對溫度的測量不準確。

發明內容

本發明的目的在于，針對上述現有技術中的不足，提供一種溫度探測裝置，以解決現有技術中在不同溫度下，電子溫度計的阻值會溫度的改變而改變，使得對溫度的測量不準確的問題。

為實現上述目的，本發明實施例采用的技術方案如下：

第一方面，本申請提供一種溫度探測裝置，裝置包括：吸熱層、半導體柱、隔熱層、絕緣層、石墨烯層、第一電極和第二電極；絕緣層和隔熱層中間位置均設置有通孔，且絕緣層設置在石墨烯層的一側，隔熱層設置在絕緣層遠離石墨烯層的一側，第一電極和第二電極分別設置在石墨烯層的兩端，半導體柱的形狀為“T”形結構，“T”形結構的半導體柱的長端依次穿過絕緣層和石墨烯層的孔洞，并與石墨烯層的表面接觸，吸熱層罩設在半導體柱的短端一側，并將熱量傳遞給半導體柱。

可選地，該吸熱層的表面覆蓋設置有黑鉻涂層。

可選地，該裝置還包括導熱層，導熱層設置在吸熱層和半導體柱之間。

可選地，該導熱層表面設置有凹槽，凹槽的尺寸等于“T”形結構的半導體柱的短端的尺寸，且導熱層的凹槽與“T”形結構的半導體柱的短端嵌套設置。

可選地，該半導體柱的短端設置有多個孔洞。

可選地，該裝置還包括傳熱導線，傳熱導線穿過半導體柱的短端的多個孔洞與導熱層連接。

可選地，該石墨烯層為多層石墨烯結構。

可選地，該半導體柱的材料為銻化銦材料。

本發明的有益效果是：