[發明專利]一種低溫用密封圈的性能測試裝置、測試系統及測試方法

在審

• 申請號: 202110467356.6
• 申請日: 2021-04-28
• 公開（公告）號: CN113029552A
• 公開（公告）日: 2021-06-25
• 發明（設計）人: 由鑫;張佳;閆志強;高蓓
• 申請（專利權）人: 北京裕泰行新材料科技有限公司
• 主分類號: G01M13/005
• 分類號: G01M13/005;F16K5/06;F16K5/20
• 代理公司: 北京細軟智谷知識產權代理有限責任公司 11471
• 代理人: 張肖

1.一種低溫用密封圈的性能測試裝置，其特征在于，包括檢測裝置本體，所述檢測裝置本體上至少設有模擬第一待檢測球座間密封圈(4)使用狀態的第一安裝位置、模擬待檢測單向密封彈簧蓄能圈(2)使用狀態的第二安裝位置、模擬待檢測雙向密封彈簧蓄能圈(11)使用狀態的第三安裝位置及模擬第二待檢測球座間密封圈(14)使用狀態的第四安裝位置，且所述檢測裝置本體能夠使所述第一待檢測球座間密封圈(4)在所述第一安裝位置形成第一密封腔(27)、使所述待檢測單向密封彈簧蓄能圈(2)在所述第二安裝位置形成第二密封腔(23)、使所述待檢測雙向密封彈簧蓄能圈(11)在所述第三安裝位置形成第三密封腔(33)及使所述第二待檢測球座間密封圈(14)在所述第四安裝位置形成第四密封腔(25)，在所述檢測裝置本體上設有能夠向所述第一密封腔(27)內通氣的第二進壓口(22)、向所述第二密封腔(23)通氣的第一進壓口(20)、向所述第三密封腔(33)通氣的第三進壓口(30)、向所述第四密封腔(25)通氣的第四進壓口(32)、位于所述檢測裝置本體左側的第一檢漏進壓口(21)、位于所述檢測裝置本體右側的第二檢漏進壓口(31)和檢漏口(40)；

通過所述第一進壓口(20)向第二密封腔(23)內通氣并基于所述檢漏口(40)所檢測到的待檢測單向密封彈簧蓄能圈(2)的第一泄漏量Q3以判定待檢測單向密封彈簧蓄能圈(2)的性能；

通過所述第三進壓口(30)向所述第三密封腔(33)通氣并基于所述檢漏口(40)所檢測到的待檢測雙向密封彈簧蓄能圈(11)的第二泄漏量A3以判定待檢測雙向密封彈簧蓄能圈(11)的性能；

通過所述第一進壓口(20)、第二進壓口(22)和第一檢漏進壓口(21)同時向第一密封腔(27)和第二密封腔(23)通氣并根據所述檢漏口(40)所檢測到的待檢測單向密封彈簧蓄能圈(2)和第一待檢測球座間密封圈(4)的第一總泄漏量Q1，基于第一總泄漏量Q1與待檢測單向密封彈簧蓄能圈的第一分泄漏量Q2之差判定第一待檢測球座間密封圈(4)的性能；和

通過所述第三進壓口(30)、第四進壓口(32)和第二檢漏進壓口(31)同時向第三密封腔(33)和第四密封腔(25)通氣并根據所述檢漏口(40)所檢測到的待檢測雙向密封彈簧蓄能圈(11)和第二待檢測球座間密封圈(14)的第二總泄漏量A1，基于第二總泄漏量A1與待檢測雙向密封彈簧蓄能圈的第二分泄漏量A2之差判定第二待檢測球座間密封圈(14)的性能。

2.根據權利要求1所述的低溫用密封圈的性能測試裝置，其特征在于，所述檢測裝置本體包括閥體(6)、球體(5)、左閥座(7)、右閥座(15)、左蓋(8)、右蓋(13)、左盲板(9)和右盲板(16)，其中，所述球體(5)安裝于所述閥體(6)內部，所述左閥座(7)和所述右閥座(15)安裝于所述球體(5)的左右兩側，在所述左閥座(7)和所述右閥座(15)的內部分別設有用于在所述球體(5)與所述左閥座(7)之間形成第一密封腔(27)或在所述球體(5)與所述右閥座(15)之間形成第四密封腔(25)的隔板(26)，第一待檢測球座間密封圈(4)和第二待檢測球座間密封圈(14)分別安裝于所述球體(5)與左閥座(7)之間和所述球體(5)與右閥座(15)之間；所述左蓋(8)和所述右蓋(13)分別安裝于所述左閥座(7)和所述右閥座(15)的外側，所述左盲板(9)和所述右盲板(16)分別固定至所述左蓋(8)和所述右蓋(13)的外側，所述檢漏口(40)設置在所述閥體(6)上。

3.根據權利要求2所述的低溫用密封圈的性能測試裝置，其特征在于，所述第二進壓口(22)和所述第四進壓口(32)分別設置在所述左盲板(9)和所述右盲板(16)上，且所述第二進壓口(22)和所述第四進壓口(32)分別通過第一管道(10)和第二管道(17)與位于所述隔板(26)上的通孔(24)相連通，以便通過第二進壓口(22)或第四進壓口(32)分別向所述第一密封腔(27)和第四密封腔(25)內通氣。