[發明專利]一種基于Revit平臺的建筑凈高云圖自動生成的方法及系統

有效

• 申請號: 202110472295.2
• 申請日: 2021-04-29
• 公開（公告）號: CN113255031B
• 公開（公告）日: 2022-08-05
• 發明（設計）人: 占瑜;汪德江
• 申請（專利權）人: 上海大學
• 主分類號: G06F30/13
• 分類號: G06F30/13
• 代理公司: 上海上大專利事務所(普通合伙) 31205
• 代理人: 何文欣

1.一種基于Revit平臺的建筑凈高云圖自動生成的方法，其特征在于，利用基于Revit平臺的建筑凈高云圖自動生成的系統，包括如下模塊：

用戶交互模塊：程序自動讀取BIM模型中所有樓層信息，并顯示在WPF窗體中，為用戶進行查看和選取方式；根據用戶需要，設置檢測的精度大小、最小凈高數值，對不同的項目模型選取精度，滿足不同的凈高要求；

凈高分析模塊：對于BIM模型，用戶在選擇樓層后，分析凈高時，計算機會在該樓層的樓板上布置等間距的測量點，測量點的間距由用戶輸入的精度來控制，這些測量點會向上發出一條射線，射線觸碰到上層樓板、梁、機電管線時會形成一個交點，計算這個交點和測量點的距離即為該處的凈高，記錄出所有測量點的凈高，即得到整個樓層的凈高數據，完成建筑的凈高數據的分析與獲取；

定位模塊：將用戶輸入的凈高和每處凈高對比，得到凈高不滿足要求的測量點，記錄出測量點的位置，并顯示在WPF窗體面板上，通過輸入裝置，直接定位出該處在平面視圖和三維視圖中的位置，用于進行后續更改；

凈高云圖出圖模塊：基于測量點，在BIM模型內批量生成體量，根據該處測量點的凈高來控制體量截面的填充顏色，通過剖面圖，得到內置凈高云圖；通過提取數據庫里面的點云信息，運用WPF+GDI畫圖工具，根據每個測量點的坐標繪制出矩形，用測量點處的凈高來控制矩形的填充顏色，得到外置凈高云圖，完成凈高云圖的自動生成；

所述基于Revit平臺的建筑凈高云圖自動生成的方法，操作步驟如下：

(1)前期操作設置：打開BIM模型，啟動BIM建筑凈高云圖自動生成程序，并設置檢測精度和凈高要求參數；

(2)用戶控制操作“選擇樓層”功能模塊，使程序自動獲取Revit項目中的樓層標高信息，根據用戶的選擇，來對某樓層進行分析；

(3)用戶控制操作“分析凈高”功能模塊，使程序對選擇的樓層進行分析，將各項數據信息顯示在交互面板上，同時也將各項信息儲存在數據庫中，得到點云數據信息；

(4)用戶控制操作“定位平面視圖”功能模塊，選擇信息面板中的一行，即可在平面視圖中進行定位；

(5)用戶控制操作“定位三維視圖”功能模塊，選擇信息面板中的一行，即可在三維視圖中進行定位；

(6)用戶控制操作“生成內置云圖”功能模塊，使程序在模型中每個測量點處生成體量，體量截面的填充顏色由該處凈高控制，通過剖面圖，得到內置凈高云圖；

(7)用戶控制操作“數據庫出圖”功能模塊，使程序讀取數據庫中的點云數據，通過WPF+GDI的畫圖工具，生成外置凈高云圖，從而完成建筑凈高云圖自動生成過程。

2.根據權利要求1所述基于Revit平臺的建筑凈高云圖自動生成的方法，其特征在于：在所述步驟(1)中，所啟動BIM建筑凈高云圖自動生成程序為基于RevitAPI二次開發程序和SQL Server數據庫程序進行開發的插件，并進行相關的參數設置。

3.一種實施權利要求1所述基于Revit平臺的建筑凈高云圖自動生成的方法的系統，其特征在于，包括如下模塊：

用戶交互模塊：程序自動讀取BIM模型中所有樓層信息，并顯示在WPF窗體中，為用戶進行查看和選取方式；根據用戶需要，設置檢測的精度大小、最小凈高數值，對不同的項目模型選取精度，滿足不同的凈高要求；

凈高分析模塊：對于BIM模型，用戶在選擇樓層后，分析凈高時，計算機會在該樓層的樓板上布置等間距的測量點，測量點的間距由用戶輸入的精度來控制，這些測量點會向上發出一條射線，射線觸碰到上層樓板、梁、機電管線時會形成一個交點，計算這個交點和測量點的距離即為該處的凈高，記錄出所有測量點的凈高，即得到整個樓層的凈高數據，完成建筑的凈高數據的分析與獲取；

定位模塊：將用戶輸入的凈高和每處凈高對比，得到凈高不滿足要求的測量點，記錄出測量點的位置，并顯示在WPF窗體面板上，通過輸入裝置，直接定位出該處在平面視圖和三維視圖中的位置，用于進行后續更改；

凈高云圖出圖模塊：基于測量點，在BIM模型內批量生成體量，根據該處測量點的凈高來控制體量截面的填充顏色，通過剖面圖，得到內置凈高云圖；通過提取數據庫里面的點云信息，運用WPF+GDI畫圖工具，根據每個測量點的坐標繪制出矩形，用測量點處的凈高來控制矩形的填充顏色，得到外置凈高云圖，完成凈高云圖的自動生成。