[發(fā)明專(zhuān)利]一種節(jié)點(diǎn)異常檢測(cè)方法、裝置及介質(zhì)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110484997.2 | 申請(qǐng)日: | 2021-04-30 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN113094249A | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-07-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃紅輝;范淵;楊勃 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 杭州安恒信息技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G06F11/34 | 分類(lèi)號(hào): | G06F11/34;G06N3/04;G06F11/32 |
| 代理公司: | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 張春輝 |
| 地址: | 310000 浙江省*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 節(jié)點(diǎn) 異常 檢測(cè) 方法 裝置 介質(zhì) | ||
本申請(qǐng)公開(kāi)了一種節(jié)點(diǎn)異常檢測(cè)方法、裝置及介質(zhì),其中方法包括,根據(jù)歷史性能指標(biāo)數(shù)據(jù)構(gòu)建第一檢測(cè)模型,其中歷史性能指標(biāo)數(shù)據(jù)包括歷史節(jié)點(diǎn)性能指標(biāo)數(shù)據(jù)和歷史業(yè)務(wù)性能指標(biāo)數(shù)據(jù),獲取目標(biāo)節(jié)點(diǎn)的目標(biāo)性能指標(biāo)數(shù)據(jù),利用檢測(cè)模型確定目標(biāo)節(jié)點(diǎn)是否異常。由于第一檢測(cè)模型基于歷史節(jié)點(diǎn)性能指標(biāo)數(shù)據(jù)和歷史業(yè)務(wù)性能指標(biāo)數(shù)據(jù)中的多特征數(shù)據(jù)構(gòu)建,使得第一檢測(cè)模型能夠更全面的對(duì)目標(biāo)節(jié)點(diǎn)進(jìn)行綜合檢測(cè),因此降低了節(jié)點(diǎn)異常檢測(cè)的誤報(bào)率、提高了節(jié)點(diǎn)異常檢測(cè)的準(zhǔn)確性。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請(qǐng)涉及云計(jì)算技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種節(jié)點(diǎn)異常檢測(cè)方法、裝置及介質(zhì)。
背景技術(shù)
隨著云計(jì)算技術(shù)的日益發(fā)展,業(yè)務(wù)系統(tǒng)越來(lái)越龐大,為了保證業(yè)務(wù)系統(tǒng)的穩(wěn)定運(yùn)行,對(duì)業(yè)務(wù)系統(tǒng)中的節(jié)點(diǎn)進(jìn)行故障分析是至關(guān)重要的。目前,節(jié)點(diǎn)異常檢測(cè)方法是根據(jù)節(jié)點(diǎn)單特征歷史數(shù)據(jù)(例如CPU利用率)構(gòu)建檢測(cè)模型后,獲取待檢測(cè)節(jié)點(diǎn)的單特征數(shù)據(jù),根據(jù)監(jiān)測(cè)模型進(jìn)行判斷。由于節(jié)點(diǎn)故障存在多方面原因,僅從單特征數(shù)據(jù)對(duì)節(jié)點(diǎn)進(jìn)行異常檢測(cè),提高了節(jié)點(diǎn)異常檢測(cè)的誤報(bào)率,降低了節(jié)點(diǎn)異常檢測(cè)的準(zhǔn)確性。
由此可見(jiàn),如何降低節(jié)點(diǎn)異常檢測(cè)的誤報(bào)率、提高節(jié)點(diǎn)異常檢測(cè)的準(zhǔn)確性是本領(lǐng)域技術(shù)人員亟待解決的問(wèn)題。
發(fā)明內(nèi)容
本申請(qǐng)的目的是提供一種節(jié)點(diǎn)異常檢測(cè)方法,用以降低節(jié)點(diǎn)異常檢測(cè)的誤報(bào)率、提高節(jié)點(diǎn)異常檢測(cè)的準(zhǔn)確性。本申請(qǐng)的目的是還提供一種節(jié)點(diǎn)異常檢測(cè)裝置及介質(zhì)。
為解決上述技術(shù)問(wèn)題,本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N節(jié)點(diǎn)異常檢測(cè)方法,包括:
根據(jù)歷史性能指標(biāo)數(shù)據(jù)構(gòu)建第一檢測(cè)模型,其中所述歷史性能指標(biāo)數(shù)據(jù)包括歷史節(jié)點(diǎn)性能指標(biāo)數(shù)據(jù)和歷史業(yè)務(wù)性能指標(biāo)數(shù)據(jù);
