[發明專利]測試電路、測試設備以及測試電路測試方法

在審

• 申請號: 202110485132.8
• 申請日: 2021-04-30
• 公開（公告）號: CN113176489A
• 公開（公告）日: 2021-07-27
• 發明（設計）人: 陳躍俊;郝瑞庭
• 申請（專利權）人: 北京華峰測控技術股份有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 北京華進京聯知識產權代理有限公司 11606
• 代理人: 馬云超

1.一種測試電路，其特征在于，包括：

電源；

第一開關和第二開關，所述第一開關和所述第二開關依次串聯于所述電源的正極和負極之間；

電感，所述電感包括第一端和第二端，所述電感的第一端連接于所述第一開關和所述第二開關之間；

二極管，所述二極管的陰極連接于所述電源的正極，所述二極管的陽極連接于所述電感的第二端；以及

測試端，所述測試端的一端與所述電感的第二端連接，所述測試端的另一端與所述電源的負極連接，所述測試端用于測試被測IGBT芯片。

2.如權利要求1所述的測試電路，其特征在于，還包括：

第三開關，所述第三開關的一端與所述電源正極連接，所述第三開關的負極與所述二極管的負極連接。

3.如權利要求2所述的測試電路，其特征在于，所述第一開關、所述第二開關和所述第三開關中的一個或多個為絕緣柵雙極型晶體管。

4.如權利要求2所述的測試電路，其特征在于，還包括控制電路，所述控制電路分別與所述電源、所述第一開關、所述第二開關、所述第三開關以及插接于所述測試端的被測IGBT芯片連接，所述控制電路用于控制所述電源、所述第一開關、所述第二開關、所述第三開關以及插接于所述測試端的被測IGBT芯片的工作狀態。

5.如權利要求1所述的測試電路，其特征在于，所述電源包括電容，所述電容的正極板作為所述電源的正極，所述電容的負極板作為所述電容的負極，所述第一開關、所述第二開關依次串聯于所述電容的正極板和負極板。

6.一種測試設備，其特征在于，包括權利要求1-5任一項所述的測試電路。

7.一種測試電路的測試方法，所述測試電路包括：

電源；

第一開關和第二開關，所述第一開關、第二開關和第三開關依次串聯于所述電源的正極和負極之間；

電感，所述電感包括第一端和第二端，所述第一端連接于所述第一開關和所述第二開關之間；

二極管，所述二極管的陰極連接于所述電源的正極，所述二極管的陽極連接于所述電感的第二端；以及

測試端，所述測試端的一端與所述電感的第二端連接，所述測試端的另一端與所述電源的負極連接，所述測試端用于測試被測IGBT芯片，其特征在于，所述測試方法包括：

在第一時刻控制所述第一開關導通；

在第二時刻控制所述被測IGBT芯片導通；

在第三時刻控制所述被測IGBT芯片斷開；

在第四時刻控制所述被測IGBT芯片導通；

在第五時刻控制所述第一開關斷開，控制所述第二開關導通，控制所述被測IGBT芯片斷開；

其中，所述第一時刻、所述第二時刻、所述第三時刻、所述第四時刻、所述第五時刻依次按照時間先后排列。

8.如權利要求7所述的測試電路的測試方法，其特征在于，所述測試電路還包括第三開關，所述第三開關的一端與所述電源正極連接，所述第三開關的負極與所述二極管的負極連接，所述第三開關具有雙向導通功能，所述方法包括：

在第一時刻控制所第三開關導通。

9.一種測試設備，包括存儲器和處理器，所述存儲器存儲有計算機程序，其特征在于，所述處理器執行所述計算機程序時實現權利要求7-8中任一項所述方法的步驟。

10.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器執行時實現權利要求7-8中任一項所述的方法的步驟。