[發明專利]一種提高鐵磁共振線寬測試精度的平面傳輸線結構在審
| 申請號： | 202110467778.3 | 申請日： | 2021-04-28 |
| 公開（公告）號： | CN113203351A | 公開（公告）日： | 2021-08-03 |
| 發明（設計）人： | 張懷武;吳永銳;金立川;鐘智勇;白飛明 | 申請（專利權）人： | 電子科技大學 |
| 主分類號： | G01B7/02 | 分類號： | G01B7/02;H01P3/00;H01P3/08 |
| 代理公司： | 電子科技大學專利中心 51203 | 代理人： | 吳姍霖 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 國省代碼： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 提高 磁共振 測試 精度 平面 傳輸線 結構 | ||
1.一種提高鐵磁共振線寬測試精度的平面傳輸線結構，其特征在于，包括依次串聯的第一級標準特性阻抗接地共面波導、第一級非標準微帶線、中間級非標準特性阻抗接地共面波導、第二級非標準微帶線和第二級標準特性阻抗接地共面波導；第一級標準特性阻抗接地共面波導，第二級標準特性阻抗接地共面波導，和由第一級非標準微帶線、中間級非標準特性阻抗接地共面波導和第二級非標準微帶線串聯而成的傳輸線的特性阻抗均為50Ω；其中，中間級非標準特性阻抗接地共面波導的信號線寬度和槽間距均為工藝極限值。
2.根據權利要求1所述提高鐵磁共振線寬測試精度的平面傳輸線結構，其特征在于，所述第一級非標準微帶線和第二級非標準微帶線的長度均為四分之一中心頻率波長。
3.根據權利要求1所述提高鐵磁共振線寬測試精度的平面傳輸線結構，其特征在于，所述第一級非標準微帶線和第二級非標準微帶線的特性阻抗ZMICROSRIP均與中間級非標準特性阻抗接地共面波導的特性阻抗ZGCPW滿足：
其中，Z0為50Ω的標準特性阻抗。
4.根據權利要求1所述提高鐵磁共振線寬測試精度的平面傳輸線結構，其特征在于，所述工藝極限值為0.075～0.1mm。
5.根據權利要求1所述提高鐵磁共振線寬測試精度的平面傳輸線結構，其特征在于，所述第一級非標準微帶線和第二級非標準微帶線的信號線寬度均小于第一級標準特性阻抗接地共面波導、中間級非標準特性阻抗接地共面波導和第二級標準特性阻抗接地共面波導的信號線寬度與兩倍槽間距的和。
6.根據權利要求1所述提高鐵磁共振線寬測試精度的平面傳輸線結構，其特征在于，所述第一級標準特性阻抗接地共面波導、中間級非標準特性阻抗接地共面波導和第二級標準特性阻抗接地共面波導的頂部接地金屬帶的等距邊緣處通過金屬化通孔與傳輸線背部接地金屬帶連接。
7.根據權利要求1所述提高鐵磁共振線寬測試精度的平面傳輸線結構，其特征在于，所述第一級標準特性阻抗接地共面波導、第一級非標準微帶線、中間級非標準特性阻抗接地共面波導、第二級非標準微帶線和第二級標準特性阻抗接地共面波導的介質襯底相同，為低介質損耗角襯底，相對介電常數低于10。
8.根據權利要求1所述提高鐵磁共振線寬測試精度的平面傳輸線結構，其特征在于，所述第一級非標準微帶線和第二級非標準微帶線的結構相同。
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