[發明專利]一種基于多任務孿生網絡的工業圖像缺陷檢測方法及系統在審
| 申請號: | 202110481724.2 | 申請日: | 2021-04-30 |
| 公開(公告)號: | CN113160200A | 公開(公告)日: | 2021-07-23 |
| 發明(設計)人: | 張逸為;余燕清 | 申請(專利權)人: | 聚時科技(上海)有限公司 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/194;G06K9/38;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司: | 湖北天領艾匹律師事務所 42252 | 代理人: | 胡振宇 |
| 地址: | 200000 上海市楊浦區*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 任務 孿生 網絡 工業 圖像 缺陷 檢測 方法 系統 | ||
1.一種基于多任務孿生網絡的工業圖像缺陷檢測方法,其特征在于,包括如下步驟:
S1.獲取待檢測圖像與對應的模板圖像,并對圖像數據進行預處理;
S2.將待檢測圖像與模板圖像輸入孿生網絡結構,完成圖像數據處理,并將輸入的圖像數據表示成多尺度特征;
S3.將圖像數據表示特征送入FPN模塊生成FPN特征;
S4.將FPN特征送入檢測網絡,訓練二分類缺陷工業圖像陷檢測網絡;
S5.使用訓練后的檢測網絡對測試圖像進行檢測,得到圖像的缺陷檢測結果。
2.根據權利要求1所述的工業圖像缺陷檢測方法,其特征在于,構建分割網絡結構對得到的FPN特征進行監督,將圖像數據識別為前景與背景,對缺陷信息分割標注,再訓練檢測網絡。
3.根據權利要求2所述的的工業圖像缺陷檢測方法,其特征在于,所述步驟S5為:
S51.裁剪訓練過程中的網絡,略去分割網絡監督部分,保留剩余框架,生成網絡模型;
S52.加載訓練好模型的權重;
S53.加載待檢測的圖像與對應的模板圖像;
S54.將圖像輸入網絡得到缺陷二分類檢測結果。
4.根據權利要求2所述的工業圖像缺陷檢測方法,其特征在于,所述步驟S2為:
S21.拆分骨干網絡D2層特征之前的淺層網絡結構為孿生網絡結構,該孿生網絡接受兩組相同尺寸的圖像輸入,共享參數,并在輸出D2特征之后進行特征相減,得到兩組輸入的數據表示差異特征,隨后提取深層的骨干網絡不再使用孿生結構,恢復正常的特征提取的運行方式;
S22.使用S21中設計的孿生網絡結構提取差異信息特征,從骨干網絡深層特征提取層中提出D4、D8、D16、D32的特征。
5.根據權利要求4所述的工業圖像缺陷檢測方法,其特征在于,所述步驟S3為:
S31.將D32特征經過1×1卷積轉換成固定通道數量Cnum的特征FPN_D32;
S32.將FPN_D32最近鄰上采樣得到的特征與D16經過1×1卷積轉換成固定通道數量Cnum的特征求和得到FPN_D16;
S33.將FPN_D16最近鄰上采樣得到的特征與D8經過1×1卷積轉換成固定通道數量Cnum的特征求和得到FPN_D8;
S34.將FPN_D8最近鄰上采樣得到的特征與D4經過1×1卷積轉換成固定通道數量Cnum的特征求和得到FPN_D4;
S35.將FPN_D32特征經過步長為2的最大值池化操作得到FPN_D64特征。
6.根據權利要求5所述的工業圖像缺陷檢測方法,其特征在于,所述監督調整FPN特征的過程為:
S100.將FPN_D4-FPN_D64五組FPN特征使用2層卷積壓縮通道數為1,使用sigmoid函數激活:
S200.將待檢測圖像的分割標注分別變換到原圖D4-D64五種尺寸,生成五組bool矩陣作為標簽,訓練分割網絡,訓練的目標為:將缺陷部分預測為1,背景預測為0;損失函數使用二分類交叉熵BCE:
7.根據權利要求6所述的工業圖像缺陷檢測方法,其特征在于,所述步驟S4為:
S41.在FPN_D4–FPN_D64特征上訓練檢測網絡,使得網絡在多個尺度的特征上提取出缺陷部分的檢測框,使用缺陷的檢測框標注信息對網絡進行監督訓練;
S42.訓練時五組分割網絡的損失權重為Ws1-Ws5,檢測網絡的損失權重為Wd,整個網絡的訓練損失函數為:
其中:Lsi與Ld為分割與檢測網絡的損失函數。
8.根據權利要求1所述的工業圖像缺陷檢測方法,其特征在于,所述步驟S1中所述預處理過程為將圖像處理至統一尺寸,將對比度歸一化,矯正仿射變換參數。
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