[發明專利]測試電路、測試設備以及測試電路測試方法在審
| 申請號： | 202110483061.8 | 申請日： | 2021-04-30 |
| 公開（公告）號： | CN113176487A | 公開（公告）日： | 2021-07-27 |
| 發明（設計）人： | 陳躍俊 | 申請（專利權）人： | 北京華峰測控技術股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/26 | 分類號： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京華進京聯知識產權代理有限公司 11606 | 代理人： | 樊春燕 |
| 地址： | 100071 北京*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 測試 電路 設備 以及 方法 | ||
1.一種測試電路，其特征在于，包括：
電源；
二極管，所述二極管的陰極與所述電源的正極連接；
電感，包括第一端和第二端，所述電感的第一端與所述二極管的陽極連接；
第一開關，所述第一開關的一端與所述電源的正極連接，所述第一開關的另一端與所述電感的第二端連接；
第二開關，所述第二開關的一端與所述二極管的陽極連接，所述第二開關的另一端與所述電源的負極連接；以及
測試端，所述測試端的一端與所述電感的第二端連接，所述測試端的另一端與所述電源的負極連接，所述測試端用于插接功率二極管。
2.如權利要求1所述的測試電路，其特征在于，還包括第三開關，所述第三開關的一端與所述電源的正極連接，所述第三開關的另一端與所述二極管的陰極連接。
3.如權利要求2所述的測試電路，其特征在于，所述第三開關為絕緣柵雙極型晶體管。
4.如權利要求1所述的測試電路，其特征在于，所述第二開關為金屬-氧化物半導體場效應晶體管。
5.如權利要求1所述的測試電路，其特征在于，所述電源包括電容，所述電容的正極板與所述二極管的負極連接，所述電容的負極板與所述二極管的正極連接。
6.一種測試設備，其特征在于，包括權利要求1-5任一項所述的測試電路。
7.一種測試電路的測試方法，所述測試電路包括：
電源；
二極管，所述二極管的陰極與所述電源的正極連接；
電感，包括第一端和第二端，所述電感的第一端與所述二極管的陽極連接；
第一開關，所述第一開關的一端與所述電源的正極連接，所述第一開關的另一端與所述電感的第二端連接；
第二開關，所述第二開關的一端與所述二極管的陽極連接，所述第二開關的另一端與所述電源的負極連接；以及
測試端，所述測試端的一端與所述電感的第二端連接，所述測試端的另一端與所述電源的負極連接，所述測試端用于插接被測試二極管，其特征在于，所述測試方法包括：
在第一時刻控制所述第二開關導通；
在第二時刻控制所述第一開關導通；
在第三時刻控制所述第一開關斷開；
在第四時刻控制所述第一開關導通；
在第五時刻控制所述第一開關和所述第二開關斷開；
其中，所述第一時刻、所述第二時刻、所述第三時刻、所述第四時刻依次按照時間先后排列。
8.如權利要求7所述的測試電路的測試方法，其特征在于，所述測試電路還包括第三開關，所述第三開關的一端與所述電源的正極連接，所述第三開關的另一端與所述二極管的陰極連接，所述測試方法包括：
在第一時刻控制所第三開關導通。
9.一種測試設備，包括存儲器和處理器，所述存儲器存儲有計算機程序，其特征在于，所述處理器執行所述計算機程序時實現權利要求7-8中任一項所述方法的步驟。
10.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器執行時實現權利要求7-8中任一項所述的方法的步驟。
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