[發(fā)明專(zhuān)利]一種電容按鍵檢測(cè)芯片和電容按鍵鍵盤(pán)

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110469665.7
• 申請(qǐng)日: 2021-04-29
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN113114207A
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-07-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 譚曉強(qiáng);周?chē)?guó)瓊;李俊豐;郭斌;李亞;蔣仁杰
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 長(zhǎng)沙銳逸微電子有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): H03K17/96
• 分類(lèi)號(hào): H03K17/96
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

本發(fā)明提供了一種電容按鍵檢測(cè)芯片，該芯片可以將電容按鍵的電容值轉(zhuǎn)換成相應(yīng)的數(shù)字值，并且該芯片具有以?huà)呙桄湹姆绞郊?jí)聯(lián)擴(kuò)展的功能，可以方便的串行擴(kuò)展使用，并且該芯片集成了發(fā)光二極管驅(qū)動(dòng)，以上特征可以使該芯片應(yīng)用到電容按鍵鍵盤(pán)領(lǐng)域，開(kāi)發(fā)出高效可靠且低成本的電容按鍵鍵盤(pán)。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明專(zhuān)利涉及一種芯片，主要涉及一種電容按鍵檢測(cè)芯片。

背景技術(shù)

目前的鍵盤(pán)實(shí)現(xiàn)方式主要可以分為機(jī)械鍵盤(pán)，光學(xué)信號(hào)鍵盤(pán)，磁信號(hào)鍵盤(pán)和薄膜鍵盤(pán)。其中，機(jī)械鍵盤(pán)通過(guò)感應(yīng)金屬觸點(diǎn)連接通斷的方式判斷按鍵狀態(tài)；光學(xué)信號(hào)鍵盤(pán)通過(guò)檢測(cè)光路是否被阻斷的方式判斷按鍵狀態(tài)；磁信號(hào)鍵盤(pán)通過(guò)檢測(cè)磁信號(hào)強(qiáng)度是否達(dá)到觸發(fā)閾值判斷按鍵狀態(tài)；薄膜鍵盤(pán)通過(guò)檢測(cè)金屬觸點(diǎn)和導(dǎo)電材料的連接通斷判斷按鍵狀態(tài)。以上各種類(lèi)型鍵盤(pán)的按鍵檢測(cè)原理都會(huì)受到灰塵影響，特別是機(jī)械鍵盤(pán)和薄膜鍵盤(pán)，灰塵會(huì)直接影響他們的觸點(diǎn)導(dǎo)通特性；灰塵會(huì)影響光學(xué)信號(hào)鍵盤(pán)的光線(xiàn)強(qiáng)度，磁信號(hào)鍵盤(pán)也會(huì)受到具有導(dǎo)磁灰塵的影響。

電容按鍵鍵盤(pán)根據(jù)按鍵電容的大小表征按鍵的狀態(tài)，不會(huì)受到灰塵的影響，目前的電容按鍵鍵盤(pán)都是基于矩陣的布局和控制方式，這種布局和控制方式需要分區(qū)掃描，檢測(cè)速度較慢，并且在按鍵控制矩陣之外還要增加一個(gè)LED控制矩陣，用于實(shí)現(xiàn)鍵盤(pán)的燈效，導(dǎo)致鍵盤(pán)的布局非常復(fù)雜。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種電容按鍵檢測(cè)芯片，旨在解決電容按鍵鍵盤(pán)按鍵和RGB燈線(xiàn)路布局復(fù)雜并且成本高的問(wèn)題。

本發(fā)明實(shí)施例的第一方面提供了一種電容檢測(cè)芯片，所述電容按鍵檢測(cè)芯片包含電容檢測(cè)模塊，通信模塊和發(fā)光二極管驅(qū)動(dòng)模塊，所述電容按鍵檢測(cè)芯片可以以串聯(lián)連接的方式級(jí)聯(lián)擴(kuò)展使用；

所述電容檢測(cè)模塊，用于檢測(cè)電容按鍵的電容值，根據(jù)按鍵電容值的大小，轉(zhuǎn)換出對(duì)應(yīng)的數(shù)字值；

所述串行通信模塊，用于與前一級(jí)電容按鍵檢測(cè)芯片或主控制器通信以及與后一級(jí)電容按鍵檢測(cè)芯片或主控制器通信，將主控制器的控制信息發(fā)送給電容按鍵檢測(cè)芯片，并將電容檢測(cè)模塊轉(zhuǎn)換出的數(shù)字值或者芯片的狀態(tài)信息發(fā)送至主控制器；

所述發(fā)光二極管驅(qū)動(dòng)模塊，用于驅(qū)動(dòng)片外發(fā)光二極管；

在一個(gè)實(shí)施例中，所述電容按鍵檢測(cè)芯片引腳包含時(shí)鐘輸入引腳，時(shí)鐘輸出引腳，數(shù)據(jù)輸入引腳和數(shù)據(jù)輸出引腳，時(shí)鐘輸入引腳用于從主控芯片或者前一級(jí)電容按鍵檢測(cè)芯片處接收時(shí)鐘信號(hào)，時(shí)鐘輸出引腳用于將從主控芯片接收到的時(shí)鐘信號(hào)傳輸至下一級(jí)電容按鍵檢測(cè)芯片，數(shù)據(jù)輸入引腳用于接收從主控芯片或者前一級(jí)電容按鍵檢測(cè)芯片處接受數(shù)據(jù)信號(hào)，數(shù)據(jù)輸出引腳用于將數(shù)據(jù)信號(hào)發(fā)送至后一級(jí)電容按鍵檢測(cè)芯片或者主控制器。

在一個(gè)實(shí)施例中，所述電容按鍵檢測(cè)芯片的電源端用于為芯片提供供電電源電壓，所述電容按鍵檢測(cè)芯片的地端用于為芯片提供接地電壓。

在一個(gè)實(shí)施例中，所述電容按鍵檢測(cè)芯片的發(fā)光二極管驅(qū)動(dòng)模塊可以驅(qū)動(dòng)一個(gè)或多個(gè)發(fā)光二極管，也可以不驅(qū)動(dòng)發(fā)光二極管。

在一個(gè)實(shí)施例中，電容按鍵檢測(cè)芯片通過(guò)通信接口將電容檢測(cè)模塊轉(zhuǎn)換出的數(shù)字值發(fā)送到主控制器，主控制器將該數(shù)字值與設(shè)定的觸發(fā)閾值進(jìn)行比較，判斷按鍵是否被按下，不同按鍵的觸發(fā)閾值可以不同，每個(gè)按鍵的觸發(fā)閾值也可以任意設(shè)定。

本發(fā)明實(shí)施例的第二方面提供了一種電容按鍵鍵盤(pán)，鍵盤(pán)包含主控制器，一個(gè)或多個(gè)電容按鍵，一個(gè)或多個(gè)如上所述的電容按鍵檢測(cè)芯片。

附圖說(shuō)明

本發(fā)明上述的以及其他的特征、性質(zhì)和優(yōu)勢(shì)將通過(guò)下面附圖結(jié)合實(shí)施例的描述而變得更加明顯，在附圖中相同的附圖標(biāo)記始終表示相同的特征，其中：

圖1示出了本發(fā)明電容按鍵檢測(cè)芯片的系統(tǒng)框圖；

圖2示出了本發(fā)明電容按鍵檢測(cè)芯片的引腳示意圖；

圖3示出了本發(fā)明電容按鍵鍵盤(pán)的原理示意圖；

附圖標(biāo)記：

100，100_1，100_2，100_3——電容按鍵檢測(cè)芯片；