[發明專利]一種顯示屏的校準方法及設備

有效

• 申請號: 202110464088.2
• 申請日: 2021-04-28
• 公開（公告）號: CN112885289B
• 公開（公告）日: 2021-08-24
• 發明（設計）人: 劉璐寧;鄭增強;馮曉帆;張勝森
• 申請（專利權）人: 武漢精測電子集團股份有限公司;武漢精立電子技術有限公司
• 主分類號: G09G3/20
• 分類號: G09G3/20;G09G5/10
• 代理公司: 武漢智權專利代理事務所(特殊普通合伙) 42225
• 代理人: 張凱

本發明公開了一種顯示屏的校準方法及設備，涉及大顯示屏的測量和校準領域，該方法包括以下步驟：測量參考顯示屏的視角特性，以建立視角與校正系數對應關系的視角校正模型；對目標顯示屏進行取像，獲得目標顯示屏的亮度和/或色度相關數據，并基于取像條件獲取相機各像元對應的視角；基于視角校正模型和各像元對應的視角，對目標顯示屏的亮度和/或色度相關數據進行視角校正，得到視角校正后的相關數據；基于視角校正后的相關數據得到目標顯示屏的亮度和/或色度數據。本發明中能消除顯示屏視角特性對取像數據精度的影響，且能降低對顯示屏分塊取像的成本和難度。

技術領域

本發明涉及大尺寸顯示屏的測量和校準領域，具體涉及一種顯示屏的校準方法及設備。

背景技術

隨著顯示技術的快速發展，顯示屏的應用已經不再局限于手機、平板、電腦等小面積屏，幾十甚至幾百平米的超大面積顯示屏已慢慢走入市場，用于室內展示、戶外廣告等等。

超大面積顯示屏通常由多個大單元屏拼接而成，而每個大單元屏又經多塊更小的單元屏拼接組成，每個單元屏均由各自的FPGA（Field Programmable Gate Array，現場可編程邏輯門陣列）獨立控制。由于超大面積顯示屏在使用時人眼工作距離較大，因此對缺陷檢測與補償的精度要求不如小面積屏高，但為保證整塊屏的質量和均勻性，仍需進行AOI（Automated Optical Inspection，自動光學檢測）、Demura（Mura缺陷補償的過程）等技術操作。顯示屏的視角特性是指顯示屏的亮度隨視角變化的特性，不同種類顯示屏的視角特性差異很大，如OLED（OrganicLight-Emitting Diode，有機發光二極管）、LCD（LiquidCrystal Display，液晶顯示器）屏的亮度隨視角的分布近似朗博分布，而miniLED、microLED卻因其獨特且復雜的像元結構有著與OLED、LCD截然不同的視角特性。當相機對面積較大的顯示屏取像時，使用較大屏占比取像，那么相機邊緣成像的視角將會很大，從相機視野中心至邊緣視角逐漸增大，取像數據受視角的影響也逐漸增大，那么相機取像數據除包含鏡頭導致的暗角影響外，還會受顯示屏視角特性影響額外導致一個衰減。雖然對相機常規取像的校準僅校正鏡頭導致的暗角即可，這部分已有成熟方法，但是對大面積顯示屏取像則需另外校準顯示屏的視角特性的影響。

另外，針對需要進行大尺寸需要進行分區域取像的顯示屏，通常是固定相機的取像條件，如相機的工作距離、聚焦程度、曝光時間、相機與顯示屏的相對位置等，要求相機對每個區域顯示屏的拍攝條件需嚴格一致，通過制作顯示屏的導軌來平移單元屏的方式實現對各單元屏的依次取像，取像后直接將各單元屏的取像數據拼接至一起得到相機拍攝整塊大屏的數據，而后進行Demura等處理。該方法要求相機對各單元屏取像條件嚴格一致，是為了便于將各單元屏的取像數據直接拼接，但實現成本很高且做到完全一致的難度較大，拼接精度受對各單元屏取像條件的一致性影響。對各單元屏取像條件不一致也會導致各單元屏的取像數據受視角特性的影響程度不一致，如果視角特性不做校正會嚴重影響顯示屏的亮度測量精度，進而影響后續Demura效果以及AOI檢測、色度亮度測量等精度。

發明內容

針對現有技術中存在的缺陷，本發明第一方面提供一種能消除顯示屏視角特性對取像數據精度的影響，且能降低對顯示屏分塊取像的成本和難度的顯示屏的校準方法。

為達到以上目的，本發明采取的技術方案是：

一種顯示屏的校準方法，該方法包括以下步驟：

測量參考顯示屏的視角特性，以建立視角與校正系數對應關系的視角校正模型；

對目標顯示屏進行取像，獲得目標顯示屏的亮度和/或色度相關數據，并基于取像條件獲取相機各像元對應的視角；

基于所述視角校正模型和所述各像元對應的視角，對所述目標顯示屏的亮度和/或色度相關數據進行視角校正，得到視角校正后的相關數據；

基于所述視角校正后的相關數據得到目標顯示屏的亮度和/或色度數據。