[發明專利]用于減輕同相與正交失配的方法和裝置

在審

• 申請號: 202110479159.6
• 申請日: 2021-04-30
• 公開（公告）號: CN113676427A
• 公開（公告）日: 2021-11-19
• 發明（設計）人: 艾琳娜·納耶比;宋基逢;普拉那夫·達亞爾
• 申請（專利權）人: 三星電子株式會社
• 主分類號: H04L27/00
• 分類號: H04L27/00;H04B1/04;H04B1/16
• 代理公司: 北京銘碩知識產權代理有限公司 11286
• 代理人: 張軍;田方

1.一種針對同相I與正交Q失配補償器MC IQMC的至少一個IQMC參數優化至少一個IQMC參數值的方法，包括：

通過執行迭代方法直到達到退出條件來生成測試的IQMC候選參數值的集合，其中，所述迭代方法的至少一個迭代包括：

針對所述IQMC的所述至少一個IQMC參數選擇第一IQMC候選參數值；

使用第一IQMC候選參數值確定包括以下項中的至少一項的性能度量值：(i)鏡像抑制比IRR值、(ii)信干噪比SINR值或(iii)信號與鏡像比SImR值；以及

確定作為對第一IQMC候選參數值的更新的第二IQMC候選參數值，

其中，測試的IQMC候選參數值的集合至少包括第一IQMC候選參數值和第二IQMC候選參數值，以及

確定測試的IQMC候選參數值的集合中的使所述性能度量值優化的IQMC候選參數值。

2.如權利要求1所述的方法，其中，所述迭代方法是梯度上升方法或梯度下降方法，并且所述迭代方法還包括計算所述性能度量值的梯度。

3.如權利要求2所述的方法，其中，所述梯度上升方法或所述梯度下降方法使用作為所述至少一個IQMC參數的函數的代價函數。

4.如權利要求3所述的方法，其中，所述代價函數還是與直接或間接連接到所述IQMC的上變頻電路或下變頻電路相應的I與Q失配IQMM參數的函數。

5.如權利要求3所述的方法，其中，所述至少一個IQMC參數包括所述IQMC的濾波器的至少一個抽頭權重。

6.如權利要求5所述的方法，其中，所述IQMC包括：包含乘法器的實值RV IQMC，并且所述至少一個IQMC參數包括輸入到所述乘法器的實值交叉相乘因子。

7.如權利要求1所述的方法，其中，所述IQMC包括復值CV IQMC。

8.如權利要求1所述的方法，其中，所述IQMC包括實值RV IQMC。

9.如權利要求1所述的方法，其中，所述性能度量值包括所述IRR值，并且所述IRR值是所述IQMC的IRR值的集合中的最小IRR值，其中，所述IRR值的集合與不同頻率相應。

10.如權利要求1所述的方法，其中，所述性能度量值包括所述IRR值，并且所述IRR值是載波聚集CA方案中的每載波單元CC的IRR值的最小算術或幾何平均值。

11.一種被配置為針對同相I與正交Q失配補償器MC IQMC的至少一個IQMC參數優化至少一個IQMC參數值的裝置，包括：

處理器；以及

非暫時性處理器可執行介質，存儲當被處理器執行時使得處理器執行以下操作的指令：

通過執行迭代方法直到達到退出條件來生成測試的IQMC候選參數值的集合，其中，所述迭代方法的至少一個迭代包括：

針對所述IQMC的所述至少一個IQMC參數選擇第一IQMC候選參數值；

使用第一IQMC候選參數值來確定包括以下項中的至少一項的性能度量值：(i)鏡像抑制比IRR值、(ii)信干噪比SINR值或(iii)信號與鏡像比SImR值；以及

確定作為對第一IQMC候選參數值的更新的第二IQMC候選參數值，

其中，測試的IQMC候選參數值的集合至少包括第一IQMC候選參數值和第二IQMC候選參數值，以及

確定測試的IQMC候選參數值的集合中的使所述性能度量值優化的IQMC候選參數值。

12.如權利要求11所述的裝置，其中，所述迭代方法是梯度上升方法或梯度下降方法，并且所述迭代方法還包括計算所述性能度量值的梯度。

13.如權利要求12所述的裝置，其中，所述梯度上升方法或所述梯度下降方法使用作為所述至少一個IQMC參數的函數的代價函數。