[發明專利]用于檢查技術系統的方法和設備

在審

• 申請號: 202110471055.0
• 申請日: 2021-04-29
• 公開（公告）號: CN113590456A
• 公開（公告）日: 2021-11-02
• 發明（設計）人: C·格拉迪施;D·塞勒-圖爾;J·孫斯;P·格拉瑟爾;T·赫因茲;尹智洙
• 申請（專利權）人: 羅伯特·博世有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 張濤;劉春元

1.一種用于檢查技術系統、特別是至少部分自主的機器人或車輛的方法（10），

其特征在于以下特征：

借助于所述系統的仿真（11）來執行測試（12），

在對所述系統的定量要求的滿足度量（13）和所述仿真（11）的誤差度量（14）方面對所述測試（12）進行評估，

根據滿足度量（13）和誤差度量（14）將所述測試（12）歸類（15）為可靠（16）或不可靠（17）。

2.根據權利要求1所述的方法（10），

其特征在于以下特征：

通過分類器（18）基于特征向量（13、14）進行所述歸類（15），以及

滿足度量（13）和誤差度量（14）形成所述特征向量（13、14）的組成部分。

3.根據權利要求2所述的方法（10），

其特征在于以下特征：

所述分類器（18）將所述特征向量（13、14）映射為多個類別（A，B，C，D）中的一個，以及

所述歸類（15）在所述類別（A，B，C，D）之間的預給定判定邊界（19）內進行。

4.根據權利要求3所述的方法（10），

其特征在于以下特征：

在準備階段（20）中通過在所述系統上的實驗測量（21）確認所述仿真（11），

所述判定邊界（19）被繪制為，使得一方面在所述仿真（11）中而另一方面在所述測量（21）中取得的滿足度量（13）盡可能小地偏離，以及

優選自動選擇（22）要在所述準備階段（20）中執行的其他測試（12）。

5.根據權利要求3所述的方法（10），

其特征在于以下特征：

通過求解（23）方程組來定義所述分類器（18），以及

所述方程組包括滿足度量（13）和誤差度量（14）的定義方程。

6.根據權利要求1至5中任一項所述的方法（10），

其特征在于以下特征：

所述評估以如下方式進行：如果所述系統滿足（24）所述要求，則所述滿足度量（13）為正，并且如果所述系統不滿足（25）所述要求，則所述滿足度量（13）為負。

7.根據權利要求1至6中任一項所述的方法（10），

其特征在于以下特征：

對于所述測試（12）的特定參數（26、27），將滿足度量（13）和誤差度量（14）分別表示在通過所述參數（26、27）展開的特征空間中，以及

在所述評估之后，在所述特征空間中對所述歸類（15）進行可視化（28）。

8.根據權利要求1至7中任一項所述的方法（10），其特征在于，自動改善所述系統的通過所述檢查識別的誤差。

9.一種計算機程序，其被設置為執行根據權利要求1至8中任一項所述的方法（10）。

10.一種機器可讀存儲介質，其上存儲有根據權利要求9所述的計算機程序。

11.一種設備（30），其被設置為執行根據權利要求1至8中任一項所述的方法（10）。