[發(fā)明專利]一種化學(xué)腐蝕法調(diào)節(jié)磁共振射頻線圈頻率的方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110463793.0 | 申請(qǐng)日: | 2021-04-27 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113203967B | 公開(公告)日: | 2023-07-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張松濤;邵志紅;張健軍;漆彥輝;鄧華瓊 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海辰光醫(yī)療科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R33/34 | 分類號(hào): | G01R33/34 |
| 代理公司: | 上海兆豐知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(有限合伙) 31241 | 代理人: | 盧艷民 |
| 地址: | 201707 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 化學(xué) 腐蝕 調(diào)節(jié) 磁共振 射頻 線圈 頻率 方法 | ||
1.一種化學(xué)腐蝕法調(diào)節(jié)磁共振射頻線圈頻率的方法,所述磁共振射頻線圈采用柔性印刷電路板制成,包括絕緣介質(zhì)層、位于絕緣介質(zhì)層的上表面的若干段頂層導(dǎo)體和位于絕緣介質(zhì)層的下表面的若干段底層導(dǎo)體,所述頂層導(dǎo)體和底層導(dǎo)體交錯(cuò)分布,相鄰的頂層導(dǎo)體和底層導(dǎo)體之間交疊,交疊的頂、底層導(dǎo)體與中間的絕緣介質(zhì)層一起形成柔性平面電容,所述頂層導(dǎo)體和底層導(dǎo)體均為覆銅層;其特征在于,所述化學(xué)腐蝕法調(diào)節(jié)磁共振射頻線圈頻率的方法,包括以下步驟:
S1,確定調(diào)節(jié)參數(shù),磁共振射頻線圈的諧振頻率f的計(jì)算公式為:
式(1)中,L為電感值;C為柔性平面電容的容值,柔性平面電容的容值C的計(jì)算公式為:
C=ε0*εr*A/d??(2)
式(2)中,ε0為真空介電常數(shù),εr為絕緣介質(zhì)層的相對(duì)介電常數(shù),A為頂層導(dǎo)體和底層導(dǎo)體的交疊面積,d為絕緣介質(zhì)層的厚度;
通過改變交疊面積A可以調(diào)節(jié)柔性平面電容的容值;
S2,在磁共振射頻線圈的柔性印刷電路板上,將需要調(diào)節(jié)容值的柔性平面電容的頂、底層導(dǎo)體的交疊面積A做的比實(shí)際需要的交疊面積A0大,預(yù)留一部分可調(diào)交疊面積B,可調(diào)交疊面積B的頂層導(dǎo)體或底層導(dǎo)體的外部不覆蓋聚酰亞胺保護(hù)膜,直接暴露在空氣中,且A-BA0;
S3,在進(jìn)行頻率調(diào)試之前,先使用網(wǎng)路分析儀測試一下磁共振射頻線圈的當(dāng)前諧振頻率f,柔性平面電容的交疊面積A大于實(shí)際需要的交疊面積A0,則當(dāng)前諧振頻率f低于預(yù)期的諧振頻率f0;如果當(dāng)前諧振頻率f高于預(yù)期的諧振頻率f0,則需要重新設(shè)計(jì)生產(chǎn)磁共振射頻線圈的柔性印刷電路板;
S4,在需要調(diào)試磁共振射頻線圈頻率的時(shí)候,先將柔性印刷線路板上的除待調(diào)試柔性平面電容外的暴露出來的覆銅層用薄聚酰亞胺膠帶覆蓋住,然后將待調(diào)試的柔性平面電容的可調(diào)交疊面積的覆銅層的一部分用薄聚酰亞胺膠帶覆蓋住,把可調(diào)交疊面積的覆銅層的另外一部分暴露出來,暴露出來的可調(diào)交疊面積的估算公式為:
式(3)中,ΔA為暴露出來的可調(diào)交疊面積的估算值,A為柔性平面電容的交疊面積,f為當(dāng)前諧振頻率;f0為預(yù)期的諧振頻率;
S5,然后將磁共振射頻線圈放置在銅腐蝕液中進(jìn)行腐蝕;待暴露出來的可調(diào)交疊面積上的覆銅層完全腐蝕掉后,從銅腐蝕液中取出磁共振射頻線圈,測試磁共振射頻線圈的當(dāng)前諧振頻率;
S6,如果當(dāng)前諧振頻率與預(yù)期的諧振頻率f0相符,則腐蝕調(diào)節(jié)頻率成功;如果磁共振射頻線圈的當(dāng)前諧振頻率低于預(yù)期的磁共振系統(tǒng)頻率f0,則重復(fù)步驟S4和S5,將余下的可調(diào)交疊面積的一部分再暴露出來并繼續(xù)腐蝕,直至磁共振射頻線圈的諧振頻率達(dá)到預(yù)期;如果磁共振射頻線圈的當(dāng)前諧振頻率高于預(yù)期的磁共振系統(tǒng)頻率f0,則腐蝕調(diào)節(jié)頻率失敗。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種化學(xué)腐蝕法調(diào)節(jié)磁共振射頻線圈頻率的方法,其特征在于,步驟S4中,暴露出來的可調(diào)交疊面積小于可調(diào)交疊面積的估算值ΔA。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種化學(xué)腐蝕法調(diào)節(jié)磁共振射頻線圈頻率的方法,其特征在于,步驟S6中,當(dāng)前諧振頻率等于f0±0.1MHz時(shí),判定當(dāng)前諧振頻率與預(yù)期的諧振頻率f0相符;當(dāng)前諧振頻率小于f0-0.1MHz時(shí),判定當(dāng)前諧振頻率低于預(yù)期的諧振頻率f0;當(dāng)前諧振頻率大于f0+0.1MHz時(shí),判定當(dāng)前諧振頻率高于預(yù)期的諧振頻率f0。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種化學(xué)腐蝕法調(diào)節(jié)磁共振射頻線圈頻率的方法,其特征在于,磁共振射頻線圈中有多個(gè)需要調(diào)節(jié)容值的柔性平面電容,針對(duì)每個(gè)需要調(diào)節(jié)容值的柔性平面電容,使用如權(quán)利要求1所述的方法,經(jīng)過多輪的反復(fù)腐蝕,直到每一個(gè)柔性平面電容都調(diào)節(jié)成功。
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