[發明專利]待測試模塊的測試電路、方法及裝置

有效

• 申請號: 202110487704.6
• 申請日: 2021-04-30
• 公開（公告）號: CN113295943B
• 公開（公告）日: 2023-03-24
• 發明（設計）人: 李晶;周奕;張露陽;李文星
• 申請（專利權）人: 地平線征程（杭州）人工智能科技有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京思源智匯知識產權代理有限公司 11657
• 代理人: 毛麗琴

1.一種待測試模塊的測試電路，包括：測試數據產生模塊、功能安全模塊、配置模塊、時序信號產生模塊、平面數據產生模塊和附加數據產生模塊；

所述測試數據產生模塊包括：多個測試數據產生單元，每個所述測試數據產生單元分別與所述功能安全模塊電連接；

不同所述測試數據產生單元對應不同增益值，每個所述測試數據產生單元用于對與該測試數據產生單元所支持的數據類型相一致的原始數據施加相應的增益值，以生成與所述數據類型相一致的測試數據，從而使不同所述測試數據產生單元生成的測試數據不同，以模擬長短曝光的效果；

所述功能安全模塊與所述待測試模塊電連接，用于對所述測試數據進行校驗運算處理，以得到第一處理結果，基于所述測試數據進行校驗運算處理和錯誤注入處理，以得到第二處理結果；

所述配置模塊中存儲有每個所述測試數據產生單元、所述功能安全模塊、所述平面數據產生模塊、所述附加數據產生模塊、所述時序信號產生模塊各自的配置信息；

所述時序信號產生模塊用于基于每個所述測試數據產生單元、所述平面數據產生模塊、所述附加數據產生模塊各自的配置信息，生成每個所述測試數據產生單元、所述平面數據產生模塊、所述附加數據產生模塊各自的時序信號；

每個所述測試數據產生單元、所述平面數據產生模塊、所述附加數據產生模塊用于分別基于自身的所述時序信號生成數據；

所述功能安全模塊還用于對所述時序信號進行錯誤注入處理；

所述待測試模塊用于基于所述測試數據、所述第一處理結果、所述第二處理結果、經錯誤注入處理后的所述時序信號，生成所述測試結果。

2.根據權利要求1所述的電路，其中，

所述平面數據產生模塊與所述待測試模塊電連接，所述平面數據產生模塊與所述測試數據產生模塊中的一個所述測試數據產生單元對應；

所述平面數據產生模塊用于生成與其所對應的所述測試數據產生單元生成的所述測試數據對應的平面數據；

所述待測試模塊用于基于所述測試數據、所述第一處理結果、所述第二處理結果、所述平面數據，生成所述測試結果。

3.根據權利要求1所述的電路，其中，

所述附加數據產生模塊與所述功能安全模塊電連接；

所述附加數據產生模塊用于生成與所述測試數據對應的附加數據；

所述功能安全模塊還用于對所述附加數據進行校驗運算處理，以得到第三處理結果，基于所述附加數據進行校驗運算處理和錯誤注入處理，以得到第四處理結果；

所述待測試模塊用于基于所述測試數據、所述第一處理結果、所述第二處理結果、所述附加數據、所述第三處理結果、所述第四處理結果，生成所述測試結果。

4.根據權利要求1所述的電路，其中，所述配置模塊包括：存儲單元和多個寄存器，每個所述寄存器中均存儲有所述配置信息，每個所述測試數據產生單元、所述功能安全模塊、所述平面數據產生模塊、所述附加數據產生模塊、所述時序信號產生模塊分別對應所述配置模塊中的不同所述寄存器；

每個所述測試數據產生單元、所述功能安全模塊、所述平面數據產生模塊、所述附加數據產生模塊、所述時序信號產生模塊用于分別基于所述配置模塊中的相應所述寄存器中的所述配置信息，對自身進行配置；

所述功能安全模塊還用于存儲所述第一處理結果至所述存儲單元。

5.根據權利要求1所述的電路，其中，所述電路還包括：數據輸出模塊；

所述數據輸出模塊分別與所述功能安全模塊、所述平面數據產生模塊、所述待測試模塊電連接，所述數據輸出模塊用于輸出以下至少一項至所述待測試模塊：表征當前是否在進行平面數據輸出的信息，表征當前是否在進行附加數據輸出的信息，表征當前是否在進行所述測試數據輸出的信息，當前輸出的所述測試數據對應的所述時序信號，指示當前輸出的所述測試數據對應的所述測試數據產生單元的信息，所述平面數據，所述測試數據，所述附加數據，指示當前輸出的所述測試數據的數據類型的信息。