獲取目標(biāo)節(jié)點(diǎn)的目標(biāo)性能指標(biāo)數(shù)據(jù);
根據(jù)所述第一檢測(cè)模型確定與所述目標(biāo)性能指標(biāo)對(duì)應(yīng)的目標(biāo)檢測(cè)結(jié)果;
根據(jù)所述目標(biāo)檢測(cè)結(jié)果確定所述目標(biāo)節(jié)點(diǎn)是否異常。
優(yōu)選的,還包括:
根據(jù)所述歷史性能指標(biāo)數(shù)據(jù)中各性能指標(biāo)數(shù)據(jù)構(gòu)建對(duì)應(yīng)的第二檢測(cè)模型;
在所述目標(biāo)節(jié)點(diǎn)異常的情況下,根據(jù)各所述第二檢測(cè)模型確定與所述目標(biāo)性能指標(biāo)數(shù)據(jù)中各目標(biāo)性能指標(biāo)數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的各檢測(cè)結(jié)果;
根據(jù)各所述檢測(cè)結(jié)果確定目標(biāo)異常指標(biāo)。
優(yōu)選的,還包括:
根據(jù)預(yù)先建立的各所述性能指標(biāo)數(shù)據(jù)與各分值的對(duì)應(yīng)關(guān)系確定對(duì)應(yīng)的目標(biāo)分值;
根據(jù)預(yù)設(shè)初始分值與所述目標(biāo)分值計(jì)算所述目標(biāo)節(jié)點(diǎn)的目標(biāo)健康分值;
根據(jù)預(yù)先建立的各健康分值與各健康等級(jí)的對(duì)應(yīng)關(guān)系,確定與所述目標(biāo)健康分值對(duì)應(yīng)的目標(biāo)健康等級(jí)。
優(yōu)選的,所述根據(jù)所述第一檢測(cè)模型確定與所述目標(biāo)性能指標(biāo)對(duì)應(yīng)的目標(biāo)檢測(cè)結(jié)果前,還包括:
獲取所述目標(biāo)節(jié)點(diǎn)的硬件運(yùn)行數(shù)據(jù);
根據(jù)所述硬件運(yùn)行數(shù)據(jù)對(duì)所述目標(biāo)性能指標(biāo)數(shù)據(jù)進(jìn)行篩選;
則,所述根據(jù)所述第一檢測(cè)模型確定與所述目標(biāo)性能指標(biāo)對(duì)應(yīng)的目標(biāo)檢測(cè)結(jié)果,具體為:
根據(jù)所述第一檢測(cè)模型確定與篩選后的所述目標(biāo)性能指標(biāo)數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的所述目標(biāo)檢測(cè)結(jié)果。
優(yōu)選的,所述根據(jù)歷史性能指標(biāo)數(shù)據(jù)構(gòu)建第一檢測(cè)模型,具體為:
根據(jù)距離當(dāng)前預(yù)設(shè)周期內(nèi)的所述歷史性能指標(biāo)數(shù)據(jù)構(gòu)建所述第一檢測(cè)模型。
優(yōu)選的,所述歷史節(jié)點(diǎn)性能指標(biāo)數(shù)據(jù)包括:CPU使用率、內(nèi)存使用率、IO讀寫(xiě)、網(wǎng)絡(luò)流量、打開(kāi)文件數(shù)、文件運(yùn)行狀態(tài)數(shù)據(jù)、df命令執(zhí)行卡住數(shù)據(jù)、內(nèi)存溢出數(shù)據(jù)、CPU軟鎖數(shù)據(jù)和網(wǎng)卡連接數(shù)據(jù)。
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G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F11-00 錯(cuò)誤檢測(cè);錯(cuò)誤校正;監(jiān)控
G06F11-07 .響應(yīng)錯(cuò)誤的產(chǎn)生,例如,容錯(cuò)
G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi),通過(guò)測(cè)試作故障硬件的檢測(cè)或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過(guò)處理作錯(cuò)誤檢測(cè)、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
G06F11-30 .監(jiān)控
G06F11-36 .通過(guò)軟件的測(cè)試或調(diào)試防止錯(cuò)誤
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- 異常檢測(cè)方法、異常檢測(cè)裝置及異常檢測(cè)系統(tǒng)
- 異常檢測(cè)裝置、異常檢測(cè)方法以及異常檢測(cè)系統(tǒng)
- 異常檢測(cè)裝置、異常檢測(cè)方法以及異常檢測(cè)系統(tǒng)
- 異常檢測(cè)裝置、異常檢測(cè)方法及異常檢測(cè)系統(tǒng)
- 異常探測(cè)裝置、異常探測(cè)方法以及計(jì)算機(jī)可讀取的存儲(chǔ)介質(zhì)
- 異常檢測(cè)裝置、異常檢測(cè)方法及記錄介質(zhì)
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