[發明專利]一種采用探頭測量孔徑的方法

有效

• 申請號: 202110479692.2
• 申請日: 2021-04-30
• 公開（公告）號: CN113340250B
• 公開（公告）日: 2022-03-15
• 發明（設計）人: 張云詔;李博;尹成;劉適;廖雙權;王鵬程
• 申請（專利權）人: 成都飛機工業（集團）有限責任公司
• 主分類號: G01B21/14
• 分類號: G01B21/14
• 代理公司: 成都天嘉專利事務所(普通合伙) 51211
• 代理人: 趙凱

1.一種采用探頭測量孔徑的方法，其特征在于，包括以下步驟：

a、對試件(1)的待測孔進行分類，將軸線分布于豎直方向及其周邊區域的孔劃分為A類孔，將軸線分布于水平方向及其周邊區域的孔劃分為B類孔；

b、A類孔測量，通過機床調用第一探頭(4)依次在兩個垂直于孔軸線的平面內測量孔直徑φ1和φ2，計算φ1和φ2的差值Δ，將Δ值和孔徑公差帶進行比較得出A類孔的直徑值；

c、B類孔測量，設置第二探頭(7)的測點遠離孔內壁的最低點，通過機床調用第二探頭(7)依次在兩個垂直于孔軸線的平面內測量孔直徑φ3和φ4，計算φ3和φ4的差值Δ，將Δ值和孔徑公差帶進行比較得出B類孔的直徑值；

所述步驟b中，將Δ值和孔徑公差帶進行比較得出A類孔的直徑值具體是指當Δ值小于預設值時，取φ1和φ2的平均值作為A類孔的直徑值；當Δ值大于預設值時，停止測量，待排除故障再重復計算φ1和φ2的差值Δ，將Δ值和孔徑公差帶進行比較，直至Δ值小于預設值；

所述步驟c中，將Δ值和孔徑公差帶進行比較得出B類孔的直徑值具體是指當Δ值小于預設值時，取φ3和φ4的平均值作為B類孔的直徑值；當Δ值大于預設值時，停止測量，待排除故障再重復計算φ3和φ4的差值Δ，將Δ值和孔徑公差帶進行比較，直至Δ值小于預設值。

2.根據權利要求1所述的一種采用探頭測量孔徑的方法，其特征在于：所述步驟a中，A類孔為盲孔(2)，B類孔為通孔(3)。

3.根據權利要求1所述的一種采用探頭測量孔徑的方法，其特征在于：所述步驟b中，兩個垂直于孔軸線的平面包括第一水平面(5)和第二水平面(6)，測量孔直徑φ1和φ2是指第一探頭(4)先在第一水平面(5)內測量盲孔(2)內壁的四個測點并得到直徑值φ1，第一探頭(4)再繼續伸入盲孔(2)，在第二水平面(6)內測量盲孔(2)內部的四個測點并得到直徑值φ2。

4.根據權利要求1所述的一種采用探頭測量孔徑的方法，其特征在于：所述步驟c中，兩個垂直于孔軸線的平面包括第一鉛垂面(8)和第二鉛垂面(9)，測量孔直徑φ3和φ4是指第二探頭(7)先在第一鉛垂面(8)內測量通孔(3)內壁的四個測點并得到直徑值φ3，第二探頭(7)繼續伸入通孔(3)，在第二鉛垂面(9)內測量通孔(3)內壁的四個測點并得到直徑值φ4。