[發(fā)明專(zhuān)利]一種基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的磁瓦表面缺陷檢測(cè)方法

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110480208.8
• 申請(qǐng)日: 2021-04-30
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN113177921A
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-07-27
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李澤輝;王華龍;楊海東
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 佛山市南海區(qū)廣工大數(shù)控裝備協(xié)同創(chuàng)新研究院
• 主分類(lèi)號(hào): G06T7/00
• 分類(lèi)號(hào): G06T7/00;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08;G01N21/88
• 代理公司: 廣州科沃園專(zhuān)利代理有限公司 44416
• 代理人: 馬盼

1.一種基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的磁瓦表面缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1、采集磁瓦表面圖像，將所述磁瓦表面圖像分為訓(xùn)練集和實(shí)驗(yàn)集；

S2、用訓(xùn)練集訓(xùn)練神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型得到神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型Ⅰ；

S3、在訓(xùn)練后的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型Ⅰ中添加特征融合模塊，得到神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型Ⅱ；

S4、在神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型Ⅱ中引入注意機(jī)制，得到神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)Ⅲ；

S5、用神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型Ⅲ檢測(cè)所述實(shí)驗(yàn)集，得到檢測(cè)結(jié)果，根據(jù)檢測(cè)結(jié)果判斷磁瓦表面是否存在缺陷。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的磁瓦表面缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，所述S1還包括：用旋轉(zhuǎn)圖像采集系統(tǒng)對(duì)M個(gè)磁瓦樣品表面從N個(gè)方向進(jìn)行圖像收集，每個(gè)磁瓦樣品得到N張圖像，M和N均為大于0的整數(shù)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的磁瓦表面缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，所述S2還包括：

S21、將所述訓(xùn)練集根據(jù)不同的采集方向進(jìn)行分類(lèi)，將同一采集方向的不同磁瓦樣品的圖像歸類(lèi)為一個(gè)流，共歸類(lèi)出G個(gè)流，所述G為大于0的整數(shù)，所述G與M相等；

S22、將每個(gè)流輸入至原始神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型，對(duì)所述原始神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型進(jìn)行預(yù)訓(xùn)練，得到預(yù)訓(xùn)練神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型；

S23、將預(yù)訓(xùn)練神經(jīng)網(wǎng)路模型的權(quán)值作為神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型的初始值，并對(duì)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型進(jìn)行訓(xùn)練，直至收斂得到神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型Ⅰ。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的磁瓦表面缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，所述步驟S23還包括：使用CBAM(卷積塊注意模塊)來(lái)抑制不需要的信息，使用下式來(lái)計(jì)算損失：

式中，m表示最小批量；k表示類(lèi)數(shù)；l{·}表示指示函數(shù)，其中，l{true}＝1,，l{false}＝0。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的磁瓦表面缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，所述S3還包括：使用連接算子進(jìn)行所述特征融合模塊與神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型Ⅰ的融合。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的磁瓦表面缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，所述連接算子為連接運(yùn)算符。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的磁瓦表面缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，所述注意機(jī)制為卷積層中的注意力模塊，所述卷積層中的注意力模塊包括通道注意模塊和空間注意模塊。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的磁瓦表面缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，所述原始神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型為卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型，所述神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型為融合特征卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型。