[發明專利]有源像素電路、圖像傳感器和電子設備有效
| 申請號: | 202110476254.0 | 申請日: | 2021-04-29 |
| 公開(公告)號: | CN113206119B | 公開(公告)日: | 2023-04-18 |
| 發明(設計)人: | 周俊;孫鵬;楊道虹 | 申請(專利權)人: | 武漢新芯集成電路制造有限公司 |
| 主分類號: | H01L27/146 | 分類號: | H01L27/146;H04N25/70 |
| 代理公司: | 上海思微知識產權代理事務所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 田婷 |
| 地址: | 430205 湖北*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 有源 像素 電路 圖像傳感器 電子設備 | ||
1.一種有源像素電路,具有光電二極管以及至少三個MOS晶體管,至少一個所述MOS晶體管作為傳輸晶體管,至少另一個所述MOS晶體管作為復位晶體管,至少又一個MOS晶體管作為其它晶體管,所述傳輸晶體管連接所述光電二極管并用于傳輸所述光電二極管的光電信號,所述復位晶體管連接相應的所述傳輸晶體管用于輸出所述光電信號的一端,并用于對所述有源像素電路復位,其特征在于,各個所述傳輸晶體管的閾值電壓高于各個所述其它MOS晶體管的閾值電壓,各個所述傳輸晶體管工作電壓下的關態漏電流小于各個所述其它MOS晶體管工作電壓下的關態漏電流。
2.如權利要求1所述的有源像素電路,其特征在于,各個所述復位晶體管的閾值電壓高于各個所述其它MOS晶體管的閾值電壓,各個所述復位晶體管工作電壓下的關態漏電流小于各個所述其它MOS晶體管工作電壓下的關態漏電流;或者,各個所述復位晶體管的閾值電壓均小于各個所述傳輸晶體管的閾值電壓,各所述復位晶體管工作電壓下的關態漏電流大于各個所述傳輸晶體管工作電壓下的關態漏電流。
3.如權利要求1或2所述的有源像素電路,其特征在于,各個所述其它MOS晶體管中的至少一個作為源極跟隨晶體管,所述源極跟隨晶體管連接相應的所述傳輸晶體管用于輸出所述信號的一端,用于緩沖所述傳輸晶體管輸出的信號;或,各個所述其它MOS晶體管中的至少一個作為源極跟隨晶體管,所述源極跟隨晶體管連接相應的所述傳輸晶體管用于輸出所述信號的一端,各個所述其它MOS晶體管中的至少另一個作為行選擇晶體管,連接所述源極跟隨晶體管并使得所述源極跟隨晶體管輸出的信號被讀出。
4.如權利要求3所述的有源像素電路,其特征在于,所述傳輸晶體管、所述復位晶體管、所述源極跟隨晶體管和所述行選擇晶體管均為NMOS晶體管或者均為PMOS晶體管。
5.如權利要求3所述的有源像素電路,其特征在于,所述傳輸晶體管、所述復位晶體管、所述源極跟隨晶體管和所述行選擇晶體管的工作電壓均在1.62V~3.7V之間。
6.如權利要求1所述的有源像素電路,其特征在于,所述有源像素電路還包括浮置擴散區,所述浮置擴散區連接所述傳輸晶體管用于輸出信號的一端,并用于根據所述傳輸晶體管輸出的電荷量,感生出相應的電壓信號。
7.如權利要求1-6中任一項所述的有源像素電路,其特征在于,所述傳輸晶體管的閾值電壓介于0.4V~1.0V,和/或,各個所述其它MOS晶體管的閾值電壓介于0.2V~0.8V。
8.如權利要求1-6中任一項所述的有源像素電路,其特征在于,所述傳輸晶體管工作電壓下的關態漏電流為?0.1pA/μm?~0.1nA/μm;和/或,各個所述其它晶體管工作電壓下的關態漏電流均為1pA/μm?~100nA/μm。
9.一種圖像傳感器,其特征在于,包括像素陣列和控制電路,所述像素陣列包括至少一個如權利要求1-8中任一項所述的有源像素電路,所述控制電路連接各個所述有源像素電路中相應的MOS晶體管的柵端,以控制各個所述有源像素電路中相應的MOS晶體管的導通或截止。
10.一種電子設備,其特征在于,包括如權利要求9所述的圖像傳感器。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于武漢新芯集成電路制造有限公司,未經武漢新芯集成電路制造有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110476254.0/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內或其上形成的多個半導體或其他固態組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